スイス、ダボスで2022年9月12日～9月16日、開催された次世代化合物半導体SiCの国際学会、
ICSCRM2022（The International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2022）
において、当社が開発を進めている欠陥検査装置の研究成果発表とその開発事業紹介を行いました。
大手デバイスメーカーのR＆Dエンジニアを中心に、弊社ブースにも多数お立ち寄り頂き、関心の高さが伺えました。ご来場くださいました皆様、誠に有難うございました。
