低温（LT） | 株式会社アイテス https://www.ites.co.jp Wed, 26 Feb 2025 05:38:12 +0000 ja hourly 1 https://wordpress.org/?v=6.9.9 パワーモジュールパッケージ樹脂のひずみ測定 https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/power-module-package-resin-strain.html Tue, 25 Feb 2025 06:20:27 +0000 https://www.ites.co.jp/?post_type=guarantee&p=45229 パワーモジュール、MOSFETといった半導体製品は半導体チップを保護するための樹脂によって封止がなされています。熱サイクルを掛けた際の封止樹脂のひずみ挙動をひずみゲージを用いて測定しました。 封止樹脂へのひずみゲージの取...

続きを読む→
The post パワーモジュールパッケージ樹脂のひずみ測定 first appeared on 株式会社アイテス.]]>

パワーモジュール、MOSFETといった半導体製品は半導体チップを保護するための樹脂によって封止がなされています。熱サイクルを掛けた際の封止樹脂のひずみ挙動をひずみゲージを用いて測定しました。

封止樹脂へのひずみゲージの取り付け

基板に実装された状態のパワーモジュールと、実装していない状態のパワーモジュールの表面にそれぞれひずみゲージと温度計を貼り付け、ひずみ測定を行いました。

基板実装

使用ひずみゲージ
複合材料用箔ひずみゲージ
（適合線膨張係数1×10‐6）
（ベース15×5ｍｍ）

試験条件

ひずみ測定結果

測定結果

実装モジュールと未実装モジュールでひずみ変化挙動に大きな差異は見受けられませんでした。
実装モジュールではやや温度変化が遅く、呼応してひずみの変化も遅い様子が観察されました。
実装されることで、モジュールへの熱の伝わり方が遅くなっているためと考えられます。

アイテスでは温度サイクル試験や温湿度サイクル試験を行い、その際に実装部品に生じるひずみを同時に測定することが可能です。お気軽にご相談ください。

お問い合わせはこちらから
株式会社アイテス　品質技術部
TEL:077-599-5020
メールでのお問い合わせはこちらから
The post パワーモジュールパッケージ樹脂のひずみ測定 first appeared on 株式会社アイテス.]]> XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析 https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/xps_discoloration.html Mon, 26 Jul 2021 04:55:27 +0000 https://www.ites.co.jp/?post_type=chemistry&p=28706 素材は、使用環境により変質変色することが多い。変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じるが、化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、問題の対策や回避が可能となります。本資料では、表面分析による元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介します。...

続きを読む→
The post XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析 first appeared on 株式会社アイテス.]]>

素材は、使用環境によって変質変色します。それにより製品の性能や意匠性に問題が生じる場合がありますが、化学分析により製品の性能や意匠性に問題が生じるが化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、問題の対策や回避が可能となります。

本資料では、表面分析による元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介します。

分析サンプル

処理なし、信頼性試験（85℃　85％　336時間）、UV照射（225nm　336時間）の３条件を振ったポリカーボネート（PC）、塩化ビニール（PVC）のシートを使用しました。

素材

比重

引張強度（Mpa）

引張伸び（％）

荷重たわみ温度（℃）

吸水率（％）

用途例

ポリカーボネート（PC）

1.2

62

100

132

0.15

コネクター　CD　ヘッドランプ　防弾ガラス　など

CD

塩化ビニール（PVC）

1.45

58

150

75

ND

パイプ　ホース　電線　排水管　包装用フィルム　など

パイプ

XPS（ESCA）による元素分析結果

信頼性試験（85℃　85％）、およびUV照射後は、酸素Oの割合が増加しておりこれは、酸化劣化を意味します。

(unit:atm%)

検出元素

O

Sn

N

C

S

Cl

Si

ポリカーボネート
処理なし

14.91

-

0.74

84.35

-

-

-

ポリカーボネート
85℃ 85％ 信頼性試験

18.35

-

-

77.08

-

-

4.57

ポリカーボネート
UV照射

22.57

-

2.79

74.64

-

-

-

塩化ビニール
処理なし

5.53

-

-

78.31

-

16.16

-

塩化ビニール
85℃ 85％ 信頼性試験

21.90

2.46

-

63.23

1.72

6.27

4.42

塩化ビニール
UV照射

9.71

-

3.04

78.93

-

8.32

-

XPS（ESCA）による結合状態分析結果（ポリカーボネート）

信頼性試験（85℃　85％）、およびUV照射後は、ケトン基（C=O）が増加し、これは酸化劣化を意味します。

ポリカーボネート　処理なし
ポリカーボネート　85℃85％　信頼性試験
ポリカーボネート　UV照射

XPS（ESCA）による結合状態分析結果（塩化ビニール）

信頼性試験（85℃85％）、およびUV照射後は、エーテル（O-C）ケトン基（C=O）の比が変化し変質を示します。

塩化ビニール　処理なし
塩化ビニール　85℃85％　信頼性試験
塩化ビニール　UV照射
お問い合わせはこちらから
株式会社アイテス　品質技術部
TEL:077-599-5020
メールでのお問い合わせはこちらから
The post XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析 first appeared on 株式会社アイテス.]]> ランプ加熱試験（赤外線照射試験） https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/infra-red_rays.html Thu, 08 Apr 2021 04:43:45 +0000 https://www.ites.co.jp/?post_type=guarantee&p=27535 環境試験槽内で送風環境下における赤外線照射試験に対応可能です。雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できます。...

続きを読む→
The post ランプ加熱試験（赤外線照射試験） first appeared on 株式会社アイテス.]]>

環境試験槽内で送風環境下における赤外線照射試験に対応可能です。
雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できます。

試験概要

環境試験槽に試験試料を設置し送風状態で雰囲気温度を制御しながら、赤外線ランプを最大7個使用し光を照射することで、試料表面の温度センサーの温度が雰囲気温度より高くなるように制御を行います。
例えば、昼間の高温になった車内において、太陽光により雰囲気温度よりさらに過熱されるストレスを模擬することができます。

温度制御範囲

雰囲気 ：20℃～100℃
表面　 ：30℃～125℃　※材質、形状によって変化します

環境試験槽
環境試験槽

試験例

温度サイクル試験

環境試験槽で雰囲気温度を制御し 高温→常温 を繰り返すサイクル試験において、高温条件部では 雰囲気温度 ＜ 表面温度 となるようにランプを制御します。

温度サイクル試験
お問い合わせはこちらから
株式会社アイテス　品質技術部
TEL:077-599-5020
メールでのお問い合わせはこちらから
The post ランプ加熱試験（赤外線照射試験） first appeared on 株式会社アイテス.]]> 分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！ https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/analyze_and_chemireact.html Mon, 22 Mar 2021 07:43:05 +0000 https://www.ites.co.jp/?post_type=chemistry&p=27199 研究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせないプロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となることが多々あります。アイテスは、保有する多種多様な機器分析装置、観察装置、信頼性試験装置、そし...

続きを読む→
The post 分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！ first appeared on 株式会社アイテス.]]>

研究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせないプロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となることが多々あります。
アイテスは、保有する多種多様な機器分析装置、観察装置、信頼性試験装置、そして蓄積された知見と化学反応機構でメーカー様の研究開発をアシストいたします！

化学反応機構について

マクロで見える現象、および目には見えないがミクロの世界で起きている現象を化学の視点で捉えると、その現象メカニズムを反応機構で説明がつくケースが少なくありません。
観察、分析データ、負荷試験結果を踏まえて、反応機構を描くことで、それらの現象を把握し、開発の方向性の決定とスピードアップに繋がります。

不具合イメージ例

分析機器例

装置の画像をクリックすると、関連記事をご覧いただけます。

顕微FT-IR
顕微IR
顕微ラマン
顕微ラマン
（EGA/TD/Pyr）GC-MS
（EGA/TD/Pyr）GC-MS
TOF-SIMS
TOF-SIMS

観察装置例

装置の画像をクリックすると、関連記事をご覧いただけます。

ﾚｰｻﾞｰﾏｲｸﾛｽｺｰﾌﾟ
レーザーマイクロスコープ
X線CT
X線 CT 検査装置
特殊SEM（ULTRA55）
特殊SEM
FIB-SEM
FIB-SEM

信頼性試験装置例

装置の画像をクリックすると、関連記事をご覧いただけます。

液槽冷熱試験装置
気槽冷熱試験装置
気槽冷熱試験装置
恒温恒湿試験装置
恒温恒湿試験装置
プレッシャークッカー
プレッシャークッカー

豊富な技術、知見、装置でご対応いたします。お気軽にお問い合わせください。

お問い合わせはこちらから
株式会社アイテス　品質技術部
TEL:077-599-5020
メールでのお問い合わせはこちらから
The post 分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！ first appeared on 株式会社アイテス.]]> 超低温恒温恒湿試験器　《 -70℃ 》 https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/kouon_tei.html Mon, 07 Oct 2013 07:11:02 +0000 http://www.ites.co.jp/?page_id=3834 受託試験　超低温恒温恒湿試験のご紹介です。
「-70℃」の低温での試験が可能です。また、一定の温度・湿度の条件での試験実施及び恒温恒湿試験器は温湿度を制御する事が出来る為、プログラム運転での温湿度サイクル試験も対応ができます。...

続きを読む→
The post 超低温恒温恒湿試験器　《 -70℃ 》 first appeared on 株式会社アイテス.]]>

恒温恒湿試験は試料が恒温/恒湿条件下に晒された場合の耐湿性の評価等で実施されます。
超低温恒温恒湿試験器は、「-70℃」の低温での試験が可能です。
一定の温度・湿度の条件での試験実施及び恒温恒湿試験器は温湿度を制御する事が出来る為、プログラム運転での温湿度サイクル試験も対応ができます。

使用装置 /　超低温恒温恒湿試験器


試験対応例

  • 製品の低温保存・動作評価
  • ＬＥＤの耐温度・耐湿性評価
  • 太陽電池部材の耐温度・耐湿性評価
  • 皮膜材の耐湿性評価
  • 材料の耐湿性評価
  • 基板の吸湿評価

 

超低温恒温恒湿試験装置の主なスペック

内法：W570×H850×D520mm 、 温度範囲：-70～150℃、湿度範囲：20～98％RH
内法：W960×H1,000×D720mm 、 温度範囲：-70～100℃、湿度範囲：20～98％RH

 

超低温恒温恒湿試験器　（プログラム運転）　事例

JIS C 60028-2-38 温湿度サイクル試験

JIS C 60028-2-38 温湿度サイクル試験

温度サイクル試験

温度サイクル試験

お問い合わせはこちらから
株式会社アイテス　品質技術部
TEL:077-599-5020
メールでのお問い合わせはこちらから
The post 超低温恒温恒湿試験器　《 -70℃ 》 first appeared on 株式会社アイテス.]]>