In-Situ常時測定サービス

In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。
常時特性を測定しますので、故障発生を見落とすことがありません。

特徴

  • 信頼性試験の実施中、常時測定を行うため、正確な故障時間の把握が可能です。
  • 市場にて重大問題を引起す可能性のある、回復性不良を検出することが可能です。
  • 試料へのストレス印加状況、測定データがリアルタイムで確認できます。

サービスメニュー

In-Situ HAST/THB試験

高温高湿環境下の絶縁抵抗値の連続モニターを実施。
プリント基板、半導体パッケージ製品などのイオンマイグレーションなどの不良モードの検出が可能。
最大120チャネル測定


In-Situ THB試験システム

THB 抵抗値測定結果
In-Situ TC試験
温度サイクル環境下の微小抵抗値の連続モニターを実施。
プリント基板、半導体パッケージ製品などの半田接合部評価が可能。
最大120チャネル測定

In-Situ TC試験システム

TC 抵抗値測定結果
In-Situ EM試験

In-Situ EM試験システム

EM 抵抗値測定結果

常時測定データ動画(イオンマイグレーション評価)

  • 下の画像をクリックすると測定例を動画で見ることが出来ます。

観察・分析(光学観察・SEM観察・EDX解析)

  • 信頼性評価での不良発生モードの分析・解析も一貫してご対応いたします。
信頼性試験一貫分析サービス