金属顕微鏡には、落射光・散乱光・透過光・偏光などを用いた観察モードがありますが、中でもLED等の光源をレンズの同軸上に反射させることで得られる落射像は、金属類を観察するのに適したモードです。はんだクラックの観察では、主に落射像を用いて観察しますが、部品全体を見渡せるように低倍率で観察しますと、落射光が当たらない部位が影になってしまい、観察しづらい部位が出来てくることがあります。例えば、下図(*1)のように、チップ抵抗器の硬い基材と、柔らかいはんだ材料の間で、高低差が生じている場合です。確認したくても影になり観察しづらい部位は、下図(*2)のように一部を高倍率で観察することで解消できますが、他にも、低倍率のまま、観察しづらい部位も観察しやすくなる方法があります。金属顕微鏡の替わりにSEMで観察する方法です。SEM観察なら焦点深度が深いため低倍率でも平坦度の高い画像が得られます (*3)。