EBSD法による解析例の紹介

EBSD(電子線後方散乱回折:Electron Back Scattered Diffraction Pattern)法 ...

クロスビームFIBによる断面SEM観察

微細FIB断面加工と高精細なSEM観察...

FIB加工からSEM観察

超低加速電圧で超高分解能の観察が可能な走査型電子顕微鏡(SEM)に集束イオンビーム装置(FIB)を搭載した「リアルタイムイオン電子顕微鏡(CrossBeam FIB、XB-FIB)」により、ナノスケールの試料加工がリアルタイムで観察できます。...

角型Liイオン電池の構造解析

市販角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡および極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細構造の解析、元素分析が可能です。...

ULTRA55によるワイヤボンディング部観察

Alワイヤボンド部結晶粒SEM観察をご紹介します。...