2020年11月に開催されます、第40回ナノテスティングシンポジウムにて、コマーシャルセッションおよび商業展示プログラムに参加いたします。 設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テスト装置分野の研究…
「銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析」を掲載しました
「樹脂材料(半導体/LED用途)の分析」を掲載しました
「化学反応機構研究所 材料劣化解析(PETの分解・劣化)」を掲載しました
「有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか?-フタル酸エステル類の1H-NMR分析編」を掲載しました
「フタル酸エステル類の1H NMR分析」を掲載しました
「超微小硬度計による負荷除荷モード&カラーフィルター測定例」を掲載しました
「高温ラッチアップ試験」を掲載しました
「反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析」を掲載しました
「パワー半導体の解析サービス」を掲載しました
「顕微ラマンによる金属腐食の分析」を掲載しました
『第40回ナノテスティングシンポジウム』にて講演予定
「パワーデバイスのHAST試験」を掲載しました
微小硬度計による材料の評価 を掲載しました
ウィスカ評価 を掲載しました
EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞り込み を掲載しました
短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析 を更新しました
TOF-SIMS分析 を掲載しました
化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム① を掲載しました
化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例 を掲載しました
「SiCデバイスの裏面発光解析」を更新しました
「FIB断面でのLV-SEMとEBIC法による拡散層の観察」を更新しました
「FIB-SEMによる半導体の拡散層観察」を掲載しました
ICの不良解析 を掲載しました
信頼性試験に伴う経時変化観察 を掲載しました
XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 を掲載しました
顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析 を掲載しました
ワイヤーソーによる切断加工 を掲載しました
断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋) を掲載しました
化学反応機構研究所 を 開設しました!
顕微ラマンによる多層材料分析 を掲載しました
液晶成分のGCMS分析 を掲載しました
AFM(原子間力顕微鏡) を掲載しました
有機物のTOF-SIMS分析 を掲載しました
微量汚染物のTOF-SIMS分析 を掲載しました
熱分析(DMA・DSC・TMA・TG-DTA)を掲載しました
技術サービス資料「液晶材料とその分析技術」を掲載しました
X線透過・CT検査装置 事例を追加しました
技術サービス資料「半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの接合界面について」を掲載しました
技術論文「半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの接合界面について」を掲載しました
先進パワー半導体分科会 第6回講演会 に発表・参加してきました!
先進パワー半導体分科会 第6回講演会 にて発表・参加してきました。 2019年12月3日(火)〜4日(水) 於:広島国際会議場 パワー半導体の結晶成長、基礎物性評価、プロセス技術、デバイス、機器応用…
第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム に出展しました!
第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム に出展してきました。 2019年11月19日(火)~21日(木) 於:アクトシティ浜松 本シンポジウムはセンサ・マイクロマシン技術のさら…
第39回ナノテスティングシンポジウム に今年も参加してきました!
第39回ナノテスティングシンポジウム に今年も参加してきました。 2019年11月18日(月)〜19日(火) 於:国際ファッションセンター ナノテスティングシンポジウム(旧名称 LSIテスティングシ…
X線透過・CT検査装置 事例(動画)を追加しました
装置一覧を更新しました
X線透過・CT検査装置 事例を追加しました
世界最大のSiC関連国際学会、通称 ICSCRM チュートリアルセッション に出展します
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 ”Tutorial Day” (通称 ICS…