製品のダウンサイジングに伴い、微小な異物が引き起す不良や故障が問題となってきています。 この異物の付着や混入を防ぐためには、異物を同定解析/分析し、発生源を特定しその発生を押さえることが必要です。
マイクロサンプリング技術とFT-IR分析/EDX分析を組み合せて、この微小異物の同定解析/分析を受託します。（異物分析）
・20μm程度の有機系異物の同定解析/分析が可能
有機系の異物で20μm程度以上の大きさがあれば、
マイクロサンプリングとFT-IR分析により異物を同定解析/分析できます。
・数μmの大きさの有機系異物でも数があれば同定解析/分析が可能
数μm程度の大きさの有機系異物でも数個あれば、集めてFT-IR分析で同定解析/分析できます。
・特殊サンプリングにより金属膜下や層中の異物の分析が可能
特殊サンプリングにより、従来の方法では出来なかった内部に存在する異物の分析も可能となります。
・無機系異物であれば1μm程度の大きさでも元素分析が可能
無機系異物であれば、1μm程度の大きさでも含まれる元素をEDXで分析できます。
分析事例：付着異物分析（有機フィルム上の異物）
試料：ポリエチレンフィルム上の異物
①マイクロサンプリングとFT-IR分析(光学顕微鏡観察とFT-IR分析)
 ・脂肪酸アミドと珪酸塩が検出され、両者とも滑剤の成分と推測された。 | |
②EDX分析(SEM観察とEDX分析)
・Na/Al/Si/Caが検出され、滑剤中の珪酸塩に含まれる元素と推測された。 | |
これらの分析結果から、この異物は滑剤の残留物とわかった。
③特殊サンプリングによる異物の分析
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