その他

EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 EBAC法(Electron Beam Absorbed Current)の原理 ・LSI等の金属配線に電子線が入射すると、配線中に吸収電流が生じます。この吸収電流をナノプローバ で針当てしてセンスし、アンプで増幅して表示することで、等電位の接続配線に沿ってコントラストが でます...

液晶パネルの不良解析

液晶パネルの受託分析です。
不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで!
液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。

積層基板の斜めCT観察

斜めCTの最大のメリットは非破壊でCT観察できることです。直行CTが得意とする断層像の観察には不向きですが、平面情報を取得することに適しており、積層基板では各層毎の情報を得ることが可能です。

電解コンデンサのX線観察

経年劣化により不具合を起こしたアルミ電解コンデンサについて、内部状態をX線CTにより確認しました。

LCDパネルの良品解析

LCD部品/製品の良品解析を行います。弊社の持つLCDの知見から製品の品質状態を確認いたします。

LEDの不良解析

高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の原因を調査します。