イオンミリング
断面加工・観察方法の紹介
機械研磨及び機械研磨+イオンミリング処理による試料加工について紹介いたします。 機械研磨は最も一般的で歴史の長い断面作製手法であり、広範囲で断面を作製することができます。 また、イオンミリング処理と組み合わせることでCP...
太陽電池モジュールの断面観察
太陽電池モジュールの受託分析例です。
冷熱衝撃試験を行なった太陽電池モジュールの断面観察を行なったところ、インタコネクタ半田付け部が破断していることが確認されました。...
装置






マイクロプローバー
裏面研磨
EMS/OBIRCH
sMIM
EBIC
EBAC
光学顕微鏡
デジタルマイクロスコープ
レーザー顕微鏡
ワンショット3D形状測定機
FE-SEM
卓上型SEM
FIB-SEM
TEM
EDX
WDX(EPMA)
EBSD
トリプルイオンポリッシャー(CP)
イオンミリング
研磨機
ウルトラミクロトーム
ワイヤーソー
3次元測定器
ラマン
AES
XPS
TOF-SIMS
AFM
硬度計
FT-IR
GC-MS
ICP-AES
TMA
DSC
TG-DTA
DMA
イオンクロマト
ヘーズメーター
NMR
色差計
MALDI-TOFMS
WPA
GPC
細孔分布測定装置
万能材料試験機
粒子径測定システム
パワーサイクル
熱衝撃(TC)
ハイパワー恒温恒湿
液槽熱衝撃(WTS)
恒温恒湿(THB)
恒温恒湿(TH)
低温(LT)
高温(HT)
HAST、PCT
In-Situ
ESD・ラッチアップ
CDM
光学測定
SAM、SAT
X線/CT
自記分光光度
MFR
全般