熱衝撃（TC）

材料に熱衝撃を加えると急激な熱応力が発生し、材料にダメージが生じ、電子部品の故障に繋がる事があります。冷熱衝撃試験におけるひずみの挙動を調べました。 冷熱衝撃試験とひずみ測定 冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサ...

信頼性試験後のはんだ接合について断面観察を実施。試験は3種類。初期品と試験後品を比較し クラックの発生有無及び金属間化合物層の成長具合を確認しました。 Pbフリーはんだ実装品(Sn/Ag/Cu合金はんだ)を3種の信頼性試...

正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査します。(外観観察/開封観察/電気的特性測定/破壊・非破壊観察/信頼性試験/材料調査など。)...

製品を構成する素材は多種多様ですが、製品性能は素材の特性が鍵を握ることも少なくありません。アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで一貫対応いたします。本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の分子構造、および熱特性変化の比較評価を行った事例をご紹介します。...

研究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせないプロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となることが多々あります。アイテスは、保有する多種多様な機器分析装置、観察装置、信頼性試験装置、そし...

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します...

受託試験　高温対応 車載用電子部品評価のご紹介です。 車載用電子部品は、電気特性安定性・はんだ接合部・実装パッケージの信頼性評価が重要です。高温劣化評価のための信頼性試験から、劣化箇所の分析解析まで受託いたします。 ...

受託試験　アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測のご紹介です。 一般的に半導体デバイスの劣化の物理、化学的な現象を表すには，アレニウスモデルが用いられます。アレニウスモデルは故障の温度依存に対する基本的な化学反応モデルであり，半導体デバイスの温度ストレスによる加速寿命試験の寿命推定に用いられています。...

受託試験　冷熱衝撃試験のご紹介です。 試料を高温と低温に繰り返し晒し、ストレス評価を実施します。 主に、電子部品の接合部を評価します。...