パワー半導体の解析サービス

ICの不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析まで一貫して対応致します。...

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します...

EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 EBAC法(Electron Beam Absorbed Current)の原理 ・LSI等の金属配...

EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 EBAC法(Electron Beam Absorbed Current)の原理 ・LSI等の金属配...

EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 EBAC法(Electron Beam Absorbed Current)の原理 ・LSI等の金属配...

EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 EBAC法(Electron Beam Absorbed Current)の原理 ・LSI等の金属配...

ICの不良解析

ICの不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析まで一貫して対応致します。...