アイテスでは、太陽電池とパワー半導体を対象に、製造段階から運用中の発電設備までの検査・評価を行っております。検査装置の販売と、受託による測定・調査の双方に対応いたします。
EL・PL検査装置 PVX・POPLI
ウェハー、セル、モジュールのEL・PL検査に対応する検査装置です。装置の販売のほか、受託による測定・撮影、導入後の保守にも対応しております。
EL・PL検査装置のご案内はこちら(このページ内)
PV遠隔安全診断システム SSoT
発電設備に常設し、夜間にストリング単位で自動測定を行うシステムです。現地に出向くことなく、異常を検知した際に通知いたします。
監視対象は、絶縁性能、バイパス回路の健全性、セルストリング回路の健全性の3項目です。現地機器はPVストリングから電力を得て動作するため、AC電源および通信線の敷設は必要ありません。
SiC潜在欠陥検査装置 ITS-SCX100
SiCデバイスのバイポーラ劣化を、ウェハ段階で評価する装置です。UVレーザーの照射によりBPDおよび積層欠陥を拡張し、PL像として可視化いたします。
デバイスを作製して通電評価を行う場合に約2か月を要していた評価を、約2日に短縮することが可能です。東京エレクトロンデバイス株式会社様との共同開発製品です。装置を導入せずに評価を行う場合は、SiCウェハ欠陥検査 受託測定サービスにて承ります。
EL・PL検査装置 PVX・POPLI
太陽電池のEL・PL観察について、検査装置の販売から受託による測定、導入後の保守までを承っております。
検査装置 PVX・POPLI
ご使用目的に応じて、カメラと光源を組み合わせた構成をご提案いたします。パネルのEL検査からウェハーの微細構造PL検査まで、代表的な構成例を4件掲載しております。受託による測定・撮影や装置のレンタル、導入後の保守&コンサルティングも承っております。
ペロブスカイト型・多層型の観察事例
ペロブスカイト型太陽電池のミニセル、および3層型太陽電池の層別観察の記録です。EL・PL観察で得られる像の実例としてご参照いただけます。
学会発表と技術資料
応用物理学会やPVSECなどで発表した、EL・PL測定に関する資料をPDFで掲載しております。受賞歴とあわせてご覧いただけます。





