HAST、PCT

正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査します。(外観観察/開封観察/電気的特性測定/破壊・非破壊観察/信頼性試験/材料調査など。)...

MOSFET･IGBT等のパワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能です｡漏れ電流をモニタリングを行い､デバイスの劣化状況の推移が確認できます｡ 特徴 ・最大1000Vを印加してパワーデバイスの...

信頼性試験の間、試料は刻々と変化します。 どの時点でクラックが入ったのか、劣化の進行はどのように進んでいくのか、初期状態と どれくらい変化したか… 信頼性試験と組み合わせることで、対象物の変化を時系列かつ非破壊で評価いた...

受託試験　HAST(High Accelerated Stress Test)：高度加速寿命試験のご紹介です。 密封容器にて100℃以上の温度で湿度を掛けて、試料の耐湿評価やパッケージの気密性の評価などの目的で実施されます。...