微量汚染物のTOF-SIMS分析 TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です。SEM-EDXでは検出できなかった微量汚染もTOF-SIMSなら検出できるかもしれません。 汚染物の光学像とSEM像 再現実験により、Si ウエハ上に水玉状の汚染物を作成した。同じ位置でSEM-EDXとTOF-SIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を行いました。 SEM-EDX イメージマップ(EDX分析感度:%オーダー ) SEM-EDXイメージマップではウォーターマークからわずかにC, O が検出されました。汚染物は主元素としてC, O が含まれていることがわかります。 TOF-SIMS イメージマップ(TOF-SIMS分析感度:ppmオーダー) TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物(CH, CN), Na, K, が検出されました。ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と思われるものが確認できませんが、 TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が付着していることがわかりました。 お問い合わせはこちらから 株式会社アイテス 品質技術部 TEL:077-599-5020 メールでのお問い合わせはこちらから