ホーム
品質技術サービス TOP
太陽光パネル検査・点検・評価
電子機器修理
ウェハー加工
企業情報
採用情報
品質技術サービス TOP
故障解析・構造解析
電気特性測定
試料加工
OBIRCH/発光解析
FIBSEM/TEM
拡散層観察
その他
断面研磨・加工観察・分析
断面研磨･断面加工･平面加工
表面観察・断面観察
元素分析
計測技術
表面・材料・異物・汚染分析
微小異物分析
成分・材料分析
表面分析
熱分析
信頼性試験・評価
信頼性試験/環境試験
製品評価・測定
非破壊観察
化学反応機構研究所
装置別メニュー
分析対象
装置一覧
技術資料
最新情報
分析技術者ブログ
太陽光パネル検査・点検・評価
ソラメンテ
EL･PL 検査装置
EL/PL 検査装置 保守サービス
技術資料
お問い合わせ
販売終了品
修理で延命できる可能性
修理のお申し込みについて
修理一覧 (2023-2026)
よくあるご質問
メルマガバックナンバー
お問い合わせ
半導体プロセス受託加工サービス
MEMS ファウンドリーサービス
精密貫通孔加工
テスト用膜付きウェハー
研削研磨・ダイシング加工
ダイヤモンドワイヤー販売
ウェハー加工実績
ウェハー販売(Si/SOI/SiC/GaAs)
ウェハーケース販売
ICP-MS汚染分析受託サービス
TXRF汚染分析受託サービス
石英基板・ガラスウェハ加工
恋する半導体（セミコイ）
恋するパワー半導体（つよこい）
≡
HOME
企業情報
アクセス
採用情報
お問い合わせ
ENGLISH
品質技術サービス TOP
故障解析・構造解析
電気特性測定
試料加工
OBIRCH/発光解析
FIBSEM/TEM
拡散層観察
その他
断面研磨・加工観察・分析
断面研磨･断面加工･平面加工
表面観察・断面観察
元素分析
計測技術
表面・材料・異物・汚染分析
微小異物分析
成分・材料分析
表面分析
熱分析
信頼性試験・評価
信頼性試験/環境試験
製品評価・測定
非破壊観察
化学反応機構研究所
装置別メニュー
分析対象
装置一覧
技術資料
最新情報
分析技術者ブログ
太陽光パネル検査・点検・評価
ソラメンテ
EL･PL 検査装置
EL/PL 検査装置 保守サービス
技術資料
お問い合わせ
販売終了品
修理で延命できる可能性
修理のお申し込みについて
修理一覧 (2023-2026)
よくあるご質問
メルマガバックナンバー
お問い合わせ
半導体プロセス受託加工サービス
MEMS ファウンドリーサービス
精密貫通孔加工
テスト用膜付きウェハー
研削研磨・ダイシング加工
ダイヤモンドワイヤー販売
ウェハー加工実績
ウェハー販売(Si/SOI/SiC/GaAs)
ウェハーケース販売
ICP-MS汚染分析受託サービス
TXRF汚染分析受託サービス
石英基板・ガラスウェハ加工
恋する半導体（セミコイ）
恋するパワー半導体（つよこい）
Image navigation
← Previous
次世代パワー半導体（SIC）の評価・解析
Published
2026年4月28日
at
1489 × 246
in
ホーム
bnr_power-semi
アイテス各サービスについてのお問い合わせ
分析解析・信頼性評価
（品質技術 営業）
TEL：077-599-5020
TEL：077-599-5020
パネル検査装置
（製品開発 営業）
TEL：077-599-5040
TEL：077-599-5040
電子機器修理
（テクニカルサポートセンター）
TEL：077-599-5031
TEL：077-599-5031
ウェハー加工サービス
TEL：077-599-5017
TEL：077-599-5017
採用について（総務）
TEL：077-599-5015
TEL：077-599-5015
全体のお問い合わせ
TEL：077-599-5015
TEL：077-599-5015
