イオンクロマトグラフ分析の液晶製品不良への応用

液晶製品におけるイオンクロマトグラフ分析の応用

液晶製品の表示不良の中で、イオン性不純物に由来する問題を解明します。

  1. パネル焼付きの原因の1つにセル中のイオン性物質による汚染があります。
  2. 線欠陥は腐食性イオン物質によって配線の一部が断線して起こります。

特徴

  1. イオン性不純物の検出可能:液晶中のNaイオンは20ppm程度まで検出します。
  2. 濃縮法により感度向上:充分な抽出液量が確保できる場合はppbレベルまで検出します。
  3. 有機酸の検出:ギ酸、酢酸等のカルボン酸の検出も可能です。

液晶パネルの不具合に関わるイオン性不純物分析

    1. 検出下限検証実験の陽イオンのイオンクロマトグラム
      検証のため、標準的なイオン性の物質を添加した液を基板に塗布し、乾燥後、検出の可否を試みたものです。

 

      10ng/cm2程度のNa+まで検出可能です。

(a) 検出下限検証実験の陽イオンのイオンクロマトグラム

    1. 腐食を起こした液晶パネルの陰イオンのイオンクロマトグラム
      引出し配線の腐食により線欠陥を生じた液晶パネルの外周部から、F-、Cl-が検出されました。

 

      20ng/cm2程度のCl-まで検出可能です。

(b) 腐食を起こした液晶パネルの陰イオンのイオンクロマトグラム