製品評価

半導体製品、電子部品及び材料等の信頼性・特性の受託評価サービスです。

太陽電池In-Situ測定(常時測定)・特性評価

受託試験 太陽電池In-Situ測定(常時測定)・特性評価のご紹介です。
ストレスを印加した状態で 特性変化を常時観察することが出来ます。
さらに、不良状態特定のため EL発光観察・発熱観察、不良箇所の断面解析も対応致します。

LEDの信頼性試験

受託試験 LEDの信頼性試験のご紹介です。
JEITA規格の他、JISやJEDECなどの各種試験規格、規格外のご希望の試験条件でも対応致します。

LEDの光学特性評価 (測定対象:可視光域)

受託試験 LEDの光学特性評価 (測定対象:可視光域)のご紹介です。
LEDの不良品と良品を比較評価することにより不良モードの判定を行なうことが可能となります。

LEDの光学特性評価 (測定対象:紫外光域)

受託試験 LEDの光学特性評価 (測定対象:紫外光域)のご紹介です。
LEDの不良品と良品を比較評価することにより不良モードの判定を行なうことが可能となります。

温度制御(ペルチェ素子)による光学・電気・特性評価

受託試験 温度制御(ペルチェ素子)による光学・電気・特性評価のご紹介です。
ペルチェ素子による温度調節は高精度に安定して温度の制御をおこなうことができます。LED製品等の光学特性測定やパワーダイオード製品等の電気特性測定に有効です。

AEC規格CDM試験

受託試験 AEC規格CDM試験のご紹介です。
デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD(静電気破壊)による破壊に対しての耐性を評価いたします。

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

受託試験 ESD(HBM・MM)試験のご紹介です。
半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD(静電気破壊)に対する耐性を評価します。

ラッチアップ試験受託サービス

受託試験 ラッチアップ試験のご紹介です。
CMOS ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。

機械的強度試験(電子部品の半田接合強度試験)

受託試験 機械的強度試験(電子部品の半田接合強度試験)のご紹介です。
基板に実装された電子部品の半田接合評価を行います。QFPリードは引張り強度、チップコンデンサはせん断強度試験により評価することができます。最大荷重5000N (500Kgf)まで対応致します。

電気特性評価の適用例

受託試験 電気特性評価のご紹介です。
高温/低温の温度状態でのI-V特性変動評価を行い、不良要因の推定及び次過程の評価・分析解析の選択より不具合メカニズムの解明へ進めます。

LCDの光学測定検査

受託試験 LCDの光学測定検査のご紹介です。
輝度値 (cd/㎡)、色度(XYZ、Yxy 値)、コントラスト比、視野角特性、応答速度を測定致します。

コンデンサ高温負荷(直流連続)試験

受託試験 コンデンサ高温負荷(直流連続)試験のご紹介です。
タンタルコンデンサや積層セラミックコンデンサに高い温度・電圧を与えて信頼性評価を実施します。様々な温度・電圧条件に対応した高温負荷試験をご提案します。

アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測

受託試験 アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測のご紹介です。
一般的に半導体デバイスの劣化の物理、化学的な現象を表すには,アレニウスモデルが用いられます。アレニウスモデルは故障の温度依存に対する基本的な化学反応モデルであり,半導体デバイスの温度ストレスによる加速寿命試験の寿命推定に用いられています。

LCDの信頼性試験

受託試験 LCDの信頼性試験のご紹介です。
高温高湿バイアス試験・高温試験・冷熱衝撃試験と、点灯画質・光学測定検査を実施致します。

OLEDの信頼性試験

受託試験 OLEDの信頼性試験のご紹介です。
各種環境試験を実施することにより、使用発光有機物質及び製品の劣化推移及び寿命を評価することが出来ます。また、温度湿度による封止材料等の対温度・対湿度の評価、通電動作による有機化合物の劣化加速評価も可能です。

信頼性評価試験装置

エレクトロニクスの様々な分野で利用される有機材料の信頼性試験(温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス)をご提案します。

冷熱衝撃試験、断面研磨による異種材料界面観察

受託試験 冷熱衝撃試験と断面研磨による異種材料界面観察の実施例です。
単一素材では問題にならなかった熱サイクルによる異種素材間の密着不良、および界面剥離は、複合素材で構成される製品にとっては致命的となる場合が多くあります。冷熱衝撃試験後、断面研磨観察を行い不良状態を確認しました。

材料信頼性試験・分析トータル受託サービス

受託試験 材料信頼性試験と化学分析のトータル受託サービスのご紹介です。
構成材料の信頼性試験および材料分析は、製品開発やものづくりを行う上で重要なプロセスです。信頼性試験から化学分析まで、製品評価をご支援致します。

プリント配線基板(PWB)の評価試験

受託試験 プリント配線基板(PWB)の評価試験のご紹介です。
部品実装前のプリント基板を試験槽内に設置し、試験条件の環境下に規定の時間さらして、温度・湿度・温度差などのストレスを加えます。

接続/接合/接着の導通(低抵抗)評価

受託試験 接続/接合/接着の導通(低抵抗)評価のご紹介です。
導通信頼性評価においては環境試験中の導通状態を常時抵抗測定を行なうことにより劣化変動の挙動の把握が行えます。【低抵抗In-Situ常時測定装置】を使用することにより対応が可能です。さらに、不良特定のため分析・解析も受託致します。

太陽電池の信頼性試験

受託試験 太陽電池の信頼性試験のご紹介です。
太陽電池の試験規格に準じて、セル、モジュール及び部材の温度サイクル試験・温湿度サイクル試験を行います。

電源装置の評価試験

受託試験 電源装置の評価試験のご紹介です。
電子機器や電化製品の動力源として内蔵される電源装置の信頼性試験(温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス)を実施いたします。

プリント回路実装基板(PCB)の評価試験

受託試験 プリント回路実装基板(PCB)の評価試験のご紹介です。
各種部品が実装されたプリント基板の信頼性試験(温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス)をご提案致します。

貫通電極(TSV)の信頼性評価

受託試験 貫通電極(TSV)の信頼性評価のご紹介です。
貫通電極(TSV:Through Silicon Via)は、半導体チップ等を垂直に貫通する電極で、3次元実装を行うのに重要な要素です。貫通電極(TSV)を使用した実装品の信頼性試験では、常時測定(In-Situ)を行うことにより不良発生の検出・故障時間の把握が可能です。さらに、物理解析により不良モードを特定することもできます。

信頼性試験の一貫分析サービス

受託試験・受託分析 信頼性試験の一貫分析サービスのご紹介です。
製品、部材、材料の信頼性試験後、状態が変化しないうちに分析解析を行います。返却等のサンプル輸送時に状態変化が懸念されるもの、信頼性試験後、経時変化を起こす前に迅速に不具合の分析解析を一貫してご対応いたします。

液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

受託試験・受託分析 液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューションのご紹介です。
海外製液晶ディスプレイ製品を使用され、信頼性に問題を抱えるお客様が増えています。アイテスは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから、試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。

液晶パネルの構造解析

受託分析 液晶パネルの構造解析のご紹介です。
LCDパネル製品(モバイル品含む)の良品解析をご提案します。海外にて製品として組みあがったもの、或いは部品を海外から調達しているものについて、TFT構造やドライバーICの膜厚および接合箇所など構成部品の詳細な観察を行ない、それらの結果から製品の状態を考察します。

海外製部品・製品 品質評価サービス

受託試験・受託分析 海外製部品・製品 品質評価サービスのご紹介です。
海外製部品・製品に対しての信頼性試験・評価試験のトータルの品質評価サービスを提供します。 海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも多く含まれています。
中には、初期動作は問題ない場合でも、短期間に不具合を引き起こし、故障、破壊に至るものもあります。お客様の製品に海外製の部品を使用される前に、一度アイテスの部品・製品 品質評価サービスをご検討ください。