太陽電池のEL発光(Electro-Luminescence)は太陽電池セルあるいはモジュールに対し順方向バイアスに印加することでPN接合より発光する現象をさします。
このEL発光を検出し画像化することで太陽電池の性能評価、不具合箇所の特定を行います。
結晶Si系、薄膜（アモルファスSi系、化合物系、有機系）などのEL発光観察が可能です。
このEL発光を検出し画像化することで太陽電池の性能評価、不具合箇所の特定を行います。
結晶Si系、薄膜（アモルファスSi系、化合物系、有機系）などのEL発光観察が可能です。
結晶SiセルのEL発光
(a) EL発光像と(b)光学像
EL発光像では、光学像では見えない不具合箇所を特定し、可視化することができます。
左図(a)では結晶Siのクラック、銀の集電極の断線などが明瞭に観察できます。
薄膜a-SiセルのEL発光とリーク発光
(c)光学像
(d)EL発光像
(e)リーク発光像
順バイアス印加のEL発光像と逆バイアス印加のリーク発光像を組合わせることにより、薄膜a-Siセルによく見られるスクライブの不具合などを明瞭に観察することができます。
結晶Si太陽電池モジュールのEL発光
1200万画素の高精細カメラを用いてEL発光を観察するので、1.5×1.0mの太陽電池モジュールを1度に測定し、必要な部分を拡大表示しても画像の鮮明さは変りません。
信頼性試験の前後あるいは途中でのEL発光測定により太陽電池の経時的な変化を捉えることができます。