ESD/CDM試験の受託サービスです。
半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD(静電気破壊)による破壊に対しての耐性を評価致します。
☆車載向け電子部品規格:AEC-Q100-011の試験サービスを開始
AEC規格のField Induced CDM(FI-CDM)試験対応が可能です。
AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。
特徴
- 各規格波形 JEDEC、JEITA、ESDA、EIAJ、AEC に対しユニット交換で対応します。
- 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応します。
- 印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。
- ダイオード特性判定法による破壊判定対応可能です。(要相談)
装置概要
- 印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ
- 最大1024ピンまで対応します。
- プローブ移動精度 : 0.1mm
- 印加ユニット : JEDEC、JEITA、ESDA、EIAJ、AEC
- チャージ方法 :
FI-CDM:電界誘導法
D-CDM:直接チャージ法

ダイオード特性判定法による破壊判定例
