XPS(ESCA)によるポリマー表面分析(PA PI)

XPSは無機物、金属のみならず、プラスチック(ポリマー)表面の分析も可能であり、その応用範囲は広範囲です。ポリアミド(PA)、ポリイミドド(PI)フィルム表面の結合状態分析により、その微妙な分子構造の差起因のスペクトル形状および結合エネルギーから、分子原子レベルの挙動、官能基種の把握が可能です。ナノレベル表面の劣化変質などの不具合解析に有効な分析手法です。...

X線光電子分光分析器による化学状態分析

XPS(X線光電子分光法,X-ray Photoelectron Spectroscopy)は極表面層 数nm領域の元素分析と化学状態の分析が可能です。...