「パワー半導体の解析サービス」を掲載しました

Posted on 2020年11月30日 by analyze_staff

「顕微ラマンによる金属腐食の分析」を掲載しました

Posted on 2020年11月10日 by analyze_staff

『第40回ナノテスティングシンポジウム』にて講演予定

Posted on 2020年11月6日 by WPCs102423253

2020年11月に開催されます、第40回ナノテスティングシンポジウムにて、コマーシャルセッションおよび商業展示プログラムに参加いたします。 設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テスト装置分野の研究…

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「パワーデバイスのHAST試験」を掲載しました

Posted on 2020年10月30日 by analyze_staff

微小硬度計による材料の評価　を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff

ウィスカ評価　を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff

EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞り込み　を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff

短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析　を更新しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff

TOF-SIMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff

化学反応機構研究所　異種材料界面剥離メカニズム①　を掲載しました

Posted on 2020年9月8日 by analyze_staff

化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例　を掲載しました

Posted on 2020年9月8日 by analyze_staff

「SiCデバイスの裏面発光解析」を更新しました

Posted on 2020年8月31日 by analyze_staff

「FIB断面でのLV-SEMとEBIC法による拡散層の観察」を更新しました

Posted on 2020年8月28日 by analyze_staff

「FIB-SEMによる半導体の拡散層観察」を掲載しました

Posted on 2020年8月28日 by analyze_staff

ICの不良解析 を掲載しました

Posted on 2020年8月4日 by analyze_staff

信頼性試験に伴う経時変化観察 を掲載しました

Posted on 2020年7月6日 by analyze_staff

XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 を掲載しました

Posted on 2020年7月6日 by analyze_staff

顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析 を掲載しました

Posted on 2020年6月26日 by analyze_staff

ワイヤーソーによる切断加工 を掲載しました

Posted on 2020年6月22日 by analyze_staff

断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋) を掲載しました

Posted on 2020年6月22日 by analyze_staff

化学反応機構研究所 を 開設しました！

Posted on 2020年6月9日 by analyze_staff

顕微ラマンによる多層材料分析 を掲載しました

Posted on 2020年6月2日 by analyze_staff

液晶成分のGCMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年5月29日 by analyze_staff

AFM（原子間力顕微鏡） を掲載しました

Posted on 2020年5月26日 by analyze_staff

有機物のTOF-SIMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年5月26日 by analyze_staff

微量汚染物のTOF-SIMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年5月26日 by analyze_staff

熱分析（DMA・DSC・TMA・TG-DTA）を掲載しました

Posted on 2020年5月25日 by analyze_staff

技術サービス資料「液晶材料とその分析技術」を掲載しました

Posted on 2020年4月17日 by analyze_staff

X線透過・CT検査装置 事例を追加しました

Posted on 2020年3月31日 by analyze_staff

技術サービス資料「半導体パッケージにおけるCuﾜｲﾔﾎﾞﾝﾃﾞｨﾝｸﾞの接合界面について」を掲載しました

Posted on 2020年1月31日 by analyze_staff

技術論文「半導体パッケージにおけるCuﾜｲﾔﾎﾞﾝﾃﾞｨﾝｸﾞの接合界面について」を掲載しました

Posted on 2019年12月26日 by analyze_staff

先進パワー半導体分科会　第6回講演会　に発表・参加してきました！

Posted on 2019年12月13日 by WPCs102423253

先進パワー半導体分科会　第6回講演会　にて発表・参加してきました。 2019年12月3日(火)〜4日(水)　　於：広島国際会議場 パワー半導体の結晶成長、基礎物性評価、プロセス技術、デバイス、機器応用…

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第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム　に出展しました！

Posted on 2019年12月1日 by WPCs102423253

第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム　に出展してきました。 2019年11月19日(火)～21日(木)　　於：アクトシティ浜松 本シンポジウムはセンサ・マイクロマシン技術のさら…

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第39回ナノテスティングシンポジウム　に今年も参加してきました！

Posted on 2019年12月1日 by WPCs102423253

第39回ナノテスティングシンポジウム　に今年も参加してきました。 2019年11月18日(月)〜19日(火)　　於：国際ファッションセンター ナノテスティングシンポジウム（旧名称　LSIテスティングシ…

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X線透過・CT検査装置 事例(動画)を追加しました

Posted on 2019年10月23日 by analyze_staff

装置一覧を更新しました

Posted on 2019年10月22日 by analyze_staff

X線透過・CT検査装置 事例を追加しました

Posted on 2019年10月2日 by analyze_staff

世界最大のSiC関連国際学会、通称　ICSCRM　チュートリアルセッション　に出展します

Posted on 2019年9月20日 by WPCs102423253

　International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019　”Tutorial Day” 　(通称　ICS…

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X線透過・CT検査装置 観察事例を追加しました

Posted on 2019年9月2日 by analyze_staff

YXLON製 マルチフォーカス　Cheetah EVOを導入しました

Posted on 2019年8月23日 by analyze_staff

島津製作所社製 GC-MS 最新装置を導入しました

Posted on 2019年7月1日 by analyze_staff

資料「sMIMによる拡散層観察」を更新しました

Posted on 2019年6月14日 by analyze_staff

先進パワー半導体分科会　第14回研究会　併催展示会に出展しました

Posted on 2019年5月22日 by WPCs102423253

　先進パワー半導体分科会　第14回研究会　の併催展示会(2019年5月20日－21日、於：横浜情報文化センター)に出展いたしました。 　今回は若手～中堅者対象のセミナーや最先端研究開発の動向が紹介され…

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技術論文「太陽電池の不具合と解析事例」を掲載しました。

Posted on 2019年2月8日 by analyze_staff

資料「信頼性のトータルサポートサービス」を掲載しました

Posted on 2018年11月22日 by analyze_staff

資料「断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス」を掲載しました

Posted on 2018年10月26日 by analyze_staff

資料「液晶パネルの不良解析」を掲載しました

Posted on 2018年10月11日 by analyze_staff

資料「表面分析のご紹介」を掲載しました

Posted on 2018年10月5日 by analyze_staff

資料「アイテス技術の底力［高分子材料分析編］」を掲載しました

Posted on 2018年9月3日 by analyze_staff

事例「sMIMによる半導体拡散層の解析」を掲載しました

Posted on 2018年8月24日 by analyze_staff