TMA(熱機械測定)

熱機械測定(TMA)は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を変化させ、 試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度、などの情報が得られます。 ...

DMA(動的粘弾性測定)

DMA(動的機械測定)は高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と位相差から、弾性や粘性を 温度の関数として測定する分析です。ガラス転移、緩和など高分子の分子運動や分子構造に関わる情報を 得ることができます。 ...

化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム①

類似分子構造を有する異種材料は相溶性や特性の類似により複合製品の開発発展と拡大に期待が持てます。 しかし、一方で思わぬ落とし穴も…。PET、PENフィルムの線膨張率の違いとその差異を生むメカニズムを解明した事例をご紹介します。...

化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例

コーティング剤、複合膜構成素材、各種成形品等に使用されるスーパーエンプラポリアミドイミド(PAI)膜の変色原因を分析。反応機構により解明した事例をご紹介致します。...

XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析

通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 ...

顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析

顕微ラマン分光光度計によって得られるスペクトルから、ピークの半値幅の違いにより、微細な範囲で 樹脂材料の結晶化度を求めることができます。 ラマン分光法による樹脂材料の結晶化度分析 ラマンスペクトルの線...

顕微ラマンによる多層材料分析

共焦点光学系が採用されている顕微ラマン分光光度計で、顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を 変化させ、多層膜の表面から各層の材料分析が可能です。...

AFM(原子間力顕微鏡)

試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの構造解析を実現します。 ...

有機物のTOF-SIMS分析

TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が可能であり、 有機物の分析にも有効です。 有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。...

微量汚染物のTOF-SIMS分析

受託分析 TOF-SIMSのご紹介です。 TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です。 SEM-EDXでは検出できなかった微量汚染もTOF-SIMSなら検出できるかもしれません。...

DSC(示差走査熱量分析)

DSC(示差走査熱量分析)は試料の温度変化によって発生した基準物質との温度差から、 熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを観察する分析手法です。...

TG-DTA(熱重量示差熱分析)

熱重量示差熱分析は試料の温度を一定のプログラムによって変化させながら、試料の重量測定 (TG)と試料と基準物質の温度差の測定(示差熱測定)(DTA)を温度の関数として同時に 行う分析です。...

GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

受託分析 ヘッドスペース法GC/MS分析のご紹介です。残留有機溶剤・低分子物質の分析に最も用いられる分析方法です。...

XPS(ESCA)によるポリマー表面分析(PA PI)

受託分析 XPSのご紹介です。 無機物、金属のみならず、プラスチック(ポリマー)表面の分析も可能であり、その応用範囲は広範囲です。ポリアミド(PA)、ポリイミドド(PI)フィルム表面の結合状態分析により、その微妙な分子構造の差起因のスペクトル形状および結合エネルギーから、分子原子レベルの挙動、官能基種の把握が可能です。ナノレベル表面の劣化変質などの不具合解析に有効な分析手法です。...

IRラマン分析によるポリマーの分子構造解析

IRおよびラマンは、相補的に異物分析や素材の構造解析に利用されます。類似した分子構造を有するポリマー(フィルム)において、スペクトルには微妙な差が出ますが、弊社の受託分析では、微妙な分子構造の差も考察し高精度な結果をご提供いたします。...

低真空SEMによる化粧品の観察・元素分析

低真空SEMによる受託分析です。 あらゆる分野にて、SEM観察は重要な観察手段となっています。化粧品の観察を例に、低真空SEMの原理と利点をご紹介します。...

塗膜観察加工

自動車、携帯電話等の様々な製品で使用されている塗膜における、受託観察・分析手法をご紹介します。 平面傾斜切削した面は、FT-IR、TOF-SIMSの受託分析も可能です。...

塗膜観察加工

自動車、携帯電話等の様々な製品で使用されている塗膜における、受託観察・分析手法をご紹介します。 平面傾斜切削した面は、FT-IR、TOF-SIMSの受託分析も可能です。...

ミクロトームによる平面傾斜切削サービス

ミクロトームによる平面傾斜切削受託サービスです。 ミクロトームは断面を作製するだけではありません。使い方次第では、平面切削が出来るのです!ミクロトームで平面切削した例をご紹介します。...

ミクロトームによる平面傾斜切削サービス

ミクロトームによる平面傾斜切削受託サービスです。 ミクロトームは断面を作製するだけではありません。使い方次第では、平面切削が出来るのです!ミクロトームで平面切削した例をご紹介します。...

微小異物のGCMS分析

GC/MS分析の受託サービスです。 微小異物(有機物)の質量スペクトルから異物の構造解析を行います。...

冷熱衝撃試験、断面研磨による異種材料界面観察

受託試験 冷熱衝撃試験と断面研磨による異種材料界面観察の実施例です。 単一素材では問題にならなかった熱サイクルによる異種素材間の密着不良、および界面剥離は、複合素材で構成される製品にとっては致命的となる場合が多くあります。冷熱衝撃試験後、断面研磨観察を行い不良状態を確認しました。...

クロマトグラフィーによる有機物定性・定量分析

クロマトグラフィーによる受託分析のご紹介です。 有機物は、ヘテロ元素やハロゲン元素が組成に含まれている場合、電気陰性度の違いから生ずる極性により、分子間力(クーロン力)が発生します。極性を有しない有機物質にも小さな分子間力(ファンデルワールス力)を生じます。分子間力の違いを利用した分析です。...

TOF-SIMSによる界面活性剤残渣の分析

受託分析 TOF-SIMSのご紹介です。 シリコンウェハ、ガラス基板、プリント配線基板など洗浄工程を必要とする、さまざまな基板上の界面活性剤等の残渣あるいは目に見えない微量汚染物質の解析が可能です。...

微小異物分析のためのサンプリング技術

エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物は、いち早く分析することが要求されます。 アイテスの受託分析は、各種サンプリング技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。...

材料信頼性試験・分析トータル受託サービス

受託試験 材料信頼性試験と化学分析のトータル受託サービスのご紹介です。 構成材料の信頼性試験および材料分析は、製品開発やものづくりを行う上で重要なプロセスです。信頼性試験から化学分析まで、製品評価をご支援致します。...

信頼性評価試験装置

エレクトロニクスの様々な分野で利用される有機材料の信頼性試験(温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス)をご提案します。...

イメージング FT-IRによる微小異物分析

受託異物分析手法のご紹介です。特定波長の赤外線吸収スペクトルに対応した、分布イメージが取得できます。また、従来のFT-IR装置と比べ半分以下の微小異物まで分析可能となります。...