低真空SEMによる化粧品の観察・元素分析

あらゆる分野にてSEM観察は重要な観察手段となっています。...

塗膜観察加工

自動車、携帯電話等の様々な製品で使用されている塗膜における、観察・分析手法をご紹介します。...

ミクロトームによる平面傾斜切削サービス

ミクロトームは断面を作製するだけではありません。 使い方次第では、平面切削が出来るのです! 以下に、ミクロトームで平面切削した例をご紹介します。 ミクロトーム装置写真 <装置仕様> ウルトラミクロトーム:RMC-Boec...

素材の熱膨張率(TMA)測定サービス

複数の材料を使用した製品では、使用環境、特に温度変化により素材熱特性の差起因の不具合を発生します。その中で熱膨張率の違いは、異種材界面の剥離やクラック等の不具合を引き起こします。研究、開発、製造プロセスにおいて、素材単体...

ヘッドスペース法 GC/MS分析

残留有機溶剤・低分子物質の分析に最も用いられる分析方法は、ヘッドスペース法GC/MS分析です。...

微小異物のGCMS分析

アイテスでは微小異物(有機物)の分析方法をご提案します。...

冷熱衝撃試験、断面研磨による異種材料界面観察

単一素材では問題にならなかった熱サイクルによる異種素材間の密着不良、および界面剥離は、複合素材で構成される製品にとっては致命的となる場合が多くあります。...

DSC(示差走査熱量測定)による熱分析・解析

各種材料の基礎研究や製品開発において、温度変化により材料の機能や効果が変化することもあるため、熱物性を明らかにすることは重要です。 また、製品の製造工程においても、材料の加工最適温度や複合材の最適ステップ温度を把握するこ...

クロマトグラフィーによる有機物定性・定量分析

クロマトグラフィーによる分析は分子間力の違いを利用した分析です。...

TOF-SIMSによる表面汚染・界面活性剤残渣の分析

シリコンウェハ、ガラス基板、プリント配線基板など洗浄工程を必要とする、さまざまな基板上の界面活性剤等の残渣あるいは目に見えない微量汚染物質の解析が可能です。...

微小異物分析のためのサンプリング技術

エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物は、いち早く分析することが要求されます。 アイテスは各種サンプリング技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。 多層膜中異物の特殊サンプリング技術 さらに強化されたマイ...

材料信頼性試験・分析トータル受託サービス

構成材料の信頼性試験、および材料分析は、製品開発やものづくりを行う上で重要なプロセスです。...

DMAによるガラス転移温度の測定

DMA (Dynamic Mechanical Analysis) とTMA(Thermal Mechanical Analysis) による測定例を示します。...

鉛筆硬度試験

塗装の塗膜の品質における機械的性質評価の代表的な試験項目として引っかき硬度(鉛筆法)があります。...

信頼性評価試験装置

エレクトロニクスの様々な分野で利用される有機材料の信頼性試験(温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス)をご提案します。...

イメージング FT-IRによる微小異物分析

特定波長の赤外線吸収スペクトルに対応した、分布イメージが取得できます。また、従来のFT-IR装置と比べ半分以下の微小異物まで分析可能となります。...