アイテス　分析解析・信頼性評価受託サービス

電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。

異物分析

ご注文の流れ

装置一覧

≪News!≫

LEDの信頼性試験事例を掲載いたしました。(2012年5月掲載)
SEMによる実装基板の構造観察事例を掲載いたしました。(2012年4月掲載)
超音波顕微鏡観察の動画事例を掲載いたしました。(2012年4月掲載)
断面作成サービスを開始いたしました。
信頼性試験の一貫分析サービスを開始いたしました。
製品、部材、材料の信頼性試験後、状態が変化しないうちに分析解析を行います。(2012年3月掲載)
大幅値引きと短納期のSEM観察サービスを開始いたしました。
SEM観察写真(報告書、考察を含まず)を電子メールでお手元にお届けします。(2012年2月掲載)
信頼性試験　事例「熱衝撃試験(ホットオイル試験)」を掲載しました。(2012年2月掲載)
品質問題にご興味のある皆様　無料出張セミナーを行います。(2012年2月掲載)
信頼性試験　事例「銅ワイヤボンディングのX線透過観察」を掲載しました。(2012年2月掲載)
不良解析／故障解析　事例「SiCデバイスの裏面発光解析」を掲載しました。(2012年2月掲載)
不良解析／故障解析　事例「SEMによる三次元(３Ｄ)観察」を掲載しました。(2012年1月掲載)
不良解析／故障解析　事例「SEM複数の検出器を用いた観察例（In-Lens検出器）」を掲載しました。(2012年1月掲載)