熱衝撃（TC）

JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。 画像をクリックするとPDFファイルが開きます（2MB)

受託試験　高温対応 車載用電子部品評価のご紹介です。 車載用電子部品は、電気特性安定性・はんだ接合部・実装パッケージの信頼性評価が重要です。高温劣化評価のための信頼性試験から、劣化箇所の分析解析まで受託いたします。 ...

受託試験　アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測のご紹介です。 一般的に半導体デバイスの劣化の物理、化学的な現象を表すには，アレニウスモデルが用いられます。アレニウスモデルは故障の温度依存に対する基本的な化学反応モデルであり，半導体デバイスの温度ストレスによる加速寿命試験の寿命推定に用いられています。...

受託試験　冷熱衝撃試験のご紹介です。 試料を高温と低温に繰り返し晒し、ストレス評価を実施します。 主に、電子部品の接合部を評価します。...