海外製液晶ディスプレイ製品が使用され、信頼性に問題を抱えるお客様が増えています。
アイテスは信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルでご支援いたします。
LCD製品の信頼性試験
信頼性の低い液晶ディスプレイが市場で問題を起こしています。
アイテスは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから、試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。
さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析までご支援いたします。
LCD製品の不具合解析
| 故障モード | 関連領域 | 分析・解析対象 | 主な手法 |
| 点欠陥 | TFTトランジスタ | ・TFT特性 ・TFT構造、TFT異物 | ・半導体パラメータアナライザ ・FIB/SEM断面観察 ・断面TEM観察 ・TEM/EDS分析 |
| 線欠陥 | 信号線・ゲート線 駆動部 | ・ドライバーIC接続部 ・配線腐食 ・表面汚染 | ・接続部断面SEM観察 ・イオンクロマトグラフ分析 ・TOF-SIMS分析 |
面欠陥 、焼付き） | 液晶セル内汚染 | ・微小異物 ・液晶汚染 ・配向膜汚染 | ・FT-IR分析 ・LC/MS分析 ・GC/MS分析 ・TOF-SIMS分析 |
その他 （部品・材料） | バックライト ＰＣＢ 偏光板 シール材・封止剤 | ・ＬＥＤ故障 ・ＰＣＢ故障 ・偏光板、シート類異物 ・シール、封止剤劣化 | ・断面SEM観察 ・FT-IR分析 ・TOF-SIMS分析 |