I-V特性測定結果
- 測定結果より不良モードの判別を行うことが出来ます
温度特性評価
- 高温/低温の温度状態でのI-V特性変動評価
- 不良要因の推定及び次過程の評価・分析解析の選択より不具合メカニズムの解明へ進めます
I-V特性変動 | 不良推定要因 | 評価試験・分析解析 |
---|---|---|
有 | 特性劣化/異物 等 | ⇒信頼性試験による劣化加速 |
無 | ハードダメージ 等 | ⇒破壊検査(パッケージ開封・チップ物理解析) |
I-V特性変動 | 不良推定要因 | 評価試験・分析解析 |
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有 | 特性劣化/異物 等 | ⇒信頼性試験による劣化加速 |
無 | ハードダメージ 等 | ⇒破壊検査(パッケージ開封・チップ物理解析) |