会社・事業の沿革

1993年1月日本IBM野洲事業所の品質保証部門を母体に会社設立
1996年4月大手液晶メーカーTFT液晶パネル3期ラインの垂直立上に不良解析サービスで貢献
1999年1月半導体評価用ウエハの販売開始
 10月ISO9001を取得
 12月透過型電子顕微鏡のFEI製TecnaiF20を導入
2000年2月飛行時間型二次イオン質量分析器のION-TOF製TOF-SIMSを導入
 12月集束イオンビーム装置のセイコー製SMI-2200を導入
2004年7月液槽式冷熱衝撃試験装置を導入。
 8月CrossBeam FIBのZEISS製1540XBを導入
2005年6月テクニカルサポートセンターを新設
2006年5月自己資本充実のため資本金を2,000万円から1億円に増額
2007年12月極低加速電圧走査型電子顕微鏡のZEISS製 ULTRA55を導入
2008年8月セミオート有機EL故障解析装置EX03を開発。大手有機ELディスプレイメーカーへ出荷
 9月多機能試験装置を導入(温度サイクル試験(JEDEC)/高温250℃対応温度サイクル試験対応)
 11月太陽電池故障解析装置PVXの市場リリース。太陽電池業界へ参入
2009年5月有機物分析のための最新型イメージングFT-IR分析装置を導入
 9月温度勾配のついた温度サイクル試験のできる多機能試験機を業界に先駆けて導入
2011年3月半導体故障解析に用いる最新型 発光解析装置(Phemos-1000)を導入
2012年4月投影型静電容量タッチパネルの検査装置「TX02」が第24回中小企業優秀新技術・新製品賞(りそな中小企業振興財団・日刊工業新聞社共催)の「優秀賞」を受賞
 7月

屋外ソーラーパネル検査装置「ソラメンテSX」を発売

次世代育成支援対策推進法認定 くるみんマークを取得

ソラメンテSXが、滋賀エコ・エコノミープロジェクト(滋賀県・滋賀経済団体共同)低炭素化事業部門、第3回しが低炭素リーダー賞を受賞

2013年2月ソラメンテSXの開発が、滋賀銀行ニュービジネス奨励金しがぎん野の花賞を受賞
 3月LED光学特性評価サービスを開始(赤外域、紫外域)
 7月新製品 ソーラーパネルチェッカー(ソラメンテiS)発売開始
 10月EL画像検査装置オプション(PVXシリーズ) PLイメージングユニット POPLIを発売開始
2014年2月新製品 ストリングチェッカー(ソラメンテZ)発売開始
 3月超音波顕微鏡(Sonoscan社製 D9600)による観察サービスを開始
2015年7月超薄切片作製装置 ウルトラミクロトームを導入し、高分子材料などに対するSTEM観察サービスを開始
2016年4月屋外ソーラーパネル点検・検査装置(ソラメンテシリーズ)が第28回中小企業優秀新技術・新製品賞(りそな中小企業振興財団・日刊工業新聞社共催)の「優秀賞」を受賞
2017年3月電子線後方散乱回折EBSD解析サービスを開始
 3月ソーラーパネル点検装置ソラメンテの新製品(SZ-200SI-200)を販売開始
 9月ソラメンテオプション新製品(SR-200SC-200)を販売開始