AEC規格CDM試験

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD(静電気破壊)による破壊に対しての耐性を評価する、ESD/CDM試験サービスを提供いたします。 ☆車載向け電子部品規格:AEC-Q100-011の試験サービスを開始 AEC規格のField Induced CDM(FI-CDM)試験対応が可能です。 AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。

特徴

  • 各規格波形 JEDEC、JEITA、ESDA、EIAJ、AEC に対しユニット交換で対応します。
  • 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応します。
  • 印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。
  • ダイオード特性判定法による破壊判定対応可能です。(要相談)

装置概要

HED-C5000

  • 印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ
  • 最大1024ピンまで対応します。
  • プローブ移動精度 : 0.1mm
  • 印加ユニット : JEDEC、JEITA、ESDA、EIAJ、AEC
  • チャージ方法 :
    FI-CDM:電界誘導法
    D-CDM:直接チャージ法

ダイオード特性判定法による破壊判定例