「SiC 潜在欠陥検査装置 / 通電劣化シミュレーター ITS-SCX100」に関するプレスリリースのお知らせ

ITS-SCX100は、SiCパワーデバイスの信頼性課題であるバイポーラ劣化をUVレーザー照射により再現・可視化する検査装置です。従来約2ヶ月を要していたサンプル評価を約2日に短縮します。