近年､デバイスの最大使用周囲温度条件下でのラッチアップ試験の需要が増加しています｡
特に車載部品用のAEC規格では､ClassⅡ(最大使用周囲温度)の試験条件のみとなっています｡
高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温でのラッチアップ試験が推奨されています｡
ラッチアップ試験の主要規格
仕様
温度範囲 ： 50℃～150℃
加熱方式 ： 温風による加熱（フィクスチャボード上のソケット･デバイス等を熱風発生器で加温）
制御方法 ： デバイス付近にセンサーを設置し 温度調節器で制御（温度センサ：Pt100）
事前確認としてデバイス表面温度を測定し､ヒーターの出力値を調整します
試験装置 ： ESD/ラッチアップテスタ M7000A-512EL
装置仕様 ： VCC電源搭載数 4台（VCC1：100V/0.5A､ VCC2～VCC4：50V/1A）
： 電源過電圧印加法のVCC電圧+VTパルス電圧は､最大150Vまで設定可能
試験実施状況