装置スペック
形状測定レーザマイクロスコープ（VK-X200)
形状測定レーザマイクロスコープ（VK-X200)を用いた受託分析です。
408nmレーザーを用いて観察、計測を行います。測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。...
3次元寸法測定サービス
部品の3次元寸法測定受託サービスです。
近年、ＩＳＯの定着に伴い帳票の整備を必要とし、部品の測定データはこの品質の向上に貢献しております。
最新の測定技術を駆使する測定器と熟練した測定技術者から生まれた測定データは、多くのユーザから高い信頼を頂いております。 ...
TOF-SIMSによる液晶パネル中の異物分析
TOF-SIMSによる液晶パネルの受託分析例です。
液晶ディスプレイ内に見つかった異物の分析 ・測定結果から、有機系のフラグメント以外に、ナトリウム、カリウム、カルシウムが検出されました。これにより、 人体に由来する異物の可能性が推測されました。 ...
X線光電子分光分析器による化学状態分析
受託分析 XPS（X線光電子分光法,X-ray Photoelectron Spectroscopy)のご紹介です。
極表面層 数nm領域の元素分析と化学状態の分析を行います。また、イオンエッチングとの併用で深さ方向の分析も可能です。
事例：Al表面酸化状態分析、銀メッキ表面の変色分析...
高温試験 / 高温動作試験
受託試験 高温試験/高温動作試験のご紹介です。
試料を高温条件下に晒し、耐熱性を評価するために実施されます。接合部界面部のボイド発生等の劣化評価にも有効です。
他の試験の前処理（乾燥・脱湿処理）として実施される事も多くあります。...
電気特性評価の適用例
I-V特性測定結果 測定結果より不良モードの判別を行うことが出来ます 温度特性評価 高温/低温の温度状態でのI－V特性変動評価 不良要因の推定及び次過程の評価・分析解析の選択より不具合メカニズムの解明へ進めます I－V特...
ラッチアップ試験受託サービス
受託試験 ラッチアップ試験のご紹介です。
CMOS ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。...
超音波顕微鏡 Scanning Acoustic Microscope (SAM)
半導体パッケージ、基板、電子部品等の接合部及び材料の内部及び密着性状態の不具合の検出に大変威力を発揮する装置です。観察は非破壊にて実施が可能です。...
微小硬度計による材料の評価事例
微小硬度計による材料の評価受託例です。
3μm厚に調整した4種類の高分子膜の機械的特性を比較するため、微小硬度計による、荷重/侵入深さ曲線を測定しました。この結果を基に、荷重/回復率を求めたところ、塑性変形の違いが明確になりました。
薄い試料（μmレベル）、小さい領域（数十μmΦ）での測定が可能です。...
超低温恒温恒湿試験器 《 -70℃ 》
受託試験 超低温恒温恒湿試験のご紹介です。
「-70℃」の低温での試験が可能です。また、一定の温度・湿度の条件での試験実施及び恒温恒湿試験器は温湿度を制御する事が出来る為、プログラム運転での温湿度サイクル試験も対応ができます。...
波長分散型X線分光法(EPMA)による電子部品の元素分析
波長分散型X線分光法(EPMA)による電子部品の元素分析受託サービスです。
波長分散型X線分光器 WDS はエネルギー分散型X線分光法 EDSでは分離できない スペクトル上の近接元素を分離することができ、定量精度も向上します。...
AEC規格CDM試験
受託試験 AEC規格CDM試験のご紹介です。
デバイス帯電モデル（Charged Device Model）のESD（静電気破壊）による破壊に対しての耐性を評価いたします。...
ESD（HBM・MM）試験受託サービス
受託試験 ESD（HBM・MM）試験のご紹介です。
半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD（静電気破壊)に対する耐性を評価します。...
恒温恒湿試験/恒温恒湿バイアス試験
受託試験 恒温恒湿試験のご紹介です。
試料が、恒温/恒湿条件下に晒された場合の耐湿性の評価等に有効です。
恒温恒湿バイアス試験は、イオンマイグレーション評価等のために実施されます。...
電子部品のX線透過観察事例
電子部品・実装部品等の不具合解析は、X線での非破壊観察を行うことが基本です。多くの場合、およその不具合状況を把握することが可能です。...
分析対象
半導体
はんだ
実装基板等
電子部品
LCD
LED
OLED
Liイオン電池
太陽電池
フィルム
材料
装置スペック