冷熱衝撃試験は、試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱によるストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生し、繰り返し応力によってもストレスが加えられます。電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても冷熱衝撃試験が行われます。
使用装置 / 冷熱衝撃試験装置 （気槽）
冷熱衝撃試験装置の主なスペック
内法：W650×H460×D370mm 温度範囲：-65～0 / +60～200℃
内法：W650×H460×D670mm 温度範囲：-65～0 / +60～200℃
内法：W970×H460×D670mm 温度範囲：-65～0 / +60～200℃
冷熱衝撃試験規格の例
・JESD 22-A104 TEMPERATURE CYCLING
・IEC 60749-25 Temperature cycle
・EIAJ ED-4701/100 method 105 Temperature cycle
・MIL STD-883 1010.8 TEMPERATURE CYCLING
その他、様々な試験規格で規定されています。
冷熱衝撃試験装置の構成
熱衝撃モード
２通りのモードの選択が可能
・２ゾーン試験 ： 低温 ⇔ 高温
・３ゾーン試験 ： 低温 ⇔ 常温 ⇔ 高温
外部印加および測定
試験試料への電圧・電流の印加、あるいは
抵抗測定等のための配線を行うために冷熱衝撃
試験装置にはケーブル孔が装備されています。
冷熱衝撃試験 事例
◼ 実装接合部（ハンダバンプ等）の接合評価
プリント基板/実装基板の信頼性評価
電子部品の寿命評価
LED/OLEDの信頼性・寿命評価
樹脂部材の信頼性評価
◼ 半導体パッケージ
実装基板
電子部品/電子機器製品
樹脂材料
太陽電池
LED/OLED
ディスプレイ/タッチパネル など