AES
不具合の原因を化学の視点で解決します。
クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、部材などに発生する不具合は様々です。その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、その材料を分析調査することで解決することがあります。何が起きているのかを化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介します。...
オージェ電子分光法による接合部分析
受託分析 オージェ電子分光法のご紹介です。
極表面層 数nm領域の元素分析を行います。スパッターエッチングと組合せることにより接合部界面の深さ方向分析も可能です。...
装置