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Is everything all right? いつもお世話になっておりま - [Scien-Small Talk – 012](https://www.ites.co.jp/analyzenews/scien-small-talk-012.html) - Ladies & Gentlemen, Wanna rest?Working hard? Ha - [Scien Small Talk – 009](https://www.ites.co.jp/analyzenews/scien-small-talk-009.html) - G’Day, Everyone. いつもお世話になっております。 アイテス品質技術部の清野です。 さて、世間話 - [「イオンクロマトグラフによるイオン分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「イオンクロマトグラフによるイオン分析」を掲.html) - [【2026年6月10日(水)～6月12日(金)】　『eX-Tech 2026 』出展のお知らせ](https://www.ites.co.jp/analyzenews/セミナーのご案内/ex-tech-2026.html) - [Scien-Small Talk – 011](https://www.ites.co.jp/analyzenews/scien-small-talk-011.html) - How have you been? いつもお世話になっております。 アイテス品質技術部の清野です。 また - [Scien Small Talk – 008](https://www.ites.co.jp/analyzenews/scien-small-talk-008.html) - Hi everybody, How have you been ？ いつもお世話になっております。 アイテス品 - [Scien Small Talk - 007](https://www.ites.co.jp/analyzenews/scien-small-talk-007.html) - Ciao！ いつもお世話になっております。 アイテス品質技術部の清野です。 どこまで続くか、世間話、ひとりでし - [Scien Small Talk – 006](https://www.ites.co.jp/analyzenews/scien-small-talk-006.html) - [「ワイヤボンディングの形状観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「ワイヤボンディングの形状観察」を掲載しまし.html) - [「SiCにおけるPL発光箇所のTEM観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「sicにおけるpl発光箇所のtem観察」を掲載しました.html) - [「SiC 潜在欠陥検査装置 / 通電劣化シミュレーター ITS-SCX100」に関するプレスリリースのお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/sicnews.html) - [2025年GW 休業期間のご案内](https://www.ites.co.jp/news/2025gw.html) - [2026年GW 休業期間のご案内](https://www.ites.co.jp/news/2026gw.html) - [「変質した樹脂の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「変質した樹脂の分析」を掲載しました.html) - [「オージェ電子分光法による金めっき変色部の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「オージェ電子分光法による金めっき変色部の分.html) - [「TXRF汚染分析受託サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/wafernews/wafernews_txrf.html) - [「高品質ダイヤモンドワイヤー販売」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/wafernews/wafernews_wire.html) - [200mmシリコンウェハ 微細貫通孔加工サービスを掲載しました](https://www.ites.co.jp/wafernews/wafernews_hole.html) - [「ウェハーケース販売」( 各種半導体ウェハーケース調達/洗浄/販売)を掲載しました](https://www.ites.co.jp/wafernews/wafernews_case.html) - [「テープ粘着層の成分分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「テープ粘着層の成分分析」を掲載しました.html) - [「健康経営優良法人2026」に認定されました。　](https://www.ites.co.jp/news/news202603.html) - [「プリント基板の超音波顕微鏡観察（透過法）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「プリント基板の超音波顕微鏡観察（透過法）」.html) - [「くるみん認定」を受けました。](https://www.ites.co.jp/news/kurumin2026.html) - [「BET法による粉末ゼオライトの比表面積測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「bet法による粉末ゼオライトの比表面積測定」を.html) - [「機械研磨によるチップレットパッケージ構造確認」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「機械研磨によるチップレットパッケージ構造確.html) - [オープンカンパニー（会社見学・体験）を開催しました。](https://www.ites.co.jp/news/opencompany2026.html) - [熊本事業所開設のお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/kumamotooffice.html) - [材料分析評価 - 特集１ 異物分析](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ma-1.html) - [「半導体パッケージの超音波顕微鏡観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「半導体パッケージの超音波顕微鏡観察」を掲載.html) - [「超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察.html) - [「トップ・メッセージ2026年　年頭のご挨拶」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/news/news20260114.html) - [「DMAによる熱劣化ゴムの評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「dmaによる熱劣化ゴムの評価」を掲載しました.html) - [澁澤賞受賞のお知らせ：東北電力と共同開発した「ＰＶ遠隔安全診断システム」](https://www.ites.co.jp/news/news_prize20251202.html) - [【2025年11月11日～13日】　『第45回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS2025) 』　に出展しました！](https://www.ites.co.jp/analyzenews/セミナーのご案内/nanots2025_after.html) - 大阪府豊中市の千里ライフサイエンスセンターで開催された『第45回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS2 - [【2025年11月19日～11月20日】　『先進パワー半導体分科会　第12回講演会』　に出展しました！](https://www.ites.co.jp/analyzenews/セミナーのご案内/2025_adps_after.html) - 富山市の富山国際会議場で開催された 『先進パワー半導体分科会 第12回講演会 』に出展しました！ お忙しい中、 - [文部科学大臣賞受賞のお知らせ：東北電力と共同開発した「PV遠隔安全診断システム」](https://www.ites.co.jp/news/news_prize20251101.html) - [#Ⅱ”非”分析技術者ブログ ～『第2回九州半導体展』出展レビュー～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/no-ii_non-engineer-blog.html) - [弊社社員が『育児参画のロールモデル』として紹介されました（大津市公式サイトへ移動します）](https://www.ites.co.jp/news/news_202511ikuji.html) - [オープンカンパニー（会社見学・体験）を開催しました。](https://www.ites.co.jp/news/opencompany2025.html) - [【お知らせ】東北電力より、「PVScope」（DAY-PLシステム）のプレスリリースが発表されました！](https://www.ites.co.jp/news/pvscope-news.html) - [SiCに関する国際学会、ICSCRM 2025にて口頭発表、及び、ポスター発表を行いました](https://www.ites.co.jp/news/icscrm2025.html) - [【2025年10月8日(水)・9日(木)】第2回「[九州]半導体産業展」に出展しました！](https://www.ites.co.jp/analyzenews/セミナーのご案内/k-semi_2nd_after.html) - [【2025年9月22日(月)】計画有給取得による不在について](https://www.ites.co.jp/news/news20250922.html) - 平素より当社ホームページをご利用いただき、誠にありがとうございます。誠に勝手ながら、９月２２日（月）は計画有給 - [「接着剤の耐湿熱試験」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「接着剤の耐湿熱試験」を掲載しました.html) - [「XPSによる正極活物質の状態分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「xpsによる正極活物質の状態分析」を掲載しまし.html) - [【2025年8月20日】大津市企業版夢づくりプロジェクト：MONOづくりWEEKへ参加しました！](https://www.ites.co.jp/news/20250820_monoweek.html) - [「チップ抵抗の故障解析例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「チップ抵抗の故障解析例」を掲載しました.html) - [「ゴム材料の反発性・振動吸収性評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「ゴム材料の反発性・振動吸収性評価」を掲載し.html) - [「信頼性試験によるスペック確認と故障解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「信頼性試験によるスペック確認と故障解析」を.html) - [「カプセル剤粉体のX線CT分析とEDX分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「カプセル剤粉体のx線ct分析とedx分析」を掲載しま.html) - [「断面イオンミリング（CP）加工時に発生する熱の影響」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「断面イオンミリング（cp）加工時に発生する熱の.html) - [「CFRPの動的粘弾性測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「cfrpの動的粘弾性測定」を掲載しました.html) - [「Talos F200E導入のお知らせ」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「talos-f200e導入のお知らせ」を掲載しました.html) - [「ポアソン比測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「ポアソン比測定」を掲載しました-2.html) - [「3D形状測定機による加熱変形観察（有機基板編）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「3d形状測定機による加熱変形観察（有機基板編）.html) - [「高伸度・軟質材料用伸び計によるゴムの引張試験」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「高伸度・軟質材料用伸び計によるゴムの引張試.html) - [「冷却 (クライオ)イオンミリング断面加工例 (ゴム製品)」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「冷却-クライオイオンミリング断面加工例-ゴム.html) - [「劇物フリーのエポキシ樹脂硬化温度について」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「劇物フリーのエポキシ樹脂硬化温度について」.html) - [「有機物の成分分析～FT-IRとGC/MS～」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「有機物の成分分析～ft-irとgc-ms～」を掲載しました.html) - [「ゴム熱老化試験」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「ゴム熱老化試験」を掲載しました.html) - [「3D形状測定機による基板変形観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「3d形状測定機による基板変形観察」を掲載しまし.html) - [「機械研磨によるトラッキングカメラ断面観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「機械研磨によるトラッキングカメラ断面観察」.html) - [「液晶化合物のNMR分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「液晶化合物のnmr分析」を掲載しました.html) - [「外観観察及び計測サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「外観観察及び計測サービス」を掲載しました.html) - [『晶析プロセスの設計・制御と結晶解析手法』にアイテス社員の執筆した記事が掲載されました。](https://www.ites.co.jp/news/『晶析プロセスの設計・制御と結晶解析手法』に.html) - [「機械研磨によるCMOSイメージセンサ断面観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「機械研磨によるcmosイメージセンサ断面観察」を.html) - [育児休業・育児休暇の取得の推進等に熱心な企業として表彰されました。](https://www.ites.co.jp/news/news202502.html) - [「パワーモジュールパッケージ樹脂のひずみ測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「パワーモジュールパッケージ樹脂のひずみ測定.html) - [「実装基板の各種評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「実装基板の各種評価」を掲載しました.html) - [『第31回MATE 2025』に出展しました。](https://www.ites.co.jp/news/31-mate-2025.html) - [Mate2025　第31回『エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術』シンポジウム　出展のお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/mate2025.html) - [年末年始休業のお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/2025newyear.html) - [「FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「ft-irとedxによる有機・無機複合材の分析」を掲載し.html) - [【2024年11月24日(日)～11月26日(火)】　『先進パワー半導体分科会　第11回講演会』　出展のお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/【2024年11月24日日～11月26日火】　『先進パワー半導体-2.html) - [「ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「icp発光分析によるlib正極材活物質の組成分析」を.html) - [「パワーデバイス故障箇所・Slice＆View 三次元再構築」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「パワーデバイス故障箇所・slice＆view-三次元再構築」.html) - [「光学フィルムの光透過特性」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「光学フィルムの光透過特性」を掲載しました.html) - [「恒温恒湿試験中の槽内撮影」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「恒温恒湿試験中の槽内撮影」を掲載しました.html) - [「SACはんだとNiパッド界面の化合物の解析例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「sacはんだとniパッド界面の化合物の解析例」を掲.html) - [＃I　”非”分析技術者ブログ　Returns　～『第1回九州半導体展』出展レビュー～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/no-i_non-engineer-blog.html) - [SiCに関する国際学会、ICSCRM 2024にて口頭発表、及び、ポスター発表を行いました](https://www.ites.co.jp/news/icscrm2024.html) - [「吸湿ひずみの測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「吸湿ひずみの測定」を掲載しました.html) - [「顕微FT-IRイメージング測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「顕微ft-irイメージング測定」を掲載しました.html) - [「CP加工装置 Arblade5000 ワイドエリア断面ミリング」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「cp加工装置-arblade5000-ワイドエリア断面ミリング」を掲.html) - [「ディスクリート半導体(ダイオード)のIOL試験」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「ディスクリート半導体ダイオードのiol試験」を.html) - [「薬液処理による金属組織観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「薬液処理による金属組織観察」を掲載しました.html) - [「顕微FT-IR紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「顕微ft-ir紹介」を掲載しました.html) - [「機械研磨による半導体の観察例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「機械研磨による半導体の観察例」を掲載しまし.html) - [【2024年9月25日・26日】『第1回［九州］半導体産業展』出展のお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/【2024年9月25日・26日】『第1回［九州］半導体産業展』.html) - [＃12　分析技術者ブログ　Returns　～ヨウ素のお話～](https://www.ites.co.jp/news/no-12_engineer-blog.html) - [「冷熱衝撃試験のひずみ測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「冷熱衝撃試験のひずみ測定」を掲載しました.html) - [「正極活物質の粒径評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「基板実装部品の断面観察」を掲載しました-2.html) - [「基板実装部品の断面観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「基板実装部品の断面観察」を掲載しました.html) - [「アイテスのSDGsの取り組み」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/news_sdgs.html) - [「ポアソン比測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「ポアソン比測定」を掲載しました.html) - [＃11　分析技術者ブログ　Returns　～顕微FT-IR導入～](https://www.ites.co.jp/news/no-11_engineer-blog.html) - [恋するパワー半導体（つよこい）ページを更新しました](https://www.ites.co.jp/wafernews/news_wafer202403.html) - [「基板実装部品の各種断面観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「基板実装部品の各種断面観察」を掲載しました.html) - [「COG実装の導電粒子形状観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「スイッチ接点不良の解析事例」を掲載しました-2.html) - [＃10　分析技術者ブログ　Returns　～リービッヒ vs ツァイゼ～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/no-10_engineer-blog.html) - [「ラマンスペクトル解析（UV硬化樹脂）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ラマンスペクトル解析（uv硬化樹脂）」を掲載し.html) - [「スイッチ接点不良の解析事例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「スイッチ接点不良の解析事例」を掲載しました.html) - [「in-situ材料強度試験」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「in-situ材料強度試験」を掲載しました.html) - [「不織布シートの細孔分布評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「不織布シートの細孔分布評価」を掲載しました.html) - [「二次イオン質量分析法（SIMS)」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「二次イオン質量分析法（sims」を掲載しました.html) - [＃9　分析技術者ブログ　Returns　～水溶液中のアンモニア（アンモニウムイオン）の定量～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/no-9_engineer-blog.html) - [米国 Semiconductor Review誌により「2024年 半導体製造 ソリューション プロバイダー企業 トップ 10」に選出](https://www.ites.co.jp/news/semiconrv_10.html) - [「GC/MS分析のための誘導体化」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「gc-ms分析のための誘導体化」を掲載しました.html) - [「酸化物系全固体電池の故障解析事例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「酸化物系全固体電池の故障解析事例」を掲載し.html) - [当社サーバーへの不正アクセスに関するお知らせと調査結果のご報告](https://www.ites.co.jp/news/20231205.html) - [「GC/MSを用いたマイカシート接着剤成分分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「gc-msを用いたマイカシート接着剤成分分析」を掲.html) - [＃8　分析技術者ブログ　Returns　～リチウムイオン電池の耐火材の分析について～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/no-8_engineer-blog.html) - [【2023年11月30日(木)～12月1日(金)】『先進パワー半導体分科会　第10回講演会』出展のお知らせ](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news_jsap-expo-2023-3.html) - [「赤外分光法とラマン分光法の比較」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「赤外分光法とラマン分光法の比較」を掲載しま.html) - [【2023年11月7日～9日】　『第43回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS2023) 』　出展のお知らせ](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news_nanots-2023.html) - [「全固体電池用原料の組成分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「全固体電池用原料の組成分析」を掲載しました.html) - [SiCに関する国際学会、ICSCRM 2023にて口頭発表、及び、ポスター発表を行いました](https://www.ites.co.jp/news/20230917.html) - [「海外製 液晶ディスプレイの良品解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/overseas-lcds-analysis.html) - [『第84回応用物理学会秋季学術講演会』に出展しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news_jsap-expo-autumn-2023_end.html) - [＃7　分析技術者ブログ　Returns　～インド産ビャクダンの人気の秘密～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/no-7_engineer-blog.html) - [「異物分析・成分分析　顕微ラマンとFTIR比較」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「異物分析・成分分析　顕微ラマンとftir比較」を.html) - 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[「超微小硬度計による材料評価」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「超微小硬度計による材料評価」を更新しました.html) - [「ウィスカ観察」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ウィスカ観察」を更新しました.html) - [GIGAスクール向け端末修理・保守のページを掲載しました](https://www.ites.co.jp/repairnews/news_gigaschool.html) - [「化学反応機構研究所 動的光散乱法による無機粒子の粒径測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「化学反応機構研究所-動的光散乱法による無機粒.html) - [対象別メニュー「LEDのトータルサポートサービス」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/対象別メニュー「ledのトータルサポートサービス.html) - [「液晶ディスプレイ材料分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「液晶ディスプレイ材料分析」を掲載しました.html) - [「ワンショット３D形状測定機」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ワンショット３d形状測定機」を掲載しました.html) - [「岩石中鉱物のラマンスペクトル取得サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「岩石中鉱物のラマンスペクトル取得サービス」.html) - [「化学反応機構研究所 ラミネートフィルムの複屈折測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「化学反応機構研究所-ラミネートフィルムの複屈.html) - [「FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「fib-sem-helios-5-uc-導入のお知らせ」を掲載しました.html) - [SiCの国際学会「ICSCRM2022」に出展いたしました](https://www.ites.co.jp/panelnews/icscrm2022.html) - [「溶媒抽出によるGC-MS分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「溶媒抽出によるgc-ms分析」を掲載しました.html) - [「X線透視・CT検査装置」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「x線透視・ct検査装置」を更新しました.html) - [「断面加工・観察方法の紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「断面加工・観察方法の紹介」を掲載しました.html) - [「高温GPC（SEC）による樹脂の分子量測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「高温gpc（sec）による樹脂の分子量測定」を掲載し.html) - [「有機材料、高分子材料の分析評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「有機材料、高分子材料の分析評価」を掲載しま.html) - [「GC-MS分析装置ガイド」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「gc-ms分析装置ガイド」を掲載しました.html) - [「TOF-SIMSの事例　広域イメージマップ」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「tof-simsの事例　広域イメージマップ」を掲載しまし.html) - [「機械研磨による3D構築」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「機械研磨による3d構築」を掲載しました.html) - [「NEW 環境展／地球温暖化防止展」出展のご案内](https://www.ites.co.jp/panelnews/「new-環境展／地球温暖化防止展」出展のご案内.html) - [「エネルギー分散X線分光法(EDS)」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「エネルギー分散x線分光法eds」を掲載しました.html) - [「EDSによる分析事例（Cuパッドの接合界面）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「edsによる分析事例（cuパッドの接合界面）」を掲.html) - [「カーボン材料のラマン分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「カーボン材料のラマン分析」を掲載しました.html) - [「熱脱着GC-MSによるポリマー中の添加剤不具合解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「熱脱着gc-msによるポリマー中の添加剤不具合解析.html) - [「光学顕微鏡とSEMの使い分け​」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「光学顕微鏡とsemの使い分け」を掲載しました.html) - [「化学反応機構研究所　反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「化学反応機構研究所　反応熱分解によるポリカ.html) - [「EBSDの事例　２つの黄銅材を比較」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsdの事例　２つの黄銅材を比較」を掲載しまし.html) - [「HDPE・LDPE比較分析​」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「hdpe・ldpe比較分析」を掲載しました.html) - [「低分子シロキサン定量分析​」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「低分子シロキサン定量分析」を掲載しました.html) - [「冷熱衝撃試験」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「冷熱衝撃試験」を更新しました.html) - [「液槽冷熱衝撃試験 高温180℃対応」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「液槽冷熱衝撃試験-高温180℃対応」を更新しまし.html) - [「超音波顕微鏡　Scanning Acoustic Microscope (SAM)」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「超音波顕微鏡　scanning-acoustic-microscope-sam」を更新しました.html) - [「重合度、分子量の差をIR分析で検証」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「重合度、分子量の差をir分析で検証」を掲載しま.html) - [プレスリリース　3月16日発売「リユースチェッカー　RUC-100」](https://www.ites.co.jp/panelnews/「eソラメンテ」が新エネ大賞「経済産業大臣賞-2.html) - [「CDM試験 低湿度環境対応」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「cdm試験-低湿度環境対応」を掲載しました.html) - [「ESD(HBM・MM)試験受託サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「esdhbm・mm試験受託サービス」を掲載しました.html) - [「ESD(CDM)試験受託サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「esdcdm試験受託サービス」を掲載しました.html) - [「液槽冷熱衝撃試験 LED通電」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「液槽冷熱衝撃試験-led通電」を掲載しました.html) - [「eソラメンテ」が新エネ大賞「経済産業大臣賞」を受賞](https://www.ites.co.jp/panelnews/「eソラメンテ」が新エネ大賞「経済産業大臣賞」.html) - [「うちでのこづち」に掲載されました](https://www.ites.co.jp/news/news20220127.html) - [「ミクロトームは刃（ナイフ）が命」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ミクロトームは刃（ナイフ）が命」を掲載しま.html) - [「ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ガイドネットマップ法を用いたepma分析例」を掲.html) - [「ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例.html) - [「ラミネートフィルム異物分析事例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ラミネートフィルム異物分析事例」を掲載しま.html) - [「SEMによる破断面観察(カニカン)」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「semによる破断面観察カニカン」を掲載しました.html) - [「異物分析のための試料加工技術」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ibutu_kakou.html) - [「微小異物分析のためのサンプリング技術」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/sampling.html) - [ソラメンテ通信　2021.12.23を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/mailmagazine-2021-12-23.html) - [「イメージング FT-IRによる微小異物分析」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/imaging.html) - [「イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ft-ir_organic-multilayer.html) - [「FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ft-ir_liquid.html) - [「FT-IRによる樹脂硬化度の測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ft-ir_hardening.html) - [「液晶パネルのTFT特性評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/tft-panel_evaluation.html) - [「イオンクロマト分析」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ion-chromatography-2.html) - [「質量分析ガイド」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「質量分析ガイド」を掲載しました.html) - [「発光解析のための半導体の裏面研磨」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/jirei_kenma001.html) - [「LEDの不良解析」を更新しました](https://www.ites.co.jp/news/jirei_led003.html) - [「MLCCクラック　X線観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/mlcc_ct.html) - [「静電破壊した橙色LEDの不良解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/jirei_led004.html) - [「LCDパネルの良品解析」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/lcdパネルの良品解析.html) - [「EELS分析手法による膜質評価」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/eels.html) - [先進パワー半導体分科会　第14回研究会　併催展示会に出展しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/senshin1905.html) - [Vol.007　遠心分離機　～アングルローターとスイングローター～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-007.html) - [「EPMAによる微量元素の検出」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/epma_element.html) - [「トグルスイッチのX線観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/toggle-switch_ct.html) - [「ACアダプターのX線観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ac-adapter_ct.html) - [「太陽電池モジュールの断面観察」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/jirei_pv_danmen.html) - [「Liイオン電池セパレータの解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/li-ion-battery_analysis.html) - [「機械研磨法による加工ダメージ」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/machine_polishing_damage.html) - [「色差計による塗料の色評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/color-evaluation.html) - [「塗膜の観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/tomaku-observe.html) - [「CCDカメラモジュールの断面加工観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ccd_danmen.html) - [「ミクロトームによる断面作製」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/microtome_danmen.html) - [「デジタルマイクロスコープによる外観観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/microscope_appearance.html) - [「FIB（Focused Ion Beam)」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/fib.html) - [「各種顕微鏡の視野サイズ」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/microscope.html) - [「卓上型SEM（電子顕微鏡）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/microscope_crack.html) - [「EPMAによる状態分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/epma_condition.html) - [「EPMA分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/epma.html) - [「イオンクロマト分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ion-chromatography.html) - [「イオンクロマト分析事例（固体表面）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ion-chromatography_jirei.html) - [「プラスチック成形品の歪、複屈折評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/plastic_hizumi.html) - [「ABS樹脂のFT-IR分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/abs_ft-ir.html) - [「断面観察によるはんだのクラック率測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/crack_size.html) - [「ポリエチレンのFT-IR分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/polyethylene_ft-ir.html) - [「積層基板の斜めCT観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/naname-ct_board.html) - [【終了】Webセミナー10/21　発電事業を停止させないためのO&M対応について～スマート保安と効率的なO&Mへの取組み 第４弾～](https://www.ites.co.jp/panelnews/seminar211021.html) - [ソラメンテ通信　2021.10.14を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/mailmagazine-2021-10-14.html) - [「WPAによる製品/素材の歪、複屈折評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/wpa.html) - [「フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ebsd-fpc.html) - [「ダイヤモンドのクラリティ観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/microscope_diamond.html) - [「発熱解析による電子部品の故障箇所特定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/jirei_heat.html) - [「TOF-SIMS の事例 『Li の分析』」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/tof-sims_li.html) - [「電解コンデンサのX線観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/condenser_x-ray.html) - [「ナイロン6.10の構造解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/nylon6-10.html) - [「MEMS部品の構造解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/mems.html) - [「EBSDによる解析例（鉄板）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ebsd-iron_plate.html) - [「EBSDによる解析例（高融点はんだ）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ebsd-solder.html) - [ソラメンテ通信　2021.10.04を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/mailmagazine-2021-10-04.html) - [「MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/maldi-tofms_polymer.html) - [「不具合の原因を化学の視点で解決します。」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/chemical-bug_solution.html) - [ソラメンテ通信　2021.09.28を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/mailmagazine-2021-09-28.html) - [「EBSDによる解析例（パイプ）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ebsd-pipe.html) - [「EBSDによる解析例（ビア）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/ebsd-cu.html) - [「アルミ溶接部(スポット溶接)の観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「アルミ溶接部スポット溶接の観察」を掲載しま.html) - [「EBSDによる解析例（Chip）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsdによる解析例（chip）」を掲載しました.html) - [「EBSDによる解析例（ウィスカ）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsdによる解析例（ウィスカ）」を掲載しました.html) - [「EBSDによる解析例（カニカン）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsdによる解析例（カニカン）」を掲載しました.html) - [「EBSDによる解析例（シリコンウエハ）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsdによる解析例（シリコンウエハ）」を掲載し.html) - [「EBSDによる解析例（ネジ）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsdによる解析例（ネジ）」を掲載しました.html) - [「EBSDによる解析例（セラミック）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsdによる解析例（セラミック）」を掲載しまし.html) - [「ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/polymer_ft-ir.html) - [「XPSによるバンドギャップの簡易測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/xps_band-gap.html) - [「バイパス回路 開放故障の解説と特定方法」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/bypass_open.html) - [「安全な絶縁抵抗の測定方法は？」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/insulation-resistance.html) - [ソラメンテ通信　2021.09.23を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/mailmagazine-2021-09-21.html) - [「透明樹脂のFT-IR分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「透明樹脂のft-ir分析」を掲載しました.html) - [「真贋調査（比較観察）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「真贋調査（比較観察）」を掲載しました.html) - [「偏光フィルム、および光拡散フィルムの劣化分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「偏光フィルム、および光拡散フィルムの劣化分.html) - [「光硬化樹脂中 重合開始剤の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「光硬化樹脂中-重合開始剤の分析」を掲載しまし.html) - [「EBSD法による解析例」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsd法による解析例」を更新しました.html) - [X線透過・CT検査装置 観察事例を追加しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/yxlonmultifocuscheetahevo-3-3.html) - [「EPMA分析例」を更新しました](https://www.ites.co.jp/news/epma分析例.html) - [産業機器・PC修理　カタログを更新しました(PDFファイル)](https://www.ites.co.jp/repairnews/20210820.html) - [「表面分析ガイド」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「表面分析ガイド」を掲載しました.html) - [「BGA・CSP はんだの評価」を更新しました](https://www.ites.co.jp/news/「bga・csp-はんだの評価」を更新しました.html) - [「FE-SEM観察（Alワイヤボンド部結晶粒観察）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「fe-sem観察（alワイヤボンド部結晶粒観察）」を掲載.html) - [「XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「xps（esca）による変色変質素材の表面分析」を掲載.html) - [「実装部品接合部の解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「実装部品接合部の解析」を掲載しました.html) - [「化学分析の流れ」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「化学分析の流れ」を掲載しました.html) - [「材料の信頼性試験から化学分析までご対応します。」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「材料の信頼性試験から化学分析までご対応しま.html) - [「ハイパワー恒温恒湿槽での試験環境」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/highpower_kankyo.html) - [【終了】Webセミナー7/2　発電事業を停止させないためのO&M対応について～スマート保安と効率的なO&Mへの取組み 第３弾～](https://www.ites.co.jp/panelnews/seminar210702.html) - [新エネルギー新聞　2021年6月21日掲載](https://www.ites.co.jp/panelnews/media2106.html) - [【終了】Webセミナー6/25　ソラメンテQ＆Aマラソン　太陽光パネルメンテナンスの要点がサクサク分かる](https://www.ites.co.jp/panelnews/【募集中】webセミナー6-25　ソラメンテq＆aマラソン　.html) - [「試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について」.html) - [ソラメンテ通信　2021.06.23を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-06-23を配信しました.html) - [「メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「メルトフローレイト（mfr）測定評価サービス」.html) - [「コネクタめっきの断面観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「コネクタめっきの断面観察」を掲載しました.html) - [ソラメンテ通信　2021.06.18を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-06-18を配信しました.html) - [ソラメンテ通信　2021.06.11を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-06-11を配信しました.html) - [ソラメンテ通信　2021.06.08を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-06-08を配信しました.html) - [「ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～」を.html) - [「EPMA分析例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「epma分析例」を掲載しました.html) - [「SEG-LCDパネル表示不良解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「seg-lcdパネル表示不良解析」を掲載しました.html) - [「ICP発光分光分析（ICP-AES）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「icp発光分光分析（icp-aes）」を掲載しました.html) - [ソラメンテ通信　2021.06.03を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-06-03を配信しました.html) - [「色差計による樹脂の表色系、および透過率評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「色差計による樹脂の表色系、および透過率評価.html) - [ソラメンテ通信　2021.05.31を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-05-31を配信しました.html) - [【終了】Webセミナー5/28　スマート保安、電気点検の無人・省力化を目指す！PV遠隔安全診断技術～O&Mのコスト最適化と保安リスクマネジメントの両立～](https://www.ites.co.jp/panelnews/【受付中】webセミナー5-28　スマート保安、電気点検.html) - [コラム　従来の常識で「スマート保安」は実現できない？](https://www.ites.co.jp/panelnews/コラム　従来の常識で「スマート保安」は実現で.html) - [ソラメンテ通信　2021.05.25を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-05-25を配信しました.html) - [【終了】Webセミナー5/14　太陽光発電のスマート保安を実現する「PV遠隔安全診断技術」 ～O&Mコスト最適化とリスクマネジメントの両立を目指す～](https://www.ites.co.jp/panelnews/【受付中】webセミナー5-14　太陽光発電のスマート.html) - [ソラメンテ通信　2021.05.18を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-05-18を配信しました.html) - [「信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニューサービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、ir分析のセッ.html) - [「高分子構造変化の解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「高分子構造変化の解析」を掲載しました.html) - [「EGA-MS分析、熱脱着・熱分解GC-MS分析によるPTP梱包シート分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ega-ms分析、熱脱着・熱分解gc-ms分析によるptp梱包シー.html) - [「自記分光光度計による透過率測定サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「自記分光光度計による透過率測定サービス」を.html) - [【終了】Webセミナー4/9　発電事業を停止させないためのO&M対応について～スマート保安と効率的なO&Mへの取組み 第２弾～](https://www.ites.co.jp/panelnews/【受付中】webセミナー4-9　発電事業を停止させない.html) - [「似て非なる物の解析基本手法」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「似て非なる物の解析基本手法」を掲載しました.html) - [「EDX分析時の加速電圧の違いによる変化」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「edx分析時の加速電圧の違いによる変化」を掲載.html) - [「素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価のご紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評.html) - [「EPMA分析における７つの分光結晶」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「epma分析における７つの分光結晶」を掲載しまし.html) - [「劣化破断したカニカンの分析と超微小硬度測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「劣化破断したカニカンの分析と超微小硬度測定.html) - [「SEMの観察条件による見え方の違い」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「semの観察条件による見え方の違い」を掲載しま.html) - [「ランプ加熱試験（赤外線照射試験）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ランプ加熱試験（赤外線照射試験）」を掲載し.html) - [「樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか？」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「樹脂の変質劣化をft-ir分析で確認してみませんか.html) - [「SEM/EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「sem-edx分析時の加速電圧の違いによる検出感度」を.html) - [「色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価」.html) - [「TMA（熱機械測定）のご紹介（半導体封止材）」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「tma（熱機械測定）のご紹介（半導体封止材）」.html) - [「パネル偏光板劣化解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/「パネル偏光板劣化解析」を掲載しました.html) - [「分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「分析と化学反応機構で研究開発をアシストしま.html) - [【終了】10月6日(火)15:00より「太陽光パネルの故障と発電力・売電収入への影響」ウェビナーを開催致します](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-seminar201006.html) - [【終了】10月16日(金)15:00より「太陽電池の見えない不具合を可視化するEL検査」ウェビナーを開催致します](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-seminar201016-2.html) - [【終了】10月30日(金)15:00より「太陽光発電事業のO&Mを見直しませんか？」ウェビナーを開催致します](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-seminar201030.html) - [【終了】Webセミナー2/26　なぜ危険なのか？太陽光パネルの沈黙の臓器「バイパス回路」のオープン故障](https://www.ites.co.jp/panelnews/【受付中】webセミナー2-26　なぜ危険なのか？太陽光.html) - [「透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透.html) - [「ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察.html) - [「大型試料の断面観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「大型試料の断面観察」を掲載しました.html) - [「EBSD法による解析例」 を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsd法による解析例」-を更新しました.html) - [「ソラメンテ通信」2021.02.18を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2021-02-18を配信しました.html) - [「信頼性試験から観察までトータルコーディネート」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「信頼性試験から観察までトータルコーディネー.html) - [「ヘッドスペースGC-MS分析法によるアウトガス分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ヘッドスペースgc-ms分析法によるアウトガス分析.html) - [「ソラメンテ通信」2021.02.09を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2021-02-09を配信しました.html) - [採用情報を更新しました](https://www.ites.co.jp/news/rec2021.html) - [「ソラメンテ通信」2021.02.02を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2021-02-02を配信しました.html) - [「実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「実装部品のインク浸漬試験dye-and-pry」を更新しまし.html) - [「化学反応機構研究所　材料劣化解析（PETの分解・劣化）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「化学反応機構研究所　材料劣化解析（petの分解.html) - [「銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「銅端子の断面観察とsem-edxによる元素分析」を掲載.html) - [「樹脂材料（半導体/LED用途）の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「樹脂材料（半導体-led用途）の分析」を掲載しま.html) - [「有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？-フタル酸エステル類の1H-NMR分析編」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみ.html) - [「フタル酸エステル類の1H NMR分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「フタル酸エステル類の1h-nmr分析」を掲載しました.html) - [「ソラメンテ通信」2021.01.07を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2021-01-07　ppaモデルのo＆m　～安定・安.html) - [【終了】Webセミナー12/5　土曜開催！低圧発電所オーナーがソラメンテで実践する太陽光パネルのメンテナンス](https://www.ites.co.jp/panelnews/【受付中】webセミナー12-5　土曜開催！低圧発電所オ.html) - [「超微小硬度計による負荷除荷モード＆カラーフィルター測定例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/超微小硬度計による負荷除荷モード＆カラーフィ.html) - [「高温ラッチアップ試験」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「高温ラッチアップ試験」を掲載しました.html) - [「反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「反応熱分解gcmsによる検出困難物質の分析」を掲.html) - [「ソラメンテ通信」2020.12.15を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/ソラメンテ通信　2020-12-15【プレスリリース情報】太陽.html) - [「パワー半導体の解析サービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/パワー半導体の解析サービス　を掲載しました.html) - [「ソラメンテ通信」2020.11.20を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2020-11-20を配信しました.html) - [「顕微ラマンによる金属腐食の分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「顕微ラマンによる金属腐食の分析」を掲載しま.html) - [「ソラメンテ通信」2020.11.06 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2020-11-06-を配信しました.html) - [『第40回ナノテスティングシンポジウム』にて講演予定](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news_nanotes2020-2.html) - [「パワーデバイスのHAST試験」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/パワーデバイスのhast試験　を掲載しました.html) - [「ソラメンテ通信」2020.10.15 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2020-10-15-を配信しました.html) - [新価値創造NAVIに弊社製品「PV報知器」が掲載されました。](https://www.ites.co.jp/panelnews/新価値創造naviに弊社製品「pv報知器」が掲載されま.html) - [「ソラメンテ通信」2020.10.02 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2020-10-02-を配信しました.html) - [【Youtube】9/18 Webセミナーダイジェスト「ベストな運転開始を迎えるために！発電事業者が知っておくべきこと。」](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-youtube-com-channel-ucdbov2ijv6hjqpdxpuqvphq-videos.html) - [微小硬度計による材料の評価　を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/微小硬度計による材料の評価　を掲載しました.html) - [ウィスカ評価　を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ウィスカ評価　を掲載しました.html) - [短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析　を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/短波長レーザを用いたsicデバイスのobirch解析　を更新.html) - [TOF-SIMS分析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/tof-sims分析-を掲載しました.html) - [「ソラメンテ通信」2020.09.14 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2020-09-14-を配信しました.html) - [「ソラメンテ通信」2020.09.08 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2020-09-08-を配信しました.html) - [化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例　を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例　を.html) - [化学反応機構研究所　異種材料界面剥離メカニズム①　を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/化学反応機構研究所　異種材料界面剥離メカニズ.html) - [【終了】Webセミナー　作業効率40％アップ！ソラメンテS-200シリーズの活用法](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-seminar200703-2.html) - [「FIB-SEMによる半導体の拡散層観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「fib-semによる半導体の拡散層観察」を掲載しました.html) - [「SiCデバイスの裏面発光解析」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「sicデバイスの裏面発光解析」を更新しました.html) - [「ソラメンテ通信」2020.08.27 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」2020-08-27-を配信しました.html) - [ICの不良解析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/icの不良解析-を掲載しました.html) - [「ソラメンテ通信」2020.07.28 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-mailmagazine-2020-07-28.html) - [信頼性試験に伴う経時変化観察 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/信頼性試験に伴う経時変化観察-を掲載しました.html) - [XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/xps角度分解法による薄膜層の深さ方向分析-を掲載.html) - [「ソラメンテ通信」vol.77 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-06-30-vol-77.html) - [顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析.html) - [ワイヤーソーによる切断加工 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/ワイヤーソーによる切断加工-を掲載しました.html) - [断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋) を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/断面観察前処理試料切断・樹脂包埋-を掲載しま.html) - [化学反応機構研究所 を 開設しました！](https://www.ites.co.jp/analyzenews/chemireact/化学反応機構研究所を開設.html) - [顕微ラマンによる多層材料分析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/顕微ラマンによる多層材料分析-を掲載しました.html) - [液晶成分のGCMS分析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/液晶成分のgcms分析-を追加しました.html) - [有機物のTOF-SIMS分析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/有機物のtof-sims分析-を掲載しました.html) - [微量汚染物のTOF-SIMS分析 を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/微量汚染物のtof-sims分析-を掲載しました.html) - [熱分析（DMA・DSC・TMA・TG-DTA）を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/熱分析（dma・dsc・tma・tg-dta）を掲載しました.html) - [「ソラメンテ通信」vol.76 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-05-21-vol-76-2-2.html) - [X線透過・CT検査装置 事例を追加しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/x線透過・ct検査装置-事例を追加しました.html) - [技術サービス資料「液晶材料とその分析技術」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/技術レポート集/技術サービス資料「液晶材料とその分析技術」を.html) - [YXLON製 マルチフォーカス　Cheetah EVOを導入しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/yxlonmultifocuscheetahevo-2.html) - [「ソラメンテ通信」vol.75 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-01-09-vol-70-2-4-2.html) - [「住宅用 太陽光発電システムのための報知器」を令和2年電気学会全国大会　講演論文集に公開しました。](https://www.ites.co.jp/panelnews/「住宅用-太陽光発電システムのための報知器」を.html) - [「日中における太陽電池モジュールのEL観察」を第67回応用物理学会 春季学術講演会 予稿集に公開しました。](https://www.ites.co.jp/panelnews/応用物理学会で口頭発表いたしました。「通電と-3.html) - [「ソラメンテ通信」vol.74 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-01-09-vol-70-2-4.html) - [Vol.013(最終回)　トラブル発生！至急復旧せよ　～GC/MS修理の流れ～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-013final.html) - [「ソラメンテ通信」vol.73 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-01-09-vol-70-2.html) - [「ソラメンテ通信」vol.72 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-01-09-vol-70-2-3.html) - [「ソラメンテ通信」vol.71 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-01-09-vol-70-2-2.html) - [技術サービス資料「半導体パッケージにおけるCuﾜｲﾔﾎﾞﾝﾃﾞｨﾝｸﾞの接合界面について」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/技術レポート集/news_tecnote_1226-2.html) - [「ソラメンテ通信」vol.70 を配信しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/https-www-solamente-biz-2020-01-09-vol-70.html) - [技術論文「半導体パッケージにおけるCuﾜｲﾔﾎﾞﾝﾃﾞｨﾝｸﾞの接合界面について」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/技術レポート集/news_tecnote_1226.html) - [先進パワー半導体分科会でポスター発表いたしました。「断面PLによるSSFが拡張した基底面の可視化」](https://www.ites.co.jp/panelnews/応用物理学会で口頭発表いたしました。「通電と-2.html) - [ユーザーレポート⑯　住宅用陽光パネルの故障により発電量が低下！](https://www.ites.co.jp/panelnews/httpswww-solamente-bizseminar-4.html) - [新エネルギー新聞に「DC1500V太陽光発電システム　タイアップセミナー」の記事が掲載されました。](https://www.ites.co.jp/panelnews/　「dc1500v太陽光発電システム　タイアップセミナー.html) - [「PVコネクタ高抵抗化の事例」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「ソラメンテ通信」vol-49-を配信しました-2-2-2-2-2.html) - [先進パワー半導体分科会　第6回講演会　に発表・参加してきました！](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news_powerseminar2019.html) - [日経BP社提供「メガソーラービジネス」に ソラメンテによる点検事例が掲載されました](https://www.ites.co.jp/panelnews/「日経bp社が提供している情報サイト「メガソーラ.html) - [新エネルギー新聞にアイテスの記事が掲載されました。「『ソラメンテ』海外進出」・「我が社の技術」](https://www.ites.co.jp/panelnews/「日経bp社が提供している情報サイト「メガソー-3.html) - [応用物理学会で口頭発表いたしました。「通電と紫外線照射による4H SiC エピ層中の SSF の拡張」](https://www.ites.co.jp/panelnews/応用物理学会で口頭発表いたしました。「通電と.html) - [第39回ナノテスティングシンポジウム　に今年も参加してきました！](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news_nanotes2019.html) - [第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム　に出展しました！](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news_sensmicro2019.html) - [X線透過・CT検査装置 事例(動画)を追加しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/xsenct1023.html) - [装置一覧を更新しました](https://www.ites.co.jp/news/souchi-ichiran.html) - [世界最大のSiC関連国際学会、通称　ICSCRM　チュートリアルセッション　に出展します](https://www.ites.co.jp/analyzenews/news1909-icscrm.html) - [資料「sMIMによる拡散層観察」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「smimによる拡散層観察」を更新しました.html) - [3月16日、『地域未来牽引企業サミット in 新潟』において、世耕経済産業大臣より、地域未来牽引企業選定証が授与されました。](https://www.ites.co.jp/news/chiikikenin2019.html) - [技術論文「太陽電池の不具合と解析事例」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/技術レポート集/it00x.html) - [インリー・グリーンエナジージャパン株式会社と、ソーラーパネルの点検機器「ソラメンテ」の海外販売で提携しました。](https://www.ites.co.jp/news/news20190120.html) - [経済産業省より「地域未来牽引企業」に選定されました](https://www.ites.co.jp/news/meti2018.html) - [新発売　ストリングチェッカー　ソラメンテ-Zシリーズに、1500V対応機「SZ-1000」 を新たにラインナップ！](https://www.ites.co.jp/panelnews/新発売　ストリングチェッカー　ソラメンテ-zシリ.html) - [資料「信頼性のトータルサポートサービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「信頼性のトータルサポートサービス」を掲.html) - [資料「断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「断面研磨・加工・観察・分析のトータルサ.html) - [電子部品の分析・解析・評価に関する技術論文「カールフィッシャー法による微量水分測定(以下略)」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/技術レポート集/tecinfo_it005.html) - [事務所設備工事に伴う電話不通のお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/news20181016.html) - [資料「液晶パネルの不良解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「液晶パネルの不良解析」を掲載しました.html) - [資料「表面分析のご紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「表面分析のご紹介」を掲載しました.html) - [資料「アイテス技術の底力［高分子材料分析編］」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「アイテスの底力［高分子材料分析編］」を.html) - [事例「sMIMによる半導体拡散層の解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「smimによる半導体拡散層の解析」を掲載しま.html) - [株式会社島津テクノリサーチと業務提携契約を締結しました](https://www.ites.co.jp/news/201808v2.html) - [対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソリューションサービス」を更新しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソ-4.html) - [資料「化学分析のトータルサポートサービス」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「化学分析のトータルサポートサービス」を.html) - [事例「パワーデバイスアナライザによる特性評価」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「パワーデバイスアナライザによる特性評価.html) - [事例「XPS(ESCA)によるポリマー表面分析(PA PI)」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「xpsescaによるﾎポイマー表面分析pa-pi」を掲載し.html) - [事例「IRラマン分析によるポリマーの分子構造解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「irラマン分析によるポリマーの分子構造解析.html) - [対象別メニュー「FPDのトータル・ソリューションサービス」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソ-3.html) - [対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソリューションサービス」を更新しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソ-2.html) - [資料「パワーサイクル試験機　過渡熱測定装置（T3Ster)のご紹介」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「パワーサイクル試験機　過渡熱測定装置（-2.html) - [資料「パワーサイクル試験機　過渡熱測定装置（T3Ster)のご紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「パワーサイクル試験機　過渡熱測定装置（t3.html) - [資料「汚染分析のご紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「汚染分析のご紹介」を掲載致しました。.html) - [資料「化学分析サービスのご紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/資料「化学分析サービスのご紹介」を掲載致しま.html) - [事例「EBSD法によるGaN / SiC、Sapphire基板界面の歪解析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「ebsd法によるgan-sic、sapphire基板界面の歪解析」を掲.html) - [2018年営業日変更のお知らせ](https://www.ites.co.jp/news/2018gw.html) - [2018年3月30日（金）合同説明会＠京都テルサに参加します。](https://www.ites.co.jp/news/rec20180330.html) - [2018年2月16日（金）SHIGAジョブフェアに参加します（会場：クサツエストピアホテル）](https://www.ites.co.jp/news/rec20180216.html) - [事例「EELS分析手法による膜質評価」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「eels分析手法による膜質評価」を掲載しまし.html) - [事例「バイポーラ素子 EBIC信号強度D-SIMS 不純物濃度分析」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「バイポーラ素子-ebic信号強度d-sims-不純物濃度分析」.html) - [社長年頭のご挨拶を掲載しました](https://www.ites.co.jp/news/news20180112.html) - [Vol.012　ラマンスペクトルの分解能検討　～数字と実際～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-012.html) - [Vol.009　装置の修理日記　～よみがえれ！ヘッドスペースオートサンプラー～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-009.html) - [Vol.011　装置の修理日記2　～よみがえれ！GC/MS～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-011.html) - [Vol.010　ウルトラミクロトームの紹介　～装置は性能で比較しよう～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-010.html) - [「EBSD法の紹介」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/「ebsd法の紹介」を掲載しました.html) - [事例「EBSD法による解析例の紹介」を更新しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「ebsd法による解析例の紹介」を更新しました.html) - [事例「光学顕微鏡　はんだPOL観察（偏光観察）」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「光学顕微鏡　はんだpol観察（偏光観察）」.html) - [事例「冷却断面イオンミリングによる観察」を掲載しました](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「冷却断面イオンミリングによる観察」を掲.html) - [Vol.008　ナノテスシンポジウムに参加してきました　～半導体材料へのラマン分析の応用～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-008.html) - [Vol.006　532nm vs 785nm　～ラマンのLASERどっちが有利なの？～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-006.html) - [Vol.005　フラクションコレクターの紹介　～HPLCのお供に～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-005.html) - [Vol.004　熱分解装置　～パイロホイルのいいところ～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-004.html) - [Vol.003　気楽に熱分解GC/MS　～アイテスの熱分解装置のご紹介～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-003.html) - [Vol.002　応力測定のご紹介　～顕微ラマン装置のマニアックな使い方～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-002.html) - [Vol.001　最新の顕微ラマン分光装置が導入されました～分析ヲタクの念願～](https://www.ites.co.jp/analyzenews/analyzeblog/vol-001.html) - [対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソリューションサービス」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソ.html) - [事例「FIB（集束イオンビーム装置）を使用したTEM試料作製」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「fib（集束イオンビーム装置）を使用したtem試.html) - [事例「局所的不良箇所に対するEBIC解析の有効性(SiC)」を追加しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/事例「局所的不良箇所に対するebic解析の有効性sic」.html) - [液槽冷熱衝撃試験　高温180℃対応を導入しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/液槽冷熱衝撃試験　高温180℃対応を導入しました.html) - [【来場御礼】DODA転職フェアへのご来場ありがとうございました。](https://www.ites.co.jp/news/rec201708.html) - [事例「EBSD法による解析例の紹介」を掲載しました。](https://www.ites.co.jp/analyzenews/20170321.html) - [アイテスホームページをリニューアルしました](https://www.ites.co.jp/news/20170131.html) - [びわこ放送「チェンジ！働き方」TV放映（2016/11/21放送）の動画が公開されました。](https://www.ites.co.jp/news/20170224.html) ## 固定ページ - [ホーム](https://www.ites.co.jp/) - [SiC 潜在欠陥検査装置 / 通電劣化シミュレーター ITS-SCX100](https://www.ites.co.jp/power-semi/its-scx100.html) - SiCデバイスは次世代パワーエレクトロニクスの中核材料として期待されていますが、バイポーラ劣化は製品信頼性にお - [採用情報](https://www.ites.co.jp/recruit.html) - アイテスの職場には、社歴に関係なく、成長できるフィールドがたくさんあります。 自らの飛躍や成長を通して、ともにアイテスの発展に貢献していきたいという方からのご応募をお待ちしております。 - [個人情報保護方針](https://www.ites.co.jp/company/footerlink.html) - [ＳｉＣウェハ欠陥検査　受託測定サービス](https://www.ites.co.jp/power-semi/sic.html) - [SiCパワー半導体の評価・解析](https://www.ites.co.jp/power-semi.html) - [[ITES]SiC Brochure Download](https://www.ites.co.jp/power-semi/sic-brochure-download.html) - [SiC defect inspection service](https://www.ites.co.jp/power-semi/sic_en.html) - [会社・事業の沿革](https://www.ites.co.jp/company/history.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、タッチパネル、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [ENGLISH](https://www.ites.co.jp/english.html) - [お問い合わせ](https://www.ites.co.jp/contact.html) - アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む解決提案型企業です。 最先端技術・産業にかかわる分析解析、評価、検査、修理などの専門分野で、最良の技術サービスと製品をお届けできる企業として成長を続けています。 課題解決の喜びを共有しいつもお客様とともに歩む信頼のアイテス、でありたいと願っています。 - [企業情報](https://www.ites.co.jp/company.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、タッチパネル、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [安全衛生方針](https://www.ites.co.jp/company/policy_s.html) - [アイテスのSDGsの取り組み](https://www.ites.co.jp/sdgs.html) - [事業所案内](https://www.ites.co.jp/company/office.html) - [募集要項 - 法人営業(受託分析)](https://www.ites.co.jp/recruit/career-technicalsales.html) - [募集要項 - 総務（人事）](https://www.ites.co.jp/recruit/soumu-jinji.html) - [トップ・メッセージ　2026年　年頭のご挨拶](https://www.ites.co.jp/company/topmsg.html) - 「真剣に挑み、未来をつくる。」 Challenge earnestly. Create the future - [トップ・メッセージ　2025年　年頭のご挨拶](https://www.ites.co.jp/company/topmsg25.html) - 「自律分散型社会の実現、サーキュラ―エコノミー(循環経済)への転換を促進させるため次世代エネルギー技術の進化発 - [募集要項 - 法人営業(機器修理)](https://www.ites.co.jp/recruit/career-technicalsales-tsc.html) - [募集要項 - フィールドエンジニア](https://www.ites.co.jp/recruit/career-fieldengineer.html) - [FAQ　よくある質問](https://www.ites.co.jp/recruit/faq_entry.html) - アイテス入社後について、よくある質問にお答えします。 - [職場風景](https://www.ites.co.jp/recruit/office.html) - [募集要項 - 化学分析エンジニア](https://www.ites.co.jp/recruit/career-science-engineer.html) - [募集要項 - 電子回路解析エンジニア](https://www.ites.co.jp/recruit/career-kairoengineer.html) - [採用担当者より](https://www.ites.co.jp/recruit/message.html) - [企業理念](https://www.ites.co.jp/company/policy.html) - [アイテスについてもっと知る](https://www.ites.co.jp/company/policy_top.html) - [企業行動指針](https://www.ites.co.jp/company/policy_a.html) - [営業](https://www.ites.co.jp/recruit/voice-sales-2016.html) - [社員からのメッセージ](https://www.ites.co.jp/recruit/interview.html) - [エンジニア](https://www.ites.co.jp/recruit/voice-engineer-2016.html) - [技術資料](https://www.ites.co.jp/techinfo.html) - [環境方針](https://www.ites.co.jp/company/policy_e.html) - [教育制度](https://www.ites.co.jp/recruit/recruit-7.html) - [アクセスなし](https://www.ites.co.jp/アクセスなし.html) - [品質方針](https://www.ites.co.jp/company/policy_q.html) - [ダウンロードサービスログイン](https://www.ites.co.jp/s-users/login.html) ## 分析ＴＯＰ - [技術資料](https://www.ites.co.jp/analyze/techinfo.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、タッチパネル、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [品質技術サービス TOP](https://www.ites.co.jp/analyze/analyze.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、タッチパネル、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [装置一覧](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi-2.html) - [IR-OBIRCH 解析装置 原理紹介](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi/obirch/genri.html) - [チップ抵抗の観察事例](https://www.ites.co.jp/analyze/chip_resistance.html) - [技術資料2](https://www.ites.co.jp/analyze/techinfo-2.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、タッチパネル、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [故障解析／構造解析](https://www.ites.co.jp/analyze/故障解析／構造解析.html) - [走査型電子顕微鏡+集束イオンビーム装置 CrossBeam FIB](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi/x-beam_fib.html) - [トグルスイッチのX線観察](https://www.ites.co.jp/analyze/toggle-switch_ct.html) - [透過観察と画像処理技術の併用事例](https://www.ites.co.jp/analyze/transmission_observation.html) - [MLCCクラック　X線観察](https://www.ites.co.jp/analyze/mlcc_ct.html) - [ACアダプターのX線観察](https://www.ites.co.jp/analyze/ac-adapter_ct.html) - [電解コンデンサのX線観察](https://www.ites.co.jp/analyze/condenser_x-ray.html) - [積層基板の斜めCT観察](https://www.ites.co.jp/analyze/naname-ct_board.html) - [インダクタコイルの観察事例（直交CT観察＋断面観察）](https://www.ites.co.jp/analyze/inductor_observation.html) - [IC型コイル観察事例](https://www.ites.co.jp/analyze/ic_coil.html) - [BGAはんだクラック観察事例X線透視＆直交CT](https://www.ites.co.jp/analyze/xray_ct_inspection_equipment.html) - [表面実装LED](https://www.ites.co.jp/analyze/led_badcase.html) - [装置スペック](https://www.ites.co.jp/analyze/equipment_specifications.html) - [親知らず（第三大臼歯）のX線CT像（直交CT）](https://www.ites.co.jp/analyze/wisdom_tooth_xray.html) - [リフローシミュレーター](https://www.ites.co.jp/analyze/reflow_simulator.html) - [マイクロフォンの観察事例X線透視＆直交CT](https://www.ites.co.jp/analyze/microphone_observation_example.html) - [マイクロフォンの観察事例（直交CT観察）](https://www.ites.co.jp/analyze/mic_observation_orthogonal.html) - [IR-OBIRCH 解析装置 解析事例紹介](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi/obirch/jirei2.html) - [透過型電子顕微鏡](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi/tem.html) - [IR-OBIRCH 解析装置](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi/obirch.html) - [オージェ電子分光分析](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi/aes.html) - [フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-fpc.html) - [EBSDによる解析例（鉄板）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-iron_plate.html) - [EBSDによる解析例（高融点はんだ）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-solder.html) - [EBSDによる解析例（ビア）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-cu.html) - [EBSDによる解析例（パイプ）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-pipe.html) - [EBSDによる解析例（ネジ）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-screw.html) - [EBSDによる解析例（セラミック）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-ceramic.html) - [EBSDによる解析例（シリコンウエハ）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-si-wafer.html) - [EBSDによる解析例（カニカン）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-kanikan.html) - [EBSDによる解析例（ウィスカ）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-whisker.html) - [EBSDによる解析例（Chip）](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-chip.html) - [アルミ溶接部（スポット溶接）の結晶解析例](https://www.ites.co.jp/analyze/al-welds.html) - [はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例](https://www.ites.co.jp/analyze/solder-joint.html) - [BGA（Ball Grid Array）の結晶解析例](https://www.ites.co.jp/analyze/bga.html) - [Cu板における圧縮前後での変化観察](https://www.ites.co.jp/analyze/cu-board.html) - [EBSDパターン(菊池パターン)](https://www.ites.co.jp/analyze/ebsd-pattern.html) - [金ワイヤーボンド接合部 断面観察/解析 例](https://www.ites.co.jp/analyze/gold-wire-bond.html) - [パワーデバイスのトータルソリューションサービス](https://www.ites.co.jp/analyze/qpd20170628.html) - [FPDのトータルソリューションサービス](https://www.ites.co.jp/analyze/fpd20180528.html) - [ご依頼の流れ](https://www.ites.co.jp/analyze/ご依頼の流れ.html) - [LEDのトータルサポートサービス](https://www.ites.co.jp/analyze/qled20170628.html) - [化学反応機構研究所](https://www.ites.co.jp/analyze/chemireact_top.html) - [分析対象](https://www.ites.co.jp/analyze/jirei-2.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、タッチパネル、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [装置別メニュー](https://www.ites.co.jp/analyze/souchi.html) ## 故障解析、構造解析 - [パワー半導体の解析サービス](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/power_semiconductor_analysis.html) - [SiCにおけるPL発光箇所のTEM観察](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/tem-of-pl-sites-in-sic.html) - [Talos F200E導入のお知らせ](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/talos-f200e-notice.html) - [チップ抵抗の故障解析例](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/chipresistor_failure.html) - [信頼性試験によるスペック確認と故障解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/reliability_spec_breakdown.html) - [故障解析・構造解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo.html) - 不良/故障原因を究明する、不良/故障箇所の絞り込みから物理解析/化学分析までの一貫した不良解析/故障解析サービスを提供します。 - [FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/fib_sem_helios_5_uc_notice_introduction.html) - [短波長レーザーによるOBIRCH解析サービス](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/gl_obirch.html) - [裏面IR-OBIRCH解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/ems.html) - [マイクロプローバー、マニピュレータによる 電気的特性の測定](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/electrical_properties/micropro.html) - 微細配線、極小パッドへの高精度なプローブが必要となる液晶ディスプレイのTFT測定や半導体デバイスの電気的特性測定が可能です。 - [液晶化合物のNMR分析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/nmr-analysis.html) - [パワーデバイス故障箇所・Slice＆View 三次元再構築](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/3d-reconstruction.html) - [液晶パネルのTFT特性評価](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/electrical_properties/tft-panel_evaluation.html) - [その他](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others.html) - [パワーデバイスの故障解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/jirei_powerdevice-2.html) - [クロスビームFIBによる断面SEM観察](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/x_sem.html) - [TEMによる電子部品・材料の解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/jirei_001.html) - [断面発光解析による橙色LEDのリーク不良解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/jirei_led002.html) - [TEMによる結晶材料の解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/temjirei_002.html) - [機械研磨による半導体の観察例](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/sample_processing/example-observation-semiconductor_mechanical-polishing.html) - [スイッチ接点不良の解析事例](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/switch-contact-failure.html) - [酸化物系全固体電池の故障解析事例](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/failure-case-study_batteries.html) - [海外製 液晶ディスプレイの良品解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/overseas-lcds-analysis.html) - [海外製ディスプレイの不良解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/imported_display.html) - [LCDパネルの良品解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/lcd-non-defective-product-analysis.html) - [液晶パネルの不良解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/lcd-defect-analysis.html) - [FIB（Focused Ion Beam)](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/sample_processing/fib.html) - [OBIRCH/発光解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis.html) - [電気特性測定](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/electrical_properties.html) - [EBAC(吸収電流）法による不良箇所の絞込み](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/ebac.html) - [FIB断面でのLV-SEMとEBIC法による拡散層の観察](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/diffusion-layer_analysis/diffusion.html) - FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM / EBICによる拡散層の形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造の解析ができます。 - [発熱解析による電子部品の故障箇所特定](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/jirei_heat.html) - [選択波長におけるLED発光解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/led_ems.html) - Green Deviceとして普及しつつある白色LEDの光源に使用されている青色LEDチップの順バイアス、逆バイアス時のリーク不良箇所を特定します。 - [SiCデバイスの裏面発光解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/sic_ems.html) - [ICの不良解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/ic_failure_analysis.html) - [拡散層観察](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/diffusion-layer_analysis.html) - [FIBSEM/TEM](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem.html) - [試料加工](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/sample_processing.html) - [LEDの不良解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/others/jirei_led003.html) - 高度な試料作製技術とLSI用の故障解析装置を応用し照明、表示用LEDの 不良解析を行い不点灯や輝度劣化の原因を調査します。 - [EELS分析手法による膜質評価](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/eels.html) - [静電破壊した橙色LEDの不良解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/obirch_photoemission_analysis/jirei_led004.html) - [GaN HEMT不良部の結晶欠陥解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/fib-sem_tem/ganhemt.html) - GaN HEMT（化合物半導体）にて、電気的な不良箇所を特定後、断面TEMによる結晶解析を行い、リークの原因となる転位の種類を同定し結晶成長の不良を可視化できます。 - [sMIMによる半導体拡散層の解析](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/diffusion-layer_analysis/smim.html) - [FIB（集束イオンビーム装置）を使用したTEM試料作製](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/sample_processing/temshiryo.html) - [発光解析のための半導体の裏面研磨](https://www.ites.co.jp/structure/furyo/sample_processing/jirei_kenma001.html) ## 断面観察サービス - [セラミック基板・セラミックパッケージの観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/observation_of_ceramic.html) - [断面観察像の比較　金属顕微鏡/W-SEM/FE-SEM](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/cross-section-comparison.html) - [各種組成のワイヤボンディングの断面観察例](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/wire-bonding-observ.html) - [LED照明における不点灯解析](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/led_lighting_failures.html) - [ワイヤボンディングの形状観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/wire-bonding.html) - [機械研磨によるチップレットパッケージ構造確認](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/chiplet-package-structure-inspection.html) - [断面イオンミリング（CP）加工時に発生する熱の影響](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/cp_heat_effects.html) - [冷却 (クライオ)イオンミリング断面加工例 (ゴム製品)](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/cooling-cp.html) - [劇物フリーのエポキシ樹脂硬化温度について](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/free-epoxy-resin.html) - [波長分散型X線分光法(EPMA)による電子部品の元素分析](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/jirei_wave.html) - [FIB加工からSEM観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/x_beam.html) - [機械研磨によるトラッキングカメラ断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/camera-sectional-observation.html) - [機械研磨によるCMOSイメージセンサ断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/cmos-sectional-observation.html) - [SACはんだとNiパッド界面の化合物の解析例](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/compound-ni-pad-interface.html) - [研磨観察・計測サービス](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/kenma.html) - [CP加工装置 Arblade5000 ワイドエリア断面ミリング](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/arblade5000.html) - [研磨観察・計測サービス](https://www.ites.co.jp/section/index/measuring_technologies/kenma.html) - [FE-SEM観察（Alワイヤボンド部結晶粒観察）](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/jirei_fesem002.html) - [薬液処理による金属組織観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/metal-structure_chemical-treatment.html) - [基板実装部品の各種断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/cross-sectional-view.html) - [基板実装部品の断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/board-mounted-components.html) - [COG実装の導電粒子形状観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/cog_mounting-observation.html) - [光学顕微鏡　はんだPOL観察（偏光観察）](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/solder-pol.html) - [発光解析のための半導体の裏面研磨加工](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/back-surface-polishing.html) - [ワイヤーソーによる切断加工](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/wire-saw.html) - [ワイヤーソーによる切断加工](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/wire-saw.html) - [2D/3D観察及び測長に関するDXサービス](https://www.ites.co.jp/section/index/measuring_technologies/dx_2d3d_observation.html) - [ワンショット３D形状測定機](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/oneshot_3d_measure.html) - [液晶パネルに実装されたICチップ表面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/lcd-panel_ic-chip_surface_observation.html) - [アルミ溶接部(スポット溶接)の断面硬度](https://www.ites.co.jp/section/index/measuring_technologies/aluminum_cross_section_hardness.html) - [太陽電池モジュールの断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/jirei_pv_danmen.html) - [形状測定レーザマイクロスコープ（VK-X200)](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/vk200.html) - [ウィスカ観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/whisker.html) - ウィスカとは、金属表面からひげ状に結晶が成長したもので、ZnめっきやSnめっきで発生する事がよく知られています。またウィスカは電子部品の端子から発生するものと思われがちですが、平面部品のめっき表面からも発生します。 - [表面実装電子部品の断面研磨サービス](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/jirei_hyomen.html) - [ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/microtome_glasses.html) - [真円度/円形度計測](https://www.ites.co.jp/section/index/measuring_technologies/roundness_measurement.html) - [3次元寸法測定サービス](https://www.ites.co.jp/section/index/measuring_technologies/size.html) - [EDSによる分析事例（Cuパッドの接合界面）](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/eds_analysis.html) - [EPMA分析における７つの分光結晶](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/analysing_crystal.html) - [機械研磨による3D構築](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/3d_construction.html) - [SEMによる破断面観察(カニカン)](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/sem_fracture.html) - [卓上型SEM（電子顕微鏡）](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/microscope_crack.html) - [各種顕微鏡の視野サイズ](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/microscope.html) - [ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/whisker_flat.html) - [似て非なる物の解析基本手法](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/similar_and_non-similar.html) - [SEMの観察条件による見え方の違い](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/sem_appearance.html) - [IGZO TFTの電気特性測定及び断面TEM構造解析](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/igzo.html) - [EBSD法によるGaN/SiC、Sapphire基板界面の歪解析](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/ebsd-gan.html) - [断面加工・観察方法の紹介](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/observation_method.html) - [ラミネートフィルム異物分析事例](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/laminate-film_ibutu.html) - [機械研磨法による加工ダメージ](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/machine_polishing_damage.html) - [機械加工による半導体/パッケージの部分加工](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/jirei_icpkenma.html) - [ミクロトームによる平面傾斜切削サービス](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/microtome_flat.html) - ミクロトームは断面を作製するだけではありません。 使い方次第では、平面切削が出来るのです！ ミクロトームで平面切削した例をご紹介します。 - [断面観察用の試料作製](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/siryosakusei-2.html) - [断面研磨・加工観察・分析](https://www.ites.co.jp/section/index.html) - [断面観察によるはんだのクラック率測定](https://www.ites.co.jp/section/index/measuring_technologies/crack_size.html) - [EBSD法による解析例](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/ebsd.html) - [計測技術](https://www.ites.co.jp/section/index/measuring_technologies.html) - [元素分析](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis.html) - [表面観察・断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies.html) - [断面研磨･断面加工･平面加工](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies.html) - [断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋)](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/siryosakusei.html) - [EBSD法の紹介](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/ebsd-info.html) - [エネルギー分散X線分光法(EDS)](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/energy_eds.html) - [デジタルマイクロスコープによる外観観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/microscope_appearance.html) - [EPMAによる微量元素の検出](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/epma_element.html) - [EPMAによる状態分析](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/epma_condition.html) - [EPMA分析](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/epma.html) - [EPMA分析例](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/jirei_epma_capacitor.html) - [EDX分析時の加速電圧の違いによる変化](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/edx_acceleration_voltage.html) - [劣化破断したカニカンの分析と超微小硬度測定](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/hardness-measurement.html) - [低真空SEMによる化粧品の観察・元素分析](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/semcosme.html) - [信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/pd_free_handa.html) - [ダイヤモンドのクラリティ観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/microscope_diamond.html) - [MEMS部品の構造解析](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/mems.html) - [信頼性試験に伴う経時変化観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/test_observe.html) - [クロスセクションポリッシャー（CP）法による断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/bservation_technologies/cryo-cp-2.html) - [ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/laminate-film_fish-eye.html) - [ミクロトームによる断面作製](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/microtome_danmen.html) - [Liイオン電池セパレータの解析](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/li-ion-battery_analysis.html) - [塗膜の観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/tomaku-observe.html) - [CCDカメラモジュールの断面加工観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/ccd_danmen.html) - [BGA・CSP はんだの評価](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/jirei_bgahanda.html) - [FE-SEM観察（Alワイヤボンド部結晶粒観察）](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/fe-sem.html) - [実装部品接合部の解析](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/jissou_setsugou.html) - [試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/epoxy_resins_hardening.html) - [コネクタめっきの断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/connector_plating.html) - [大型試料の断面観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/large_sample.html) - [アルミ溶接部(スポット溶接)の観察](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/al_weld_observe.html) - [銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/copper_danmen.html) - [角型Liイオン電池の構造解析](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/jirei_lion001.html) - 市販角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡および極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細構造の解析、元素分析が可能です。 - [パッケージ・実装部品の不良解析／破断部の解析](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/jissou_hadan.html) - パッケージ・実装部品の不具合に対して、非破壊から破壊解析までさまざまなアプローチでお客様のご要望にお応えいたします。 - [塗膜観察加工](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/coatingfilm-2.html) - [実装部品・電子部品の断面研磨](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/buhin_danmen.html) - [ミクロトームは刃（ナイフ）が命](https://www.ites.co.jp/section/index/processing_technologies/microtome_knife.html) - [低真空SEMによる化粧品の観察・元素分析](https://www.ites.co.jp/section/index/elemental_analysis/semcosme.html) - SEM観察が一般化されて半世紀。あらゆる分野にてSEM観察は重要な観察手段となっています。SEMの原理は電子を試料にあて、試料からでてくる2次電子、反射電子を像としています。SEMには大きくわけて2種類あり、真空度の違いにより高真空SEMと低真空SEMがあります。今回、化粧品の観察より低真空SEMの原理と利点をご紹介します。 ## 化学分析サービス - [エッチング処理による金属間化合物の観察例](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/etching_intermetallic.html) - [GCMSによる天然成分の識別](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gcms_natural_components.html) - [形状記憶合金の変態温度測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/shape-memory-alloy-measurement.html) - [分光蛍光測定による励起／蛍光特性の把握](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/excitation_fluorescence.html) - [DSC（示差走査熱量分析）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/dsc.html) - DSC（示差走査熱量分析）は試料の温度変化によって発生した基準物質との温度差から、 熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを観察する分析手法です。 - [表面・材料・異物・汚染分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index.html) - [ゴム製品の表面付着物におけるFT-IR分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir-surface-analysis.html) - [イオンクロマトグラフによるイオン分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ion-chromatography-analysis.html) - [変質した樹脂の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/degraded-resin-analysis.html) - [テープ粘着層の成分分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/adhesive-layer-analysis.html) - [オージェ電子分光法による金めっき変色部の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/analysis_discolored_areas.html) - [BET法による粉末ゼオライトの比表面積測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/zeolite-powder.html) - [DMAによる熱劣化ゴムの評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/dma-of-heat-degraded-rubber.html) - [成分・材料分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis.html) - [XPSによる正極活物質の状態分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/xps_analysis_cathode.html) - [ゴム材料の反発性・振動吸収性評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/rubber_resilience_absorption.html) - [カプセル剤粉体のX線CT分析とEDX分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/capsule_xrayct_edx.html) - [CFRPの動的粘弾性測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/cfrp.html) - [ポアソン比測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/poissons-ratio-2.html) - [高伸度・軟質材料用伸び計によるゴムの引張試験](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/tensile-test.html) - [有機物の成分分析～FT-IRとGC/MS～](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_gc-ms.html) - [FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir-edx-material-analysis.html) - [ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/lib-positive-electrode-active-material.html) - [光学フィルムの光透過特性](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/light-transmission-characteristics.html) - [顕微FT-IRイメージング測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_imaging-measurement.html) - [X線光電子分光分析器による化学状態分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/xps.html) - [顕微FT-IR紹介](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/microscopicft-ir.html) - [TOF-SIMS分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/tof-sims_analysis.html) - [動的光散乱法による無機粒子の粒径測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/particle_size_measurement.html) - [ラミネートフィルムの複屈折測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/laminate-film_birefringence-measurement.html) - [反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/polycarbonate.html) - [HDPE・LDPE比較分析​](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/hdpe_ldpe_comparative.html) - [材料劣化解析（PETの分解・劣化）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/chemireact_pet.html) - [フタル酸エステル類の1H NMR分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/chemireact_phthalates_nmr.html) - [異種材料界面剥離メカニズム①](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/chemireact_interface-peeling.html) - [材料変色原因解明事例](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/chemireact_material_discolor.html) - [正極活物質の粒径評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/evaluation_particle_size.html) - [ポアソン比測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/poissons-ratio.html) - [化学分析　おまかせサービス](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/chemical-analysis-service.html) - [赤外分光法とラマン分光法の比較](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/infrared_raman_spectroscopy.html) - [in-situ材料強度試験](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/in-situ_material_strength_testing.html) - [ラマンスペクトル解析（UV硬化樹脂）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/raman_spectros_analysis.html) - [不織布シートの細孔分布評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/pore-distribution-evaluation_nonwoven-fabric-sheets.html) - [二次イオン質量分析法（SIMS)](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/secondary-ion-mass-spectrometry-sims.html) - [GC/MS分析のための誘導体化](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gc-ms_derivatization_analysis.html) - [GC/MSを用いたマイカシート接着剤成分分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gc-ms_micasheet_analysis.html) - [全固体電池用原料の組成分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/analysis-on-batteries.html) - [異物分析・成分分析　顕微ラマンとFTIR比較](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/comparison-raman-ftir.html) - [ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/viscoelasticity-measurement.html) - [SDGｓへ貢献　材料／リサイクル原料比較分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/contribution_to_sdgs.html) - [材料と熱の関係 - 熱分析の紹介](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/introduction_thermal_analysis.html) - [光学顕微鏡とSEMの使い分け​](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/opticalmicroscope_sem.html) - [フタル酸エステル類のスクリーニング分析​](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/phthalicacid_screening.html) - [低分子シロキサン定量分析​](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/low_molecular_siloxane.html) - [液晶中の微量金属元素分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/metal_element_analysis_liquid_crystal.html) - [UV照射によるフィルム物性変化の解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/uv_film_analysis.html) - [DMA（動的粘弾性測定）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/dma-2.html) - DMA（動的機械測定）は高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と 位相差から、弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。ガラス転移、 緩和など高分子の分子運動や分子構造に関わる情報を得ることができます。 - [ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/epma_guide-net-map.html) - [XPSによるバンドギャップの簡易測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/xps_band-gap.html) - [XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/xps_discoloration.html) - [SEM/EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/sem_edx.html) - [TOF-SIMSによる界面活性剤残渣の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/residue-2.html) - [微量汚染物のTOF-SIMS分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/tof-sims.html) - [顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/raman_crystallinity-analysis.html) - [液晶成分のGCMS分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gcms_lcd-2-2.html) - [有機/高分子素材の構造解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/techmatrix.html) - 材料開発やその製造を行う上で、設計どおりの素材（分子構造）を得られているかの確認は重要です。 化学反応により、主成分とともに副生成物が発生することはまれではなく、収率を挙げるために、分子設計段階で反応機構を描き、そして合成・重合にて得られた材料の分析は欠かせません。我々アイテスは、材料開発/製造における素材の分析および分子構造解析サービスをご提供いたします。 - [顕微ラマンによる金属腐食の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/raman_metaloxide.html) - [超微小硬度計による負荷除荷モード＆カラーフィルター測定例](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/micro_hardness_tester.html) - [反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/reaction-pyrolysis-gcms.html) - [GC-MSによる香り成分の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gc-ms_analysis_fragrance.html) - [微小異物のGCMS分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/ibutu_gcms.html) - 微小異物の解析、あきらめていませんか？ アイテスでは微小異物（有機物）の分析方法をご提案します。 - [有機溶剤中の不純物分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/impurity_analysis_organic_solvents.html) - [TMA（熱機械測定）のご紹介（半導体封止材）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/tma-2.html) - 熱機械測定（TMA）は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を変化させ、試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度、などの情報が得られます。 - [TOF-SIMSの事例　広域イメージマップ](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/tof-sims_widearea_imagemap.html) - [表面分析ガイド](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/surface-analysis-guide.html) - [超微小硬度計による材料評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/ultra-micro-hardness-tester.html) - [XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/xps_angle-resolved.html) - [岩石中鉱物のラマンスペクトル取得サービス](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/acquisitionservice_ramanspectrum.html) - [高温GPC（SEC）による樹脂の分子量測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/high_temperature_gpc.html) - [ナイロン6.10の構造解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/nylon6-10.html) - [高分子構造変化の解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/macromolecule_analysis.html) - [ヘッドスペースGC-MS分析法によるアウトガス分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gcms_outgas.html) - [GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gc_ms.html) - 残留有機溶剤・低分子物質の分析に最も用いられる分析方法です。 - [GC-MS分析装置ガイド](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gc-ms_analyzer_guide.html) - [質量分析ガイド](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/mass_spectrometry_guide.html) - [化学分析の流れ](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/chemical-analysis_flow.html) - [MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/maldi-tofms_polymer.html) - [分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/analyze_and_chemireact.html) - [有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？-フタル酸エステル類の1H-NMR分析編](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/phthalates_nmr_jirei.html) - [微小異物分析のためのサンプリング技術](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/sampling.html) - 異物分析事例紹介 - [液晶ディスプレイ材料分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/liquid_crystal_display_material_analysis.html) - [溶媒抽出によるGC-MS分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/solvent_extraction_gc-ms_analysis.html) - [有機材料、高分子材料の分析評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/analytical_evaluation_of_organic-materialpolymer_material.html) - [EBSDの事例　２つの黄銅材を比較](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ebsd_example.html) - [熱分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis.html) - [微小異物分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis.html) - [カーボン材料のラマン分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/raman_analysis_of_carbon.html) - [熱脱着GC-MSによるポリマー中の添加剤不具合解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/additive_defects_polymers.html) - [重合度、分子量の差をIR分析で検証](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_dp_mwdifference.html) - [TG-DTA（熱重量示差熱分析）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/thermal-analysis/tg-dta.html) - エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を加熱してゆくと、ある温度範囲で急速に剛性と粘度が低下し流動性が増す。このような温度をガラス転移温度(Tg)と呼ぶ。 近年、高温環境下で使用される電子部品、あるいはパワーデバイスパッケージなどはより高いガラス転移温度を持つ樹脂材料が求められている。 ここではTMA（Thermal Mechanical Analysis) と DMA (Dynamic Mechanical Analysis) によるガラス転移点の測定例を示す。 - [TOF-SIMS の事例 「Li の分析」](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/tof-sims_li.html) - [オージェ電子分光法による接合部分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/jirei.html) - [有機物のTOF-SIMS分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/tof-sims_organic.html) - [AFM（原子間力顕微鏡）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/afm-2.html) - [液晶材料分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/liquid_crystal.html) - [色差計による塗料の色評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/color-evaluation.html) - [イオンクロマト分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ion-chromatography.html) - [イオンクロマト分析事例（固体表面）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ion-chromatography_jirei.html) - [プラスチック成形品の歪、複屈折評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/plastic_hizumi.html) - [ABS樹脂のFT-IR分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/abs_ft-ir.html) - [WPAによる製品/素材の歪、複屈折評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/wpa.html) - [ポリエチレンのFT-IR分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/polyethylene_ft-ir.html) - [ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/polymer_ft-ir.html) - [不具合の原因を化学の視点で解決します。](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/chemical-bug_solution.html) - [透明樹脂のFT-IR分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_clear-resin.html) - [偏光フィルム、および光拡散フィルムの劣化分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_film.html) - [光硬化樹脂中 重合開始剤の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/polymerization-initiators.html) - [材料の信頼性試験から化学分析までご対応します。](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/seihinseino.html) - [ICP発光分光分析（ICP-AES）](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/icp-aes.html) - [SEG-LCDパネル表示不良解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/seg-lcd.html) - [色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/color_difference_meter.html) - [EGA-MS分析、熱脱着・熱分解GC-MS分析によるPTP梱包シート分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/gcms_polymer_jirei.html) - [樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか？](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/resin_ft-ir.html) - [パネル偏光板劣化解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/deterioration.html) - [透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/haze.html) - [樹脂材料（半導体/LED用途）の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/resin.html) - [クロマトグラフィーによる有機物定性・定量分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/chromato.html) - 有機物は、ヘテロ元素やハロゲン元素が組成に含まれている場合、電気陰性度の違いから生ずる極性により、分子間力（クーロン力）が発生します。極性を有しない有機物質にも小さな分子間力（ファンデルワールス力）を生じます。クロマトグラフィーによる分析はこれら分子間力の違いを利用した分析です。質量分析装置とのタイアップにより有機物の分離から同定、および定量分析が可能です。 - [顕微ラマンによる多層材料分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/raman_film.html) - [イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_organic-multilayer.html) - [IRラマン分析によるポリマーの分子構造解析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/ir-raman.html) - [異物分析のための試料加工技術](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/ibutu_kakou.html) - [イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/minute-foreign-matter_analysis/imaging.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、タッチパネル、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_liquid.html) - [FT-IRによる樹脂硬化度の測定](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/ft-ir_hardening.html) - [表面分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis.html) - [XPS(ESCA)によるポリマー表面分析(PA PI)](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/surface_analysis/xpsesca-2-2.html) - [反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析](https://www.ites.co.jp/chemistry/index/component_analysis/reaction-pyrolysis-gcms.html) ## 信頼性保証サービス - [促進耐候性試験【キセノンウェザーメーター】](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/weather_meter.html) - [試験設備　空き状況](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/試験設備　空き状況.html) - [信頼性試験・評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index.html) - [減圧繰り返し試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/repeated-vacuum-test.html) - [加圧繰り返し試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/pressurization-repeat-test.html) - [スクラッチ試験後の表面・断面解析](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/scratch-aftertest.html) - [パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/joint-reliability-test.html) - [プリント基板の超音波顕微鏡観察（透過法）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/ultrasonic-pcb.html) - [半導体パッケージの超音波顕微鏡観察](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/ultrasonic_inspection.html) - [超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/observation-adhesion-state.html) - [超音波顕微鏡　Scanning Acoustic Microscope (SAM)](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/sam.html) - 半導体パッケージ、基板、電子部品等の接合部及び材料の内部及び密着性状態の不具合の検出に大変威力を発揮する装置です。観察は非破壊にて実施が可能です。 - [接着剤の耐湿熱試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/adhesive_moisture_heat_test.html) - [実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/ink_immersion.html) - [3D形状測定機による加熱変形観察（有機基板編）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/organic_substrate.html) - [非破壊検査・超音波顕微鏡観察の動画](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/movie_onpa.html) - 超音波を利用した超音波顕微鏡での観察により、半導体パッケージ、電子部品及び材料などの内部の構造や界面剥離、ボイド、クラックを観察することが出来ます。 非破壊での観察を行う場合には有効な試験です。 - [高度加速寿命試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/hast.html) - [接続/接合/接着の導通（低抵抗）評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/dotsu.html) - [電気特性評価の適用例](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/dcevaluation.html) - [海外製部品・製品　品質評価サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/abroad.html) - [ゴム熱老化試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/rubber-heat-agingtest.html) - [3D形状測定機による基板変形観察](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/substrate-deformation.html) - [外観観察及び計測サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/visual_measurement.html) - [パワーモジュールパッケージ樹脂のひずみ測定](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/power-module-package-resin-strain.html) - [実装基板の各種評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/evaluation_mounting-board.html) - [恒温恒湿試験中の槽内撮影](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/inside-tank-photography.html) - [積層セラミックコンデンサ連続通電試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/condenser_power_supply_test.html) - [吸湿ひずみの測定](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/hygroscopic_strain.html) - [X線透視・CT検査装置](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/xsenct.html) - [冷熱衝撃試験、断面研磨による異種材料界面観察](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/reinetsu_compmat.html) - 製品を構成する材料素材は、それぞれ固有の熱膨張係数を有します。単一素材では問題にならなかった熱サイクルによる異種素材間の密着不良、および界面剥離は、複合素材で構成される製品にとっては致命的となる場合が多くあります。製品評価として冷熱衝撃試験は必須であり、弊社装置でご対応可能です。 - [アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/kasokujumyo.html) - 電子部品の寿命予測解析の手法 - [高温下での材料評価試験および焼成サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/kouonshosei.html) - [恒温恒湿下での材料評価試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/kouonzairyo.html) - [太陽電池の信頼性試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/pv_shinrai.html) - [OLEDの信頼性試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/oledshinrai.html) - OLED とは Organic Light Emitting Diode の頭文字を取ったもので、有機化合物の層に電流を流すと発光する原理を利用したデバイスです。 ディスプレイ及び照明への応用が進んでおり、材料及び封止技術等の信頼性評価の必要性も高まっています。 - [高温試験 / 高温動作試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/kouon2.html) - [LCDの信頼性試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/lcdshinrai.html) - FPD良品解析、高度な技術力でお応えする分析解析会社です。 - [低抵抗In-Situ常時測定試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/insitu_low.html) - 多層基板や微細配線基板等の評価において、低抵抗値での測定を行なうことがあります。 In-Situ常時測定試験は、信頼性試験環境下においてのストレスを印加しながら導通(低抵抗値)の変化を常時測定することが出来ます。 - [イオンマイグレーション試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/ionic_migration.html) - イオンマイグレーション発生の要因は技術の進歩によってますます複雑に絡んできています。 評価の概略及び試験実施の内容及び使用している常時測定(In-Situ)装置の有用性について紹介します。 - [信頼性評価試験装置](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/buzai.html) - エレクトロニクスの様々な分野で利用される有機材料の信頼性試験（温度、湿度、冷熱衝撃などの環境ストレス）をご提案します。 - [恒温恒湿試験/恒温恒湿バイアス試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/kouon.html) - [In-Situ 常時測定 信頼性評価試験サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/in_situ.html) - [高温対応 車載用電子部品評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/caron.html) - [ディスクリート半導体(ダイオード)のIOL試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/discrete_semiconductor.html) - [太陽電池In-Situ測定（常時測定）・特性評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/pv_insitu.html) - [貫通電極(TSV)の信頼性評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/tsv.html) - [プリント配線基板(PWB)の評価試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/pwb.html) - [電源装置の評価試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/powersupply.html) - [プリント回路実装基板(PCB)の評価試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/pcb.html) - [コンデンサ高温負荷(直流連続)試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/condensare.html) - [太陽電池のEL発光観察](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/jirei_pv007el.html) - 太陽電池のEL発光(Electro-Luminescence)は太陽電池セルあるいはモジュールに対し順方向バイアスに印加することでPN接合より発光する現象をさします。 このEL発光を検出し画像化することで太陽電池の性能評価、不具合箇所の特定を行います。 結晶Si系、薄膜（アモルファスSi系、化合物系、有機系）などのEL発光観察が可能です。 - [冷熱衝撃試験のひずみ測定](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/strain-measurement.html) - [液晶ディスプレイの輝度・⾊度ムラ評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/color_irregularity_evaluation.html) - [パワーデバイスアナライザによる特性評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/poweranalyzer.html) - [液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/evaluation-liquid-crystal-displays.html) - [結露サイクル試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/condensation-cycle-test.html) - [はんだ耐熱性試験(SMD)](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/solder_heat_resistance_test.html) - [材料信頼性試験・分析トータル受託サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/zairyoshinrai.html) - 製品を構成している各材料の特性が、製品性能に反映されます。 構成材料の信頼性試験、および材料分析は、製品開発やものづくりを行う上で重要なプロセスです。 アイテスは、それらのトータルサポートを行います。 - [ラッチアップ試験受託サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/jirei2.html) - [ESD(HBM・MM)試験受託サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/esd_hbm-mm.html) - [LEDの光学特性評価 （測定対象：紫外光域）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/led_optv.html) - LED製品の特性評価は、光学特性及び電気特性について数値化して比較検証する ことが出来ます。ＬＥＤの不良品と良品を比較評価することにより不良モードの判定を行な うことが可能となります。また、ＬＥＤの選択時などの検討データとしても有益です。 信頼性試験の前後にて特性評価を行うことにより劣化状態の把握ができます。 - [LEDの光学特性評価 （測定対象：可視光域）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/led_opt1.html) - LED製品の特性評価は、光学特性及び電気特性について数値化して比較検証する ことが出来ます。ＬＥＤの不良品と良品を比較評価することにより不良モードの判定を行な うことが可能となります。また、ＬＥＤの選択時などの検討データとしても有益です。 信頼性試験の前後にて特性評価を行うことにより劣化状態の把握ができます。 - [ウィスカ評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/whisker_rating.html) - [液槽冷熱衝撃試験 LED通電](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/led_energization.html) - [ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/highpower_kankyo.html) - [ランプ加熱試験（赤外線照射試験）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/infra-red_rays.html) - [パワーデバイスのHAST試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/hast_pd.html) - 電子部品の信頼性試験受託サービス。各種環境試験装置/計測器を取り揃え、環境試験/寿命試験などの幅広い信頼性試験を提供します。 - [パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/power_device_testing.html) - [真贋調査（比較観察）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/authenticity.html) - [メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/mfr_evaluation.html) - [色差計による樹脂の表色系、および透過率評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/resin_color_system.html) - [自記分光光度計による透過率測定サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/photometer_transparent.html) - [液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/display.html) - 海外製液晶ディスプレイ製品が使用され、信頼性に問題を抱えるお客様が増えています。 アイテスは信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルで御支援します。 - [ESD(CDM)試験受託サービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/esdcdm.html) - [温度制御（ペルチェ素子）による光学・電気・特性評価](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/peltier.html) - [LEDの信頼性試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/ledshinrai.html) - LED とは Light Emitting Diode の頭文字を取ったもので、光を出す半導体デバイスです。 近年、省エネ効果が注目され急激に普及し、信頼性試験の必要性も高まっています。 - [パワーサイクル試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/powercycle.html) - エンジンルーム内にパワーモジュールが配置される場合は一般産業用途に比べて 格段に高いレベルの温度サイクル疲労に対する長寿命化が求められます。その動作寿命の推定には通常、パワーサイクル試験（断続通電試験）が適用されます。 - [冷熱衝撃試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/reinetsu.html) - 電子部品の信頼性試験受託サービス。各種環境試験装置/計測器を取り揃え、環境試験/寿命試験などの幅広い信頼性試験を提供します。 - [非破壊観察](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive.html) - [製品評価・測定](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation.html) - [信頼性試験/環境試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability.html) - 電子部品の信頼性試験受託サービス。各種環境試験装置/計測器を取り揃え、環境試験/寿命試験などの幅広い信頼性試験を提供します。 - [素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価のご紹介](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/material_jirei.html) - [信頼性試験から観察までトータルコーディネート](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/consistent_service.html) - [半導体パッケージ剥離部の非破壊観察（ 超音波顕微鏡 ）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/non-destructive/jirei_onpa.html) - 半導体プラスチックパッケージは保管、実装の条件等によりリードフレームと樹脂間の剥離を起こすことがあり、非破壊での観察が要求されます。 - [信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニューサービス](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/guarantee_haze_ir.html) - [液晶パネルの構造解析](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/ryohin.html) - [高温ラッチアップ試験](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/ht_latch_up.html) - [高温逆バイアス試験 / 高温高湿バイアス試験（ パワーデバイス/実装品の信頼性評価 ）](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/htrb2.html) - [超低温恒温恒湿試験器　《 -70℃ 》](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/reliability/kouon_tei.html) - 超低温恒温恒湿試験器は、「-70℃」の低温での試験が可能です - [CDM試験 低湿度環境対応](https://www.ites.co.jp/guarantee/index/evaluation/cdm_test.html) ## 太陽光・メンテナンス - [太陽光パネル検査・点検・評価](https://www.ites.co.jp/panel/index.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [技術資料](https://www.ites.co.jp/panel/techinfo.html) - [【バックアップ】太陽光パネル検査・点検・評価 2026-09-11 棚5項目目の追加前](https://www.ites.co.jp/panel/backup-panel-index-20260911.html) - アイテスは、最先端電子部品の不良解析・信頼性保障の技術力を基盤にして、半導体、液晶、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供致します。製品開発、サービス開発を通じて、お客様に対して、そして人類社会に対して技術で貢献するために、私たちアイテスはチャレンジしてまいります。 - [販売終了品](https://www.ites.co.jp/panel/dis-product.html) - [EL画像撮影　レンタルサービス・受託測定サービス](https://www.ites.co.jp/panel/pvx300/pvxrental.html) - [PVScope　～日中屋外で、発電を止めずに診断。～](https://www.ites.co.jp/panel/daypl-system.html) - [太陽光パネル EL・PL 検査装置 構成例-1 - PVX330, POPLI-3C](https://www.ites.co.jp/panel/pvx330-popli3c.html) - [太陽電池EL検査装置　PVX300](https://www.ites.co.jp/panel/pvx300-3.html) - アイテスの太陽電池故障解析装置が次世代太陽電池の研究開発をサポートします - [ペロブスカイト型太陽電池、多層型太陽電池のＥＬ・ＰＬ観察事例](https://www.ites.co.jp/panel/case_catio3.html) - [ＰＶ遠隔安全診断システム SSoT](https://www.ites.co.jp/panel/pv20200520.html) - [太陽光パネル EL･PL 検査装置 PVX･POPLI](https://www.ites.co.jp/panel/products.html) - [PV遠隔安全診断システム SoT (そっと、)](https://www.ites.co.jp/panel/pv20200520-02.html) - [太陽光パネル EL・PL 検査装置 保守&コンサルティングサービス](https://www.ites.co.jp/panel/elpl-support-menu.html) - [太陽光パネル EL・PL 検査装置 構成例-2 - PVX1000, POPLI-Octa](https://www.ites.co.jp/panel/pvx1000-popli-octa.html) - [Solamente-iS （SI-100）ユーザー専用ページ](https://www.ites.co.jp/panel/s-users.html) - [太陽光パネル EL・PL 検査装置 構成例](https://www.ites.co.jp/panel/太陽光パネル-el・pl-検査装置-構成例.html) - [顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ](https://www.ites.co.jp/panel/pvx1000m.html) - [太陽電池EL検査装置　PVX300](https://www.ites.co.jp/panel/pvx300.html) - アイテスの太陽電池故障解析装置が次世代太陽電池の研究開発をサポートします - [住宅用太陽電池診断システム](https://www.ites.co.jp/panel/techinfo-200319.html) - [Solamente-iS ユーザー専用ソフトウェアダウンロード](https://www.ites.co.jp/panel/s-users-download.html) ## パソコン修理 - [保守契約のご案内](https://www.ites.co.jp/repair/jirei5.html) - [よくあるご質問](https://www.ites.co.jp/repair/repairfaq.html) - [産業機器修理のよくあるご質問](https://www.ites.co.jp/repair/repair_faq.html) - [メルマガバックナンバー](https://www.ites.co.jp/repair/mailmagazine.html) - [ブラウン管をあきらめなくてよかった](https://www.ites.co.jp/repair/crtlcd.html) - [修理実績(モータードライバー)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_mdriver.html) - [修理実績(PC部品)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_buhin.html) - [修理実績(PC)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_pc.html) - [修理実績(電源)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_powersupply.html) - [修理実績(制御ユニット)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_controlunit.html) - [修理実績(モーター)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_moter.html) - [修理実績(表示器)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_monitor.html) - [修理実績(マザーボード)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_mb.html) - [修理実績(シーケンサー)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_sequencer.html) - [修理実績(インバーター)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_inverter.html) - [修理実績(基板)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_board.html) - 2023年以降に基板の修理のご用命をいただきました製品をご紹介いたします。 メーカー 型式 製品名 Avalu 2023年以降に修理のご用命をいただきました製品をご紹介いたします。 - [修理実績(その他)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_sonota.html) - [修理一覧　(2023-2026)](https://www.ites.co.jp/repair/repair_all.html) - [パソコンのもったいないを考える](https://www.ites.co.jp/repair/mottainai.html) - [パソコン修理サービス](https://www.ites.co.jp/repair/pc-repair.html) - [修理のお申し込みについて](https://www.ites.co.jp/repair/flow.html) - [パソコン記憶媒体の変遷　-フロッピー・ディスク編](https://www.ites.co.jp/repair/storagemedium.html) - [パソコン修理申込の流れ](https://www.ites.co.jp/repair/flow_.html) - アイテスでは、保証期間外のパソコンを修理、お見積無料、安心の法人・企業向け価格、修理後6ヶ月保証、一括保守契約、高度な技術力、万全のセキュリティー、など高付加価値パソコン修理サービスを、法人・企業のお客様に特化して提供しています。 - [システムボード、電解コンデンサ予防交換サービス](https://www.ites.co.jp/repair/systemboard.html) - [GIGAスクール端末修理・保守](https://www.ites.co.jp/repair/gigaschool.html) - [アイテスのオーバーホール作業の対応について](https://www.ites.co.jp/repair/overhaul.html) - [パネルコンピューター修理実績一覧](https://www.ites.co.jp/repair/results_panecon.html) - [パソコンのオーバーホールの作業例（パート３）](https://www.ites.co.jp/repair/overhaulpc3.html) - [パソコンのオーバーホールの作業例（パート２）](https://www.ites.co.jp/repair/overhaulpc2.html) - [オーバーホールについて（PC編）](https://www.ites.co.jp/repair/overhaulpc.html) - [(個人で)Intel製の小型PC(NUC)を使ってみた](https://www.ites.co.jp/repair/userpt_pcnuc.html) - [修理業務でのちょっとしたお話（POSTカードとは）](https://www.ites.co.jp/repair/rtopic_postcard.html) - [最新のSSDについて(2020年度版)](https://www.ites.co.jp/repair/pc-ssd2020.html) - [電解コンデンサの熱と寿命の関係](https://www.ites.co.jp/repair/condenserlife.html) - [グラフィックボードについて](https://www.ites.co.jp/repair/gpu.html) - [意外と知らないキーボードについて](https://www.ites.co.jp/repair/keyboard.html) - [マウスの種類について](https://www.ites.co.jp/repair/pcmouse.html) - [アルミ電解コンデンサの極性について](https://www.ites.co.jp/repair/alumip.html) - [外部モニター活用ノススメ](https://www.ites.co.jp/repair/ex-display.html) - [【数量限定】オーバーホール済Windows2000デスクトップパソコン販売中](https://www.ites.co.jp/repair/sales_y2kpc.html) - [テレワークにおけるPCの使用について](https://www.ites.co.jp/repair/pcenvironment.html) - [テレワークなどの在宅勤務に潜む危険](https://www.ites.co.jp/repair/pcdisinfect.html) - [0.5mm の紙を、100回折り畳んだら、どうなる？](https://www.ites.co.jp/repair/news20200420.html) - [基板修理の仕事道具のご紹介(保護テープ)](https://www.ites.co.jp/repair/masking.html) - [今更ながら、パソコンについて考えてみよう](https://www.ites.co.jp/repair/aboutpc.html) - [今月こんなん修理しました！(2017/04)](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1704.html) - [修理業務でのちょっとしたお話（冷却ファンコネクター編）](https://www.ites.co.jp/repair/rtopic_fanconnecter.html) - [はじめてのパソコントラブルについて](https://www.ites.co.jp/repair/pctrouble_fst.html) - [オシロスコープとマルチメーター（テスター）について](https://www.ites.co.jp/repair/oscilloscope2.html) - [LCDバックライトについて](https://www.ites.co.jp/repair/lcdbacklight.html) - [最新のSSD事情について](https://www.ites.co.jp/repair/pc-ssd.html) - [特殊工具もそろえています「六角レンチ」](https://www.ites.co.jp/repair/rokkaku.html) - [出荷検査受託サービスのご提案](https://www.ites.co.jp/repair/inspection.html) - [自作パソコンの思い出【４号機】](https://www.ites.co.jp/repair/mymemorypc-4.html) - [オシロスコープ講座](https://www.ites.co.jp/repair/oscilloscope.html) - [今月こんなん修理しました！](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1902.html) - [動作検証環境拡充中](https://www.ites.co.jp/repair/worktest.html) - [実装基板洗浄用の純水のお話](https://www.ites.co.jp/repair/junsui.html) - [電解コンデンサの交換修理](https://www.ites.co.jp/repair/condensare3.html) - [特殊工具もそろえています「ドライバー」](https://www.ites.co.jp/repair/tooldriver.html) - [電源部分の修理](https://www.ites.co.jp/repair/dengen.html) - [修理実績](https://www.ites.co.jp/repair/results.html) - [データ復旧サービス](https://www.ites.co.jp/repair/dataresque.html) - [LCDモニター](https://www.ites.co.jp/repair/lcdmonitor.html) - [パワーサプライ](https://www.ites.co.jp/repair/power-supply.html) - [サーボアンプ](https://www.ites.co.jp/repair/amp.html) - [生産設備用パソコン、パネコン修理サービス](https://www.ites.co.jp/repair/panecom1.html) - [FAパソコン](https://www.ites.co.jp/repair/fapc.html) - [修理実績（その他）](https://www.ites.co.jp/repair/repair_other.html) - [【実録】未使用未開封でも劣化する電解コンデンサ](https://www.ites.co.jp/repair/condensare.html) - [修理で延命できる可能性](https://www.ites.co.jp/repair/index.html) - アイテスでは、保証期間外のパソコンを修理、お見積無料、安心の法人・企業向け価格、修理後6ヶ月保証、一括保守契約、高度な技術力、万全のセキュリティー、など高付加価値パソコン修理サービスを、法人・企業のお客様に特化して提供しています。 - [『アイテス通い箱』はじめました](https://www.ites.co.jp/repair/kayoibako.html) - [導入。サーモグラフィー](https://www.ites.co.jp/repair/thermography.html) - [パネコンが得意です【修理実績一覧】](https://www.ites.co.jp/repair/paneconrepair.html) - [自作パソコンの思い出【３号機】](https://www.ites.co.jp/repair/mymemorypc-3.html) - [続　自作パソコンの思い出](https://www.ites.co.jp/repair/mymemorypc-2.html) - [ブラウン管（CRT）をあきらめない](https://www.ites.co.jp/repair/crtrepair.html) - [自作パソコンの思い出](https://www.ites.co.jp/repair/mymemorypc.html) - [基板をコーティングして耐久性アップ](https://www.ites.co.jp/repair/coating.html) - [思い出のパソコンと未来の技術](https://www.ites.co.jp/repair/mymemory2.html) - [【基板を強化】ホットメルトを導入しました](https://www.ites.co.jp/repair/news_hotmelt.html) - [高密度実装技術の発展による製品の小型化、高機能化](https://www.ites.co.jp/repair/smallerhigher.html) - [1980年代のパソコンと、私の思い出](https://www.ites.co.jp/repair/mymemory.html) - [シリーズ/PC98・FC98の保守、修理について①](https://www.ites.co.jp/repair/pc98repair_01.html) - [テクニカルサポートセンターツアーにご招待](https://www.ites.co.jp/repair/centertour.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑫総集編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide12.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑪SSD編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide11.html) - [今月こんなん修理しました](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1711.html) - [過剰梱包ノススメ](https://www.ites.co.jp/repair/guide_overpacking.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑩外装(筐体)編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide10.html) - [今月こんなん修理しました！](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1709.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑨メモリ編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide9.html) - [今月こんなん修理しました！](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1708.html) - [今月こんなん修理しました！(2017/05)](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1705.html) - [今月こんなん修理しました！](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1707.html) - [今月こんなん修理しました！(2017/06)](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1706.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑧電源ユニット編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide8.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑦光学ドライブ編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide7.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑥キーボード編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide6.html) - [修理事例その１](https://www.ites.co.jp/repair/jirei1.html) - [明日から修理屋さん【入門編】⑤液晶パネル編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide5.html) - [明日から修理屋さん【入門編】④バッテリー編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide4.html) - [明日から修理屋さん【入門編】③HDD編](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide3.html) - [パソコンの破損を防ぐための梱包のコツ](https://www.ites.co.jp/repair/jirei4.html) - [高付加価値サービスを支える技術](https://www.ites.co.jp/repair/valueadd.html) - [明日から修理屋さん【入門編】②冷却ファンの故障](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide2.html) - [明日から修理屋さん【入門編】①コンデンサ不良](https://www.ites.co.jp/repair/repair_guide1.html) - [HDD加圧変形出張サービスのご案内](https://www.ites.co.jp/repair/hdd_press.html) - [修理実績（FAコンピュータ）](https://www.ites.co.jp/repair/repair_fapc.html) - [修理実績（パネコン）](https://www.ites.co.jp/repair/repair_panelcomputer.html) - [Windows XPパソコンの診断・修理継続 のご案内](https://www.ites.co.jp/repair/repairpc_xp.html) - アイテスではサポート終了後もWindows XPのパソコン本体（ハードウェア）の診断・修理のサポートを承ります。 - [電源が入らない!?](https://www.ites.co.jp/repair/jirei2.html) - [修理のお申し込みについて](https://www.ites.co.jp/repair/flow.html) - [修理で延命できる可能性](https://www.ites.co.jp/repair/index.html) - アイテスでは、保証期間外のパソコンを修理、お見積無料、安心の法人・企業向け価格、修理後6ヶ月保証、一括保守契約、高度な技術力、万全のセキュリティー、など高付加価値パソコン修理サービスを、法人・企業のお客様に特化して提供しています。 ## ウェハー加工 - [評価用めっき付きシリコンウエハ](https://www.ites.co.jp/wafer/platingwafer.html) - [半導体プロセス受託加工サービス](https://www.ites.co.jp/wafer/index.html) - 半導体プロセス受託加工サービスを提供するアイテスのウェハー加工ページ。テスト・評価用シリコンウェハーを中心に、微細加工、洗浄、分析まで一貫対応し、半導体・電子部品分野の研究開発や品質評価・検証を強力に支援します。 - [200mmシリコンウェハ 微細貫通孔加工サービス](https://www.ites.co.jp/wafer/through-wafer_hole.html) - [高品質ダイヤモンドワイヤー販売](https://www.ites.co.jp/wafer/diamondwire.html) - [ICP-MS汚染分析受託サービス](https://www.ites.co.jp/wafer/icpmsms.html) - [TXRF汚染分析受託サービス](https://www.ites.co.jp/wafer/txrf_analyze.html) - [ウェハー販売(Si/SOI/SiC/GaAs)](https://www.ites.co.jp/wafer/ベアウェハーテスト.html) - [シリコンもSiCも、ガラスも。高度な研削・研磨技術で対応！](https://www.ites.co.jp/wafer/dicingwafer.html) - [各種半導体ウェハーケース調達/洗浄/販売](https://www.ites.co.jp/wafer/wafercase.html) - [石英基板・ガラスウェハのトータルソリューション](https://www.ites.co.jp/wafer/glass_wafer.html) - [テスト用膜付きウェハー](https://www.ites.co.jp/wafer/testwafer.html) - [IC MEMS ファウンドリーサービス](https://www.ites.co.jp/wafer/foundry.html) - [恋するパワー半導体（つよこい）](https://www.ites.co.jp/wafer/tsuyokoi.html) - [恋するパワー半導体（つよこい）「GaAs編」](https://www.ites.co.jp/wafer/tsuyokoi_03.html) - 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