液晶パネルのTFT特性評価 液晶パネルにおいて特定のTFTに対し、性能確認のための良品特性測定、不良特性測定や、信頼性評価することが出来ます。 TFTの各温度での電気特性測定 表示状態のモニターを解体し、パネル内の画素TFTに対して、電気特性測定が可能です。特性測定項目:Vg-Id、Vd-Idアニール前後, 光照射,加温や冷却下での測定も可能です。測定結果からIon、Ioff,Vth,移動度の指標を算出し、良品解析での実力値の確認や不良原因の解明を行います。 実パネルでの画素TFT測定例 事例:加温,冷却時のVg-Id測定 DCバイアスストレス試験 Gate,Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときのVthシフトを測定し、信頼性確認を行います。加速試験として、加温状態でも測定出来ます。複数のパネルメーカにて測定を行い、Vthシフト量を比較することで、優位判定も可能です。 室温でのDCバイアス測定 お問い合わせはこちらから 株式会社アイテス 品質技術部 TEL:077-599-5020 メールでのお問い合わせはこちらから