故障解析/構造解析 故障の把握 / 確認から始まり、電気的な測定、故障箇所の絞込みを経て、故障箇所の物理解析を行い原因を明らかにして、工程にフィードバックする受託分析サービスです。 1.電気特性測定 パワーデバイスアナライザによる特性評価 マイクロプローバー、マニピュレータによる 電気的特性の測定 2.試料加工 発光解析のための半導体の裏面研磨 FIB(集束イオンビーム装置)を使用したTEM試料作製 3.OBIRCH/発光解析 パワー半導体の解析サービス ICの不良解析 SiCデバイスの裏面発光解析 パワーデバイスの故障解析 ◆カタログダウンロード イプロス特設サイトへとびます ご依頼について Flow of requests ご依頼の流れ ご相談から完了までの流れをご案内します。 お問合せ Contact us お問合せフォーム 営業担当から3営業日以内にご連絡いたします。 077 - 599 - 5020 受付時間:8:45~17:30(土日祝除く)