装置スペック

X線透視・CT検査装置

YXLON製　マルチフォーカス　Cheetah EVO を導入しました！電子部品、樹脂ゴム、ゴム部品、金属部品など、さまざまな用途に活用できます。...

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形状測定レーザマイクロスコープ（VK-X200)

形状測定レーザマイクロスコープ（VK-X200)を用いた受託分析です。 408nmレーザーを用いて観察、計測を行います。測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。...

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3次元寸法測定サービス

部品の3次元寸法測定受託サービスです。近年、ＩＳＯの定着に伴い帳票の整備を必要とし、部品の測定データはこの品質の向上に貢献しております。最新の測定技術を駆使する測定器と熟練した測定技術者から生まれた測定データは、多くのユーザから高い信頼を頂いております。 ...

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TOF-SIMSによる液晶パネル中の異物分析

TOF-SIMSによる液晶パネルの受託分析例です。液晶ディスプレイ内に見つかった異物の分析・測定結果から、有機系のフラグメント以外に、ナトリウム、カリウム、カルシウムが検出されました。これにより、人体に由来する異物の可能性が推測されました。 ...

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X線光電子分光分析器による化学状態分析

受託分析　XPS（X線光電子分光法,X-ray Photoelectron Spectroscopy)のご紹介です。極表面層数nm領域の元素分析と化学状態の分析を行います。また、イオンエッチングとの併用で深さ方向の分析も可能です。事例：Al表面酸化状態分析、銀メッキ表面の変色分析...

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高温試験 / 高温動作試験

受託試験　高温試験/高温動作試験のご紹介です。試料を高温条件下に晒し、耐熱性を評価するために実施されます。接合部界面部のボイド発生等の劣化評価にも有効です。他の試験の前処理（乾燥・脱湿処理）として実施される事も多くあります。...

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高度加速寿命試験

受託試験　HAST(High Accelerated Stress Test)：高度加速寿命試験のご紹介です。密封容器にて100℃以上の温度で湿度を掛けて、試料の耐湿評価やパッケージの気密性の評価などの目的で実施されます。...

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電気特性評価の適用例

受託試験　電気特性評価のご紹介です。高温/低温の温度状態でのI－V特性変動評価を行い、不良要因の推定及び次過程の評価・分析解析の選択より不具合メカニズムの解明へ進めます。...

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ラッチアップ試験受託サービス

受託試験　ラッチアップ試験のご紹介です。 CMOS　ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。...

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ホットオイル試験

受託試験　熱衝撃試験(ホットオイル試験)のご紹介です。プリント基板のスルーホール(PTH)やビア(Via)等の内層接続部や導体密着性の信頼性評価を、気相式の冷熱衝撃試験よりも短期間で実施する手法の一つです。...

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超音波顕微鏡　Scanning Acoustic Microscope (SAM)

受託試験　超音波顕微鏡　Scanning Acoustic Microscope (SAM)観察のご紹介です。非破壊観察を実施します。半導体パッケージ、基板、電子部品等の接合部及び材料の内部及び密着性状態の不具合の検出が可能です。...

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微小硬度計による材料の評価事例

微小硬度計による材料の評価受託例です。 3μm厚に調整した4種類の高分子膜の機械的特性を比較するため、微小硬度計による、荷重/侵入深さ曲線を測定しました。この結果を基に、荷重/回復率を求めたところ、塑性変形の違いが明確になりました。薄い試料（μmレベル）、小さい領域（数十μmΦ）での測定が可能です。...

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