XPS
XPSによる正極活物質の状態分析
NMC(Li(NixMnyCoz)O2)はリチウムイオン電池の正極活物質として使用されています。 NMC試薬について、XPSの状態分析による金属酸化物の価数の評価を行いました。 ■ XPSの原理 X 線と光電子のエネルギ...
不具合の原因を化学の視点で解決します。
クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、部材などに発生する不具合は様々です。その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、その材料を分析調査することで解決することがあります。何が起きているのかを化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介します。...
XPSによるバンドギャップの簡易測定
半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜のバンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能です。...
ビニルポリマー(樹脂材料)のIR分析
ビニルポリマーには多くの種類があり、その側鎖の分子構造によってさまざまな特性を発現します。また、その側鎖の結合配置(立体異性体)により、結晶性に差が生じます。本資料では、ビニルポリマーの中でも代表的な、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、塩化ビニル(塩ビ)のIR分析を行った結果をご紹介します。...
透明樹脂のFT-IR分析
PMMA(アクリル)、PET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)はその透明性という特徴を活かし、多くの用途に使用される。液晶ディスプレイの周辺部材、モバイル端末画面の保護フィルム、ヘッドライトカバー、光ファイバー、繊維など産業用製品には欠かせない材料である。本資料では、それらの原料(ペレット)をIR分析した結果をご紹介します。...
偏光フィルム、および光拡散フィルムの劣化分析
偏光フィルム、および光拡散フィルムは、LCD製品、意匠デザインなどに使用されています。温度や湿度など使用環境により劣化することがあり、偏光、拡散という特性が低下することで、液晶画面やデザイン等に影響を及ぼします。温度湿度の負荷による劣化状態を、FT-IRにて分析した事例をご紹介します。...
XPS(ESCA)による変色変質素材の表面分析
素材は、使用環境により変質変色することが多い。変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じるが、化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、問題の対策や回避が可能となります。本資料では、表面分析による元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介します。...
異種材料界面剥離メカニズム①
類似分子構造を有する異種材料は相溶性や特性の類似により複合製品の開発発展と拡大に期待が持てます。
しかし、一方で思わぬ落とし穴も…。PET、PENフィルムの線膨張率の違いとその差異を生むメカニズムを解明した事例をご紹介します。...
XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析
通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。
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XPS(ESCA)によるポリマー表面分析(PA PI)
受託分析 XPSのご紹介です。
無機物、金属のみならず、プラスチック(ポリマー)表面の分析も可能であり、その応用範囲は広範囲です。ポリアミド(PA)、ポリイミドド(PI)フィルム表面の結合状態分析により、その微妙な分子構造の差起因のスペクトル形状および結合エネルギーから、分子原子レベルの挙動、官能基種の把握が可能です。ナノレベル表面の劣化変質などの不具合解析に有効な分析手法です。...
X線光電子分光分析器による化学状態分析
受託分析 XPS(X線光電子分光法,X-ray Photoelectron Spectroscopy)のご紹介です。
極表面層 数nm領域の元素分析と化学状態の分析を行います。また、イオンエッチングとの併用で深さ方向の分析も可能です。
事例:Al表面酸化状態分析、銀メッキ表面の変色分析...
装置








マイクロプローバー
裏面研磨
EMS/OBIRCH
sMIM
EBIC
EBAC
光学顕微鏡
デジタルマイクロスコープ
レーザー顕微鏡
ワンショット3D形状測定機
FE-SEM
卓上型SEM
FIB-SEM
TEM
EDX
WDX(EPMA)
EBSD
トリプルイオンポリッシャー(CP)
イオンミリング
研磨機
ウルトラミクロトーム
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XPS
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TG-DTA
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MALDI-TOFMS
WPA
GPC
粒子径測定システム
細孔分布測定装置
万能材料試験機
パワーサイクル
熱衝撃(TC)
液槽熱衝撃(WTS)
ハイパワー恒温恒湿
恒温恒湿(THB)
恒温恒湿(TH)
低温(LT)
高温(HT)
HAST、PCT
In-Situ
ESD・ラッチアップ
CDM
光学測定
SAM、SAT
X線/CT
自記分光光度
MFR
全般