IIn-Situ 常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながらストレスを印加し、試験を行います。
常時特性を測定しますので、故障発生を見落とすことがありません。
特徴
- 信頼性試験の実施中、常時測定を行うため、正確な故障時間の把握が可能です。
- 市場にて重大問題を引起す可能性のある、回復性不良を検出することが可能です。
- 試料へのストレス印加状況、測定データがリアルタイムで確認できます。
サービスメニュー
In-Situ HAST/THB試験
高温高湿環境下の絶縁抵抗値の連続モニターを実施します。
プリント基板、半導体パッケージ製品などのイオンマイグレーションなどの不良モードの検出が可能です。
最大120チャネル測定
In-Situ THB試験システム
ＴＨＢ 抵抗値測定結果
In-Situ TC試験
温度サイクル環境下の微小抵抗値の連続モニターを実施。プリント基板、半導体パッケージ製品などの半田接合部評価が可能。
最大120チャネル測定
In-Situ TC試験システム
ＴC 抵抗値測定結果
In-Situ EM試験
高温環境下にて電流印加しながら導通抵抗値の連続モニターを実施。
プリント基板、半導体パッケージ製品などのEM（エレクトロマイグレーション）の検出が可能。
最大60チャネル測定
In-Situ EM試験システム
EM 抵抗値測定結果