FIB(集束イオンビーム装置)を使用したTEM試料作製 リフトアウト法 特徴 ・通常の手法と比べ短時間(約1/2)で試料作製が可能 ・近接する個所でも試料作製可能 ・試料の前処理に水を使わない(ダイシングソー、機械研磨不要) リフトアウト法を用いた試料作成の概要 FIBでTEM観察個所を薄片化した後ガラスプローブで静電吸着して取り出す マイクロマニュピレーター外観図 薄片化試料をガラスプローブで取り出したところ 薄片化試料を支持膜付きのメッシュグリッドに固定する お問い合わせはこちらから 株式会社アイテス 品質技術部 TEL:077-599-5020 メールでのお問い合わせはこちらから