In-Situ
積層セラミックコンデンサ連続通電試験
故障モードをショート(短絡)と仮定して高温・高温高湿の環境下で直流電圧を連続通電しながら漏れ電流の変化を常時測定で把握する高温・高温高湿連続通電試験が可能です。 メーカー別、ロット別等の複数の製品の実力を比較する有効な手...
パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)
パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加可能です。リーク電流のモニタリングを行い、デバイスの劣化状況の推移が確認できます。 特徴 ・ 最大2000Vを印加してパワーデバ...
真贋調査(比較観察)
正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査します。(外観観察/開封観察/電気的特性測定/破壊・非破壊観察/信頼性試験/材料調査など。)...
パワーデバイスのHAST試験
MOSFET・IGBT等のパワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能です。漏れ電流をモニタリングを行い、デバイスの劣化状況の推移が確認できます。 特徴 ・最大1000Vを印加してパワーデバイスの...
コンデンサ高温負荷(直流連続)試験
受託試験 コンデンサ高温負荷(直流連続)試験のご紹介です。
タンタルコンデンサや積層セラミックコンデンサに高い温度・電圧を与えて信頼性評価を実施します。様々な温度・電圧条件に対応した高温負荷試験をご提案します。...
In-Situ 常時測定 信頼性評価試験サービス
受託試験 In-Situ常時測定 信頼性評価のご紹介です。
特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。
常時特性を測定しますので、故障発生を見落とすことがありません。...
低抵抗In-Situ常時測定試験
受託試験 低抵抗In-Situ常時測定試験のご紹介です。
信頼性試験環境下においてのストレスを印加しながら導通(低抵抗値)の変化を常時測定することが出来ます。多層基板や微細配線基板等の評価を行なうことがあります。...
イオンマイグレーション試験
受託試験 イオンマイグレーション試験のご紹介です。
製品の軽小短への推移によって事前評価としてますます重要な試験となってきています。評価の概略及び試験実施の内容及び使用している常時測定(In-Situ)装置の有用性について紹介します。...
装置