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「実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)」を更新しました

Posted on 2021年1月19日 by analyze_staff2
Posted in 分析解析・信頼性評価

「銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析」を掲載しました

Posted on 2021年1月18日 by analyze_staff2
Posted in 分析解析・信頼性評価

「樹脂材料(半導体/LED用途)の分析」を掲載しました

Posted on 2021年1月15日 by analyze_staff2
Posted in 分析解析・信頼性評価

「化学反応機構研究所 材料劣化解析(PETの分解・劣化)」を掲載しました

Posted on 2021年1月15日 by analyze_staff2
Posted in 分析解析・信頼性評価, 化学反応機構研究所

「有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか?-フタル酸エステル類の1H-NMR分析編」を掲載しました

Posted on 2021年1月15日 by analyze_staff2
Posted in 分析解析・信頼性評価

「フタル酸エステル類の1H NMR分析」を掲載しました

Posted on 2021年1月13日 by analyze_staff2
Posted in 分析解析・信頼性評価

「超微小硬度計による負荷除荷モード&カラーフィルター測定例」を掲載しました

Posted on 2020年12月25日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

「高温ラッチアップ試験」を掲載しました

Posted on 2020年12月24日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

「反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析」を掲載しました

Posted on 2020年12月24日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

「パワー半導体の解析サービス」を掲載しました

Posted on 2020年11月30日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

「顕微ラマンによる金属腐食の分析」を掲載しました

Posted on 2020年11月10日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

『第40回ナノテスティングシンポジウム』にて講演予定

Posted on 2020年11月6日 by WPCs102423253

2020年11月に開催されます、第40回ナノテスティングシンポジウムにて、コマーシャルセッションおよび商業展示プログラムに参加いたします。 設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テスト装置分野の研究…

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Posted in 分析解析・信頼性評価

「パワーデバイスのHAST試験」を掲載しました

Posted on 2020年10月30日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

微小硬度計による材料の評価 を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

ウィスカ評価 を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞り込み を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析 を更新しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

TOF-SIMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年9月14日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム① を掲載しました

Posted on 2020年9月8日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価, 化学反応機構研究所

化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例 を掲載しました

Posted on 2020年9月8日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価, 化学反応機構研究所

「SiCデバイスの裏面発光解析」を更新しました

Posted on 2020年8月31日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

「FIB断面でのLV-SEMとEBIC法による拡散層の観察」を更新しました

Posted on 2020年8月28日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

「FIB-SEMによる半導体の拡散層観察」を掲載しました

Posted on 2020年8月28日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

ICの不良解析 を掲載しました

Posted on 2020年8月4日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

信頼性試験に伴う経時変化観察 を掲載しました

Posted on 2020年7月6日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 を掲載しました

Posted on 2020年7月6日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析 を掲載しました

Posted on 2020年6月26日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

ワイヤーソーによる切断加工 を掲載しました

Posted on 2020年6月22日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋) を掲載しました

Posted on 2020年6月22日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

化学反応機構研究所 を 開設しました!

Posted on 2020年6月9日 by analyze_staff
Posted in 化学反応機構研究所

顕微ラマンによる多層材料分析 を掲載しました

Posted on 2020年6月2日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

液晶成分のGCMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年5月29日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

AFM(原子間力顕微鏡) を掲載しました

Posted on 2020年5月26日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

有機物のTOF-SIMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年5月26日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

微量汚染物のTOF-SIMS分析 を掲載しました

Posted on 2020年5月26日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

熱分析(DMA・DSC・TMA・TG-DTA)を掲載しました

Posted on 2020年5月25日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

技術サービス資料「液晶材料とその分析技術」を掲載しました

Posted on 2020年4月17日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価, 技術資料

X線透過・CT検査装置 事例を追加しました

Posted on 2020年3月31日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

技術サービス資料「半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの接合界面について」を掲載しました

Posted on 2020年1月31日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価, 技術資料

技術論文「半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの接合界面について」を掲載しました

Posted on 2019年12月26日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価, 技術資料

先進パワー半導体分科会 第6回講演会 に発表・参加してきました!

Posted on 2019年12月13日 by WPCs102423253

先進パワー半導体分科会 第6回講演会 にて発表・参加してきました。 2019年12月3日(火)〜4日(水)  於:広島国際会議場 パワー半導体の結晶成長、基礎物性評価、プロセス技術、デバイス、機器応用…

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Posted in 分析解析・信頼性評価

第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム に出展しました!

Posted on 2019年12月1日 by WPCs102423253

第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム に出展してきました。 2019年11月19日(火)~21日(木)  於:アクトシティ浜松 本シンポジウムはセンサ・マイクロマシン技術のさら…

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Posted in 分析解析・信頼性評価

第39回ナノテスティングシンポジウム に今年も参加してきました!

Posted on 2019年12月1日 by WPCs102423253

第39回ナノテスティングシンポジウム に今年も参加してきました。 2019年11月18日(月)〜19日(火)  於:国際ファッションセンター ナノテスティングシンポジウム(旧名称 LSIテスティングシ…

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Posted in 分析解析・信頼性評価

X線透過・CT検査装置 事例(動画)を追加しました

Posted on 2019年10月23日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

装置一覧を更新しました

Posted on 2019年10月22日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価, 最新情報

X線透過・CT検査装置 事例を追加しました

Posted on 2019年10月2日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

世界最大のSiC関連国際学会、通称 ICSCRM チュートリアルセッション に出展します

Posted on 2019年9月20日 by WPCs102423253

 International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 ”Tutorial Day”  (通称 ICS…

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Posted in 分析解析・信頼性評価 Tagged ICSCRM

X線透過・CT検査装置 観察事例を追加しました

Posted on 2019年9月2日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

YXLON製 マルチフォーカス Cheetah EVOを導入しました

Posted on 2019年8月23日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価

島津製作所社製 GC-MS 最新装置を導入しました

Posted on 2019年7月1日 by analyze_staff
Posted in 分析解析・信頼性評価
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CONTENTS
  • 分析解析・信頼性評価サービス ・化学反応機構研究所
  • 故障解析、構造解析
    • 電気特性測定
    • 試料加工
    • OBIRCH/発光解析
    • FIBSEM/TEM
    • 拡散層観察
    • その他
  • 断面研磨・加工・観察・分析
    • 断面研磨・断面加工・平面加工
    • 表面観察・断面観察
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