ウェハ表面の“見えない不安”を、数値で可視化
TXRF汚染分析 受託サービス
TXRF汚染分析とは？
TXRF（全反射蛍光X線分析）は、
ウェハ表面に付着した極微量金属汚染を非破壊で定量できる分析手法です。
・半導体プロセス前後の汚染評価
・材料受入検査・トラブル解析
・外注加工後の品質確認
に最適です。
① ウェハー加工商社だから分かる「実務目線」
材料調達・加工委託・品質要求を熟知
「この数値で問題になるか？」まで踏み込んだ解釈が可能
② 少量・短納期対応
1枚から分析可能
緊急案件・トラブル対応も柔軟に調整
③ 分析だけで終わらない
汚染原因の切り分けアドバイス
必要に応じて代替材料・加工先の紹介まで対応