次世代太陽電池の研究開発をサポート
- 微弱発光を捕らえる冷却CCDカメラ採用
- EL発光・リーク発光マージによる欠陥特定
- PCから暗室内カメラ・電源をリモート制御
- 専用画像処理ソフトによる自動欠陥検出
- シリコン系・化合物系・有機系材料に対応
太陽電池の潜在欠陥を検出する装置、PVXシリーズに、研究開発評価用に特化した充実機能モデル、PVX1000が加わりました。
冷却CCDカメラを採用し、微弱な発光をのがさず捕らえ、EL発光とリーク発光の画像合成により欠陥を特定します。
暗室内のカメラや印加電源の操作はすべて外部PCからリモート制御、画像処理も専用ソフトにより全自動で行える使いやすさも特徴です。
シリコン系のみならず化合物系、有機系など広範囲の太陽電池の欠陥検出に対応します。
次世代太陽電池の研究開発に求められる究極の欠陥検出機能とは？
PVX1000がその真のユーザーニーズに応えます。
※EL測定については奈良先端科学技術大学院大学の冬木教授より特許出願中です。
※EL測定の関連技術については、株式会社アイテスより特許出願中です。
※仕様は予告なく変更することがあります。