表面分析

受託分析 表面分析(分析装置、分析の種類、サンプル取扱い注意点など)のご紹介です。
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XPS(ESCA)によるポリマー表面分析(PA PI)

受託分析 XPSのご紹介です。
無機物、金属のみならず、プラスチック(ポリマー)表面の分析も可能であり、その応用範囲は広範囲です。ポリアミド(PA)、ポリイミドド(PI)フィルム表面の結合状態分析により、その微妙な分子構造の差起因のスペクトル形状および結合エネルギーから、分子原子レベルの挙動、官能基種の把握が可能です。ナノレベル表面の劣化変質などの不具合解析に有効な分析手法です。

オージェ電子分光法による接合部分析

受託分析 オージェ電子分光法のご紹介です。
極表面層 数nm領域の元素分析を行います。スパッターエッチングと組合せることにより接合部界面の深さ方向分析も可能です。

TOF-SIMSによる表面汚染・界面活性剤残渣の分析

受託分析 TOF-SIMSのご紹介です。
シリコンウェハ、ガラス基板、プリント配線基板など洗浄工程を必要とする、さまざまな基板上の界面活性剤等の残渣あるいは目に見えない微量汚染物質の解析が可能です。

TOF-SIMSによる液晶パネル中の異物分析

TOF-SIMSによる液晶パネルの受託分析例です。
液晶ディスプレイ内に見つかった異物の分析 ・測定結果から、有機系のフラグメント以外に、ナトリウム、カリウム、カルシウムが検出されました。これにより、 人体に由来する異物の可能性が推測されました。

X線光電子分光分析器による化学状態分析

受託分析 XPS(X線光電子分光法,X-ray Photoelectron Spectroscopy)のご紹介です。
極表面層 数nm領域の元素分析と化学状態の分析を行います。また、イオンエッチングとの併用で深さ方向の分析も可能です。
事例:Al表面酸化状態分析、銀メッキ表面の変色分析