TC

高温対応 車載用電子部品評価

高温劣化評価のための信頼性試験から分析解析まで一貫したサービスを御提供します。 ...
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アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測

一般的に半導体デバイスの劣化の物理、化学的な現象を表すには，アレニウスモデルが用いられます。...
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冷熱衝撃試験

冷熱衝撃試験は、試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、主に接合部の評価を実施します。...
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装置

FE-SEM

光学顕微鏡

ﾄﾘﾌﾟﾙｲｵﾝﾎﾟﾘｯｼｬｰ（CP）

WTS

TC

THB

TH

高温試験

低温試験

HAST、PCT

ホットオイル試験

In-Situ

パワーサイクル

ESDラッチアップ

CDM

鉛筆ひっかき

精密万能試験機

光学測定

ﾃﾞｼﾞﾀﾙﾏｲｸﾛｽｺｰﾌﾟ

SAM、SAT

X線

Xsec

dye-and-pry

ﾏｲｸﾛﾌﾟﾛｰﾊﾞｰ

レーザー顕微鏡

低真空SEM

FIB-SEM

EMS/OBIRCH

裏面研磨

TEM

ウルトラミクロトーム

AES

XPS

TOF

FT-IR

硬度計

イオンクロマト

GC-MS

TMA

WDS

3次元測定器