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信頼性試験・評価
JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。
信頼性試験/環境試験
パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析
パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)
はんだ耐熱性試験(SMD)
結露サイクル試験
促進耐候性試験【キセノンウェザーメーター】
加圧繰り返し試験
積層セラミックコンデンサ連続通電試験
冷熱衝撃試験のひずみ測定
ディスクリート半導体(ダイオード)のIOL試験
吸湿ひずみの測定
ほか
製品評価・測定
信頼性試験、曇価(ヘーズ)測定、IR分析のセットメニューサービス
液晶ディスプレイの輝度・⾊度ムラ評価
CDM試験 低湿度環境対応
ESD(CDM)試験受託サービス
ESD(HBM・MM)試験受託サービス
真贋調査(比較観察)
メルトフローレイト(MFR)測定評価サービス
色差計による樹脂の表色系、および透過率評価
素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価のご紹介
自記分光光度計による透過率測定サービス
ほか
非破壊観察
X線透視・CT検査装置
信頼性試験から観察までトータルコーディネート
超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察
半導体パッケージの超音波顕微鏡観察
プリント基板の超音波顕微鏡観察(透過法)
超音波顕微鏡 Scanning Acoustic Microscope (SAM)
半導体パッケージ剥離部の非破壊観察( 超音波顕微鏡 )
非破壊検査・超音波顕微鏡観察の動画
太陽電池のEL発光観察
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TEL:077-599-5020
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