ESD(CDM)試験受託サービス

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデル(Charged Device Model)

ESDによる破壊に対する耐性を評価するESD/CDM試験サービスを提供致します。

特徴

・各種規格条件 JEDECJEITA(EIAJも可)AECに対してユニット交換で対応します。

・直接チャージ法(Direct CDM)電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応します。

AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応します。

・ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能です。(別装置を使用)

・印加ピンの接触確認機能により確実に印加します。

装置概要/試験状況例

・印加(充電)電圧:0±4000V

・ステップ電圧:5V

・印加回数:199

・ピン数:最大1024ピン

・印加ユニット:JEDECJEITAEIAJAEC

・チャージ方法

 D-CDM(直接チャージ法)JEITAEIAJAEC

 FI-CDM(電界誘導法)JEDECAEC 

HED-C5000 CDMテスター(阪和電子工業製)​

HED-C5000 CDMテスター(阪和電子工業製)

CDM試験状況(JEDEC FI-CDM法)

CDM試験状況(JEDEC FI-CDM)

ダイオード特性判定法による測定事例

ダイオード特性判定法による測定事例

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株式会社アイテス 品質技術部
TEL:077-599-5020