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太陽光パネル EL・PL 検査装置 構成例-2 – PVX1000, POPLI-Octa

EL・PL検査装置_高均一性PL励起光によるウェハーPL検査の構成例
PVX1000 + POPLI-Octa は、セル製造工程中のウェハーをフォトルミネセンスで評価することができます。
熱拡散後の PN 接合層や AR 層成膜のパッシベーション効果と表面汚染、裏面絶縁層の保護効果、Local-BSF の評価などが可能です。
また、直流電源を用いたモジュールの EL 観測により欠陥個所の位置特定が可能です。一例として、モジュールに逆バイアスを印加してリーク点を観測することにより PID が発症している欠陥個所を簡便に特定できます。

製品名 : PVX1000 + POPLI-Octa
機器構成 : 冷却 CCD カメラ、25mm C マウントマクロレンズ、POPLI-Octa、カメラスタンド、EL 用電源、制御 PC、PVX1000 ソフトウェア、暗箱

こちらから、カタログをダウンロードできます。(380KB)
特徴
1.シリコンウェハ(6 インチ角以下)
2.超高感度冷却 CCD カメラ使用(100万画素(1024 x 1024 画素)、-70°C)
3.面光源により一括イメージング観測が可能
4.高機能画像演算ソフト搭載
基本機能
1.Photo-luminescence imaging
2.Electro-luminescence imaging
3.画像演算
4.画像特徴量計算
5.Dark-IV 測定
6.直列抵抗値算出
7.LEAK 電流測定
主な仕様(PVX1000)
EL・PL検査装置 PVX1000 の主な仕様
主な仕様(POPLI-Octa)
PL 励起用光源 POPLI-Octa の主な仕様
撮影事例
単結晶セルの PL 画像_熱拡散工程
【単結晶(Al-BSF)セル工程 PL 画像】

熱拡散
PN 接合層欠陥
単結晶セルの PL 画像_AR 形成工程
AR 形成
バキュームチャックによる表面汚染
単結晶セルの PL 画像_Ai-BSF 形成工程
Al-BSF 形成
暗部が不良個所

試料提供:国立研究開発法人産業技術総合研究所
福島再生可能エネルギー研究所
EL・PL検査装置_ウェハーの微細構造PL検査の構成例
PVX1000 + POPLI-μ は、セル製造工程中のウェハーの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。
PERC であれば、PL 強度で個々の Local-BSF の評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージを評価することが可能です。
また、直流電源を用いたモジュールの EL 観測により欠陥個所の位置特定が可能です。

製品名:PVX1000 + POPLI-μ
機器構成:制脚 CCD カメラ、顕微鏡、POPLI-μ、EL 用電源、制御 PC、PVX1000 ソフトウェア、暗箱
特徴
1.シリコンウェハ(6 インチ角以下)
2.超高感度冷却 CCD カメラ使用(100万画素(1024 x 1024 画素)、-70°C)
3.面光源により一括イメージング観測が可能
4.高機能画像演算ソフト搭載
主な仕様(POPLI-μ)
      PVX1000 の仕様は、PVX1000
      の項目を参照してください。
PL 励起用光源 POPLI-μ の主な仕様
 撮影事例
顕微Photo-Luminescence法でのLocal-BSFの評価_抜粋

試料提供:国立研究開発法人産業技術総合研究所
福島再生可能エネルギー研究所

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