HAST、PCT | 株式会社アイテス https://www.ites.co.jp Thu, 01 May 2025 08:34:54 +0000 ja hourly 1 https://wordpress.org/?v=6.9.9 真贋調査（比較観察） https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/authenticity.html Tue, 21 Sep 2021 03:00:18 +0000 https://www.ites.co.jp/?post_type=guarantee&p=31222 正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査します。(外観観察/開封観察/電気的特性測定/破壊・非破壊観察/信頼性試験/材料調査など。)...

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正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査します。　(外観観察/開封観察/電気的特性測定/破壊・非破壊観察/信頼性試験/材料調査など。)

外観観察　

目視観察、マイクロスコープを使用した観察を行い、形状や表面状態を確認します。

X線観察

X線装置を用いて内部構造を比較観察します。

電気的測定　　　　　　 　　　

データシートの項目中から 実施可能な 電気的特性測定を実施します。

開封観察

信頼性試験 　　　　　　　　 　　　

データシートに基き、恒温恒湿試験、 恒温試験、温度サイクル試験等の環境 試験（保存/動作）を実施します。

材料調査

各種材料分析にて部材の調査を行います。
  • 正規品又は標準品をご準備ください。
  • 実施項目、納期、費用等のご相談は下記お問い合わせよりお問い合わせください。
  • なお、最終的な部品ご使用のご判断はご依頼者様でお願いいたします。
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株式会社アイテス　品質技術部
TEL:077-599-5020
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The post 真贋調査（比較観察） first appeared on 株式会社アイテス.]]> パワーデバイスのHAST試験 https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/hast_pd.html Fri, 30 Oct 2020 08:00:30 +0000 http://www.ites.co.jp/?page_id=1529 MOSFET･IGBT等のパワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能です｡漏れ電流をモニタリングを行い､デバイスの劣化状況の推移が確認できます｡ 特徴 ・最大1000Vを印加してパワーデバイスの...

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MOSFET･IGBT等のパワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能です｡
漏れ電流をモニタリングを行い､デバイスの劣化状況の推移が確認できます｡

特徴

・最大1000Vを印加してパワーデバイスの不飽和蒸気加圧試験が可能です。
・高温高湿下での通電により金属配線の腐食やマイグレーション等の評価が可能です｡
・試験中にモニタリングを行うので､リアルタイムで試料の劣化状況が把握できます｡

仕様･サービス内容

試験電圧  ：最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン･保護抵抗110kΩ)
試験数量  ：最大30個 (正極側)
対応モジュール  ：TO-247､TO-220 等 (その他のパッケージは要相談：ソケット調達可)
測定内容  ：漏れ電流のモニタリング
試験装置  ：温度制御範囲 105.0℃～142.9℃  湿度制御範囲 75%RH～100%RH
　　　　　  圧力範囲  0.020～0.196MPa（ゲージ圧）

【HASTチャンバー】
EHS-221M  (エスペック製)

【参考モニターデータ】
試験条件：130℃/85%RH/DC1000V印加

試験条件例：JESD22-A110E､ JEITA ED-4701-100A(試験方法302A)等

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The post パワーデバイスのHAST試験 first appeared on 株式会社アイテス.]]> 信頼性試験に伴う経時変化観察 https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/test_observe.html Mon, 06 Jul 2020 08:00:22 +0000 https://www.ites.co.jp/section/index/%e8%a6%b3%e5%af%9f%e6%8a%80%e8%a1%93/%e3%82%af%e3%83%a9%e3%82%a4%e3%82%aacp-2.html 信頼性試験の間、試料は刻々と変化します。 どの時点でクラックが入ったのか、劣化の進行はどのように進んでいくのか、初期状態と どれくらい変化したか… 信頼性試験と組み合わせることで、対象物の変化を時系列かつ非破壊で評価いた...

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信頼性試験の間、試料は刻々と変化します。
どの時点でクラックが入ったのか、劣化の進行はどのように進んでいくのか、初期状態と
どれくらい変化したか…
信頼性試験と組み合わせることで、対象物の変化を時系列かつ非破壊で評価いたします。

信頼性試験による試料変化の観察

信頼性試験前後の試料変化の観察

成長するマイグレーション

実験的に露出したCu配線間に水滴を垂らし、電圧を加え、マイグレーションが発生、成長する様子を観察しました。

ウィスカ観察、マイグレーション観察、耐圧観察、はんだ評価、薬品侵蝕試験、市場での経年劣化品などの変化観察に応用できます。
環境試験、観察頻度はお客様のご要望の条件にて実施いたします。
電気特性、SEM観察、元素分析、断面観察などの追加解析もご相談ください。

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The post 信頼性試験に伴う経時変化観察 first appeared on 株式会社アイテス.]]> 高度加速寿命試験 https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/hast.html Tue, 12 Aug 2014 02:32:58 +0000 http://www.ites.co.jp/?page_id=6880 受託試験　HAST(High Accelerated Stress Test)：高度加速寿命試験のご紹介です。
密封容器にて100℃以上の温度で湿度を掛けて、試料の耐湿評価やパッケージの気密性の評価などの目的で実施されます。...

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HAST(High Accelerated Stress Test)：高度加速寿命試験は密封容器にて100℃以上の温度で湿度を掛けて、試料の耐湿評価やパッケージの気密性の評価などの目的で実施されます。
バイアス印加の試験は、高温高湿バイアス試験の高加速として実施されます。
温度が高い・飽和条件の場合は結露が発生する為、市場では起こり得ない故障モードが発生する場合があるので注意が必要です。
PCT（Pressure Cooker Test)、PCBT（Pressure Cooker Bias Test)　とも呼ばれます。

使用装置 / 高度加速寿命試験機

hast3

装置の主なスペック

内法：φ350×L400mm 、温度範囲：+105～143℃ 、162℃　湿度範囲：75%～100％RH
内法：φ545×L550mm 、温度範囲：+105～162.2℃、湿度範囲：75%～100％RH

試験規格の例

JIS C 60068-2-66環境試験方法 -電気・電子- 高温高湿定常（不飽和加圧水蒸気）
EIAJ ED-4701/100 method 102Temperature humidity bias (THB)
JESD22-A110Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test
JESD22-A118Accelerated Moisture Resistance – Unbiased HAST

その他、様々な試験規格で規定されています。

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