CDM試験 低湿度環境対応

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014(最新版 JS-002-2018)において、試験時のデバイス付近の相対湿度は 30%未満にすることを要求されています。 AEC規格においても201...

ESD(CDM)試験受託サービス

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデル(Charged Device Model)の ESDによる破壊に対する耐性を評価するESD/CDM試験サービスを提供致します。...

高温ラッチアップ試験

受託試験 ラッチアップ試験のご紹介です。 CMOS ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。...