半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、デバイス帯電モデル（Charged Device Model）のESD（静電気破壊）による破壊に対しての耐性を評価する、ESD/CDM試験サービスを提供いたします。
☆車載向け電子部品規格：AEC-Q100-011の試験サービスを開始
AEC規格のField Induced CDM（FI-CDM）試験対応が可能です。
AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。
特徴
- 各規格波形 JEDEC、JEITA、ESDA、EIAJ、AEC に対しユニット交換で対応します。
- 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM）の両方に対応します。
- 印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。
- ダイオード特性判定法による破壊判定対応可能です。（要相談）
装置概要
- 印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ
- 最大1024ピンまで対応します。
- プローブ移動精度 ： 0.1ｍｍ
- 印加ユニット ： JEDEC、JEITA、ESDA、EIAJ、AEC
- チャージ方法 ：
FI-CDM：電界誘導法
D-CDM：直接チャージ法
ダイオード特性判定法による破壊判定例