製品評価・測定

正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査します。(外観観察/開封観察/電気的特性測定/破壊・非破壊観察/信頼性試験/材料調査など。)

液晶ディスプレイやOLEDなどの光学特性を分光放射計を用いて測定できます。 試験前後に測定を行う事で、光学特性の変化を定量的に評価することが可能です。 測定器概要 測定項目  ：分光放射、輝度、色度 測定範囲　  ：0.0005cd/m2～5,000,000cd/m2 波長測定範囲  ：380nm～780nm 波長分解能  ：1nm  （有効波長幅(半値幅)：5nm ）...

製品を構成する素材の、熱、湿気負荷による信頼性試験は必須であるが、試験後の分析評価もまた、欠かすことのできないプロセスです。本資料では、恒温恒湿試験前後の素材分子構造変化をIR分析にて検証した事例をご紹介します。

透明素材の透過率は、使用される製品のスペックに重要な特性項目であり、熱、湿度、紫外線などによる劣化でその特性が低下、または失われる場合があります。本資料では、装置原理とともに、透明樹脂の恒温恒湿試験前後での透過率の変化を比較評価した結果、および考察内容をご紹介します。

プラスチック（樹脂）素材は、使用環境により変色、変質する場合があります。透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。恒温恒湿試験前後の曇価（ヘーズ）測定、IR分析で素材の特性、分子構造変化が把握できます。

樹脂は、成形加工、および調色がしやすいため多くの製品で使用されています。使用される環境によっては、変色しやすいことも事実であり、信頼性試験前後の表色系、および透過率の評価は欠かせません。本資料では、透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の変化結果をご紹介いたします。

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine ModelのESDによる破壊に対する耐性を評価するESD(HBM・MM)試験サービスを提供いたします。 特徴 ・512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応いたします。・512ピン以上の製品についても一部対応いたします。(要相談)・ESDA/JEDEC...

プラスチックの押出/射出成形加工は、その原料の耐熱温度（融点　Tm）に応じて条件設定されるが原料の劣化変質により、決められた設定温度で成形加工が困難となるケースもある。プラスチック原料のペレットや粉末のメルトフローレイト（MFR）を確認することで、従来品と変化がないかを把握することができます。

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESDによる破壊に対する耐性を評価するESD/CDM試験サービスを提供いたします。 特徴 ・各種規格条件 JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応いたします。・直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Indu...

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014(最新版 JS-002-2018)において、試験時のデバイス付近の相対湿度は 30％未満にすることを要求されています。 AEC規格においても2019年の改訂で ANSI/ESDA/JEDEC JS-002に準拠すると明記され、相対湿度 30％未満の低湿度環境の要求は、今後も高まってくると見込まれます。 CDM試験の主要規格の湿度要求 ...

液晶ディスプレイやOLEDなどの発光面の輝度・⾊度ムラについて、 ⼆次元⾊彩輝度計を⽤いて測定を⾏うことで、ムラなどを評価することできます。 測定器概要 測定項目 ︓三刺激値（X, Y, Z）、⾊度（x, y） 測定範囲 ︓0.01cd/m2〜1,000,000cd/m2 有効画素数 ︓1376×1024 発光面サイズ ︓15〜115インチ程度 設置方法・治具 ︓縦置き、平置き ...

受託試験　ラッチアップ試験のご紹介です。
CMOS　ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。

受託試験　太陽電池In-Situ測定（常時測定）・特性評価のご紹介です。
ストレスを印加した状態で　特性変化を常時観察することが出来ます。
さらに、不良状態特定のため EL発光観察・発熱観察、不良箇所の断面解析も対応致します。

半導体デバイスや各種電子部品の信頼性試験において、テストサンプルの評価を実施する必要があります。最も基本的な評価手法である、電気特性の測定の受託サービスです。

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。
弊社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。

受託試験　LEDの信頼性試験のご紹介です。
JEITA規格の他、JISやJEDECなどの各種試験規格、規格外のご希望の試験条件でも対応致します。

受託試験　LEDの光学特性評価 （測定対象：可視光域）のご紹介です。
LEDの不良品と良品を比較評価することにより不良モードの判定を行なうことが可能となります。

受託試験　LEDの光学特性評価 （測定対象：紫外光域）のご紹介です。
LEDの不良品と良品を比較評価することにより不良モードの判定を行なうことが可能となります。

受託試験　温度制御（ペルチェ素子）による光学・電気・特性評価のご紹介です。
ペルチェ素子による温度調節は高精度に安定して温度の制御をおこなうことができます。ＬED製品等の光学特性測定やパワーダイオード製品等の電気特性測定に有効です。

受託試験　ラッチアップ試験のご紹介です。
CMOS　ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。

受託試験　電気特性評価のご紹介です。
高温/低温の温度状態でのI－V特性変動評価を行い、不良要因の推定及び次過程の評価・分析解析の選択より不具合メカニズムの解明へ進めます。

受託試験　コンデンサ高温負荷(直流連続)試験のご紹介です。
タンタルコンデンサや積層セラミックコンデンサに高い温度・電圧を与えて信頼性評価を実施します。様々な温度・電圧条件に対応した高温負荷試験をご提案します。

受託試験　アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測のご紹介です。
一般的に半導体デバイスの劣化の物理、化学的な現象を表すには，アレニウスモデルが用いられます。アレニウスモデルは故障の温度依存に対する基本的な化学反応モデルであり，半導体デバイスの温度ストレスによる加速寿命試験の寿命推定に用いられています。

受託試験　LCDの信頼性試験のご紹介です。
高温高湿バイアス試験・高温試験・冷熱衝撃試験と、点灯画質・光学測定検査を実施致します。

受託試験　OLEDの信頼性試験のご紹介です。
各種環境試験を実施することにより、使用発光有機物質及び製品の劣化推移及び寿命を評価することが出来ます。また、温度湿度による封止材料等の対温度・対湿度の評価、通電動作による有機化合物の劣化加速評価も可能です。

エレクトロニクスの様々な分野で利用される有機材料の信頼性試験（温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス）をご提案します。

受託試験　冷熱衝撃試験と断面研磨による異種材料界面観察の実施例です。
単一素材では問題にならなかった熱サイクルによる異種素材間の密着不良、および界面剥離は、複合素材で構成される製品にとっては致命的となる場合が多くあります。冷熱衝撃試験後、断面研磨観察を行い不良状態を確認しました。

受託試験　材料信頼性試験と化学分析のトータル受託サービスのご紹介です。
構成材料の信頼性試験および材料分析は、製品開発やものづくりを行う上で重要なプロセスです。信頼性試験から化学分析まで、製品評価をご支援致します。

受託試験　プリント配線基板(PWB)の評価試験のご紹介です。
部品実装前のプリント基板を試験槽内に設置し、試験条件の環境下に規定の時間さらして、温度・湿度・温度差などのストレスを加えます。

受託試験　接続/接合/接着の導通（低抵抗）評価のご紹介です。
導通信頼性評価においては環境試験中の導通状態を常時抵抗測定を行なうことにより劣化変動の挙動の把握が行えます。【低抵抗In-Situ常時測定装置】を使用することにより対応が可能です。さらに、不良特定のため分析・解析も受託致します。

受託試験　太陽電池の信頼性試験のご紹介です。
太陽電池の試験規格に準じて、セル、モジュール及び部材の温度サイクル試験・温湿度サイクル試験を行います。

受託試験　電源装置の評価試験のご紹介です。
電子機器や電化製品の動力源として内蔵される電源装置の信頼性試験（温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス）を実施いたします。

受託試験　プリント回路実装基板(PCB)の評価試験のご紹介です。
各種部品が実装されたプリント基板の信頼性試験（温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス）をご提案致します。

受託試験　貫通電極(TSV)の信頼性評価のご紹介です。
貫通電極(TSV：Through Silicon Via)は、半導体チップ等を垂直に貫通する電極で、３次元実装を行うのに重要な要素です。貫通電極（TSV）を使用した実装品の信頼性試験では、常時測定（In-Situ）を行うことにより不良発生の検出・故障時間の把握が可能です。さらに、物理解析により不良モードを特定することもできます。

受託試験・受託分析　信頼性試験の一貫分析サービスのご紹介です。
製品、部材、材料の信頼性試験後、状態が変化しないうちに分析解析を行います。返却等のサンプル輸送時に状態変化が懸念されるもの、信頼性試験後、経時変化を起こす前に迅速に不具合の分析解析を一貫してご対応いたします。

受託試験・受託分析　液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューションのご紹介です。
海外製液晶ディスプレイ製品を使用され、信頼性に問題を抱えるお客様が増えています。アイテスは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから、試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。

受託分析　液晶パネルの構造解析のご紹介です。
LCDパネル製品（モバイル品含む）の良品解析をご提案します。海外にて製品として組みあがったもの、或いは部品を海外から調達しているものについて、TFT構造やドライバーICの膜厚および接合箇所など構成部品の詳細な観察を行ない、それらの結果から製品の状態を考察します。

受託試験・受託分析　海外製部品・製品　品質評価サービスのご紹介です。
海外製部品・製品に対しての信頼性試験・評価試験のトータルの品質評価サービスを提供します。 海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも多く含まれています。
中には、初期動作は問題ない場合でも、短期間に不具合を引き起こし、故障、破壊に至るものもあります。お客様の製品に海外製の部品を使用される前に、一度アイテスの部品・製品　品質評価サービスをご検討ください。