タンタルコンデンサや積層セラミックコンデンサの信頼性評価はより高い温度・電圧を与えて実施します。様々な温度・電圧条件に対応した高温負荷試験をご提案します。
高温負荷試験(規格準拠～様々な試験条件に対応可)
色々な温度･電圧条件で加速試験が可能
高温負荷試験装置
規格(JIS等)に沿った試験をはじめ､御希望の温度･電圧条件での加速試験が可能です｡
メーカー別･ロット別の製品実力比較に有効な評価の一つと考えられます｡
また､耐湿負荷試験の評価も可能です｡
常時測定により劣化発生を把握可能
In-Situ常時測定を実施することにより製品の劣化状態及び劣化時間を確認できます。
1005サイズの形状から試験が可能
SMDパッケージ1005～6032サイズに対応した試験専用基板を準備しています｡
専用基板への実装も対応します｡
試験項目例
- 高温負荷試験（直流電圧）､高温放置試験
- 耐湿負荷試験(直流電圧)､耐湿放置試験
- 温度サイクル試験､はんだ耐熱性試験
- 絶縁抵抗劣化試験（自社製の抵抗連続モニター試験装置使用）
- 他､過電圧印加･逆電圧印加 等､
必要に応じて対応致します｡